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A New CMOS Current Reference with High Order Temperature Compensation
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作者 周号 张波 +1 位作者 李肇基 罗萍 《Journal of Electronic Science and Technology of China》 2006年第1期8-11,共4页
A new high order CMOS temperature compensated current reference is proposed in this paper, which is accomplished by two first order temperature compensation current references. The novel circuit exploits the temperatu... A new high order CMOS temperature compensated current reference is proposed in this paper, which is accomplished by two first order temperature compensation current references. The novel circuit exploits the temperature characteristics of integrated-circuit resistors and gate-source voltage of MOS transistors working in weak inversion. The proposed circuit, designed with a 0.6 Izm standard CMOS technology, gives a good temperature coefficient of 31ppm/℃ [-50-100℃] at a 1.8V supply, and also achieves line regulation of 0.01%/V and-120dB PSR at 1 MHz. Comparing with other presented work, the proposed circuit shows better temperature coefficient and Line regulation. 展开更多
关键词 current reference temperature-compensation weak inversion poly resistor
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Curvature Compensated CMOS Bandgap Reference with Novel Process Variation Calibration Technique 被引量:1
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作者 Jiancheng Zhang Mao Ye +1 位作者 Yiqiang Zhao Gongyuan Zhao 《Journal of Beijing Institute of Technology》 EI CAS 2018年第2期182-188,共7页
A lowtemperature coefficient( TC) bandgap reference( BGR) with novel process variation calibration technique is proposed in this paper. This proposed calibration technique compensating both TC and output value of ... A lowtemperature coefficient( TC) bandgap reference( BGR) with novel process variation calibration technique is proposed in this paper. This proposed calibration technique compensating both TC and output value of BGR achieves fine adjustment step towards the reference voltage,while keeping optimal TC by utilizing large resistance to help layout match. The high-order curvature compensation realized by poly and p-diffusion resistors is introduced into the design to guarantee the temperature characteristic. Implemented in 180 nm technology,the proposed BGR has been simulated to have a power supply rejection ratio( PSRR) of 91 dB@100 Hz. The calibration technique covers output voltage scope of 0. 49 V-0. 56 Vwith TC of 9. 45 × 10^(-6)/℃-9. 56 × 10^(-6)/℃ over the temperature range of-40 ℃-120 ℃. The designed BGR provides a reference voltage of 500 mV,with measured TC of 10. 1 × 10^(-6)/℃. 展开更多
关键词 bandgap reference voltage process variation resistance-trimming current-calibration curvature compensation temperature coefficient
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New Curvature-Compensated CMOS Bandgap Voltage Reference 被引量:4
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作者 Lu Shen Ning Ning Qi Yu Yan Luo Chun-Sheng Li 《Journal of Electronic Science and Technology of China》 2007年第4期370-373,共4页
A novel curvature-compensated CMOS bandgap voltage reference is presented. The reference utilizes two first order temperature compensations generated from the nonlinearity of the finite current gain β of vertical pnp... A novel curvature-compensated CMOS bandgap voltage reference is presented. The reference utilizes two first order temperature compensations generated from the nonlinearity of the finite current gain β of vertical pnp bipolar transistor. The proposed circuit, designed in a standard 0.18 μm CMOS process, achieves a good temperature coefficient of 2.44 ppm/℃ with temperature range from --40℃ to 85 ℃, and about 4 mV supply voltage variation in the range from 1.4 V to 2.4 V. With a 1.8 V supply voltage, the power supply rejection ratio is -56dB at 10MHz. 展开更多
关键词 bandgap voltage reference CMOS curvature-compensation technique finite current gain.
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Bandgap engineering of hierarchical network-like SnIn4S8 microspheres through preparation temperature for excellent photocatalytic performance and high stability
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作者 Jie Wang Min Liu +5 位作者 Mei Wang Yi Wang Aiting Zhang Xiang Zhao Guisheng Zeng Fang Deng 《Green Energy & Environment》 SCIE CSCD 2019年第3期264-269,共6页
The effect of synthesis temperature and reaction time on the visible-light photocatalytic activity of hierarchical network-like SnIn4S8 microspheres was investigated by the low-temperature co-precipitation strategy. T... The effect of synthesis temperature and reaction time on the visible-light photocatalytic activity of hierarchical network-like SnIn4S8 microspheres was investigated by the low-temperature co-precipitation strategy. The preparation temperature and reaction time have great influence on the photocatalytic activity of SnIn4S8, and the optimal preparation temperature and reaction time are 70℃ and 3 h, respectively.The SnIn4S8 shows good reusability and high stability with no observable decrease of photocatalytic activity in five consecutive cycles. 展开更多
关键词 SnIn4S8 bandgap ENGINEERING Synthesis temperature REACTION time PHOTOCATALYTIC activity
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Trimmable bandgap reference circuit with exponential curvature compensation
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作者 Hong-Zhuan Chen Fei Chu +3 位作者 Wen-Tao Lu Tie-Liang Zhang Wen-Chang Li Wei Gao 《Journal of Electronic Science and Technology》 EI CAS CSCD 2023年第3期52-62,共11页
This paper proposes an improved exponential curvature-compensated bandgap reference circuit to exploit the exponential relationship between the current gainβof the bipolar junction transistor(BJT)and the temperature ... This paper proposes an improved exponential curvature-compensated bandgap reference circuit to exploit the exponential relationship between the current gainβof the bipolar junction transistor(BJT)and the temperature as well as reduce the influence of resistance-temperature dependency.Considering the degraded circuit performance caused by the process deviation,the trimmable module of the temperature coefficient(TC)is introduced to improve the circuit stability.The circuit has the advantages of simple structure,high linear stability,high TC accuracy,and trimmable TC.It consumes an area of 0.09 mm^(2)when fabricated by using the 0.25-μm complementary metal-oxide-semiconductor(CMOS)process.The proposed circuit achieves the simulated power supply rejection(PSR)of about-78.7 dB@1 kHz,the measured TC of~4.7 ppm/℃over a wide temperature range from-55℃to 125℃with the 2.5-V single-supply voltage,and the tested line regulation of 0.10 mV/V.Such a high-performance bandgap reference circuit can be widely applied in high-precision and high-reliability electronic systems. 展开更多
关键词 bandgap reference Exponential curvature compensation temperature coefficient(TC) Trimmable
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Auto-Test on Motor Temperature Rising in Electric Vehicles with Mutual MRAS 被引量:1
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作者 王志福 张承宁 《Journal of Beijing Institute of Technology》 EI CAS 2008年第4期395-399,共5页
A new method to calculate the motor temperature rising in electric vehicle (EV) is proposed based on the stator resistance identification. The measure theory of the motor temperature rising with the stator resistanc... A new method to calculate the motor temperature rising in electric vehicle (EV) is proposed based on the stator resistance identification. The measure theory of the motor temperature rising with the stator resistance is discussed at first. An enhanced magnetism motor dynamic math model is built which is the research object. Then the resistance identification system model is built on the mutual model reference adaptive,system (MRAS) theory. The simulation diagram of the mutual MRAS model is constructed and the resistance identification performance is studied in different motor states. Simulation results indicate that the stator resistance identification model with the mutual MRAS is effective. At the same time, the identification of motor temperature rising is possible with the identification of the stator resistance. 展开更多
关键词 electric vehicle (EV) motor's temperature rising model reference adaptive system (MARS) resistance identification
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高稳定性LDO集成电路设计
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作者 李亮 黄思仪 +3 位作者 宋惠安 钮小超 成珏飞 汪义旺 《中国集成电路》 2025年第1期59-64,共6页
本文设计了一款高稳定性的LDO集成电路,它具有输出稳定性高的优点。在考虑参数指标折中的条件下设计了性能可靠的带隙电压基准源电路和两级共源共栅误差放大器电路以及限流保护电路,通过调节各模块的参数来平衡LDO的性能。设计完成在UMC... 本文设计了一款高稳定性的LDO集成电路,它具有输出稳定性高的优点。在考虑参数指标折中的条件下设计了性能可靠的带隙电压基准源电路和两级共源共栅误差放大器电路以及限流保护电路,通过调节各模块的参数来平衡LDO的性能。设计完成在UMC 0.11μm工艺下,通过Cadence仿真与验证,结果表明设计的LDO在输入电压2V到5V间均可以稳定输出1.8V的电压值;温度系数为5.33ppm/℃;线性调整率为0.00012%/V;负载调整率为0.0173%/mA,显示出本设计的LDO线性稳压器性能优异,满足实际应用的需求。 展开更多
关键词 电源管理 LDO 带隙基准源 误差放大器 限流电路
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一种低温漂高精度分段温度补偿带隙基准源电路
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作者 王宇飞 杨艳 刘威 《电子设计工程》 2025年第2期1-6,共6页
基于TSMC 0.18μm CMOS工艺,提出了一种低温漂、高精度的分段温度补偿带隙基准源电路。该电路由启动电路、带隙基准核心电路和低温漂温度补偿电路组成。通过采用分段温度补偿方法,对一阶带隙基准电压温度曲线中的低温段和高温段分别进... 基于TSMC 0.18μm CMOS工艺,提出了一种低温漂、高精度的分段温度补偿带隙基准源电路。该电路由启动电路、带隙基准核心电路和低温漂温度补偿电路组成。通过采用分段温度补偿方法,对一阶带隙基准电压温度曲线中的低温段和高温段分别进行补偿,从而显著降低了基准电压的温度系数,最终实现了低温度系数和高精度的带隙基准电压输出。仿真结果表明,当温度从-40℃变化至125℃时,采用分段温度补偿后的带隙基准电压温度系数大幅减小,从15.47×10^(-6)减小为1.141×10^(-6),有效提高了温度稳定性和电压精度。 展开更多
关键词 带隙基准源 分段温度补偿 低温度系数 高精度
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基于ASL1000的Bandgap Trim 设计及其算法研究 被引量:2
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作者 付贤松 马富民 +2 位作者 田会娟 杜桥 罗涛 《固体电子学研究与进展》 CAS 北大核心 2019年第1期54-58,76,共6页
在芯片生产过程中,由于工艺的影响,带隙基准电压V_(BG)会存在偏差。在芯片测试阶段,需要对V_(BG)进行trim修调,使其满足芯片参数要求。简要分析了带隙基准电压误差的来源,提出了一种E-Fuse修调电路,通过程序中的代码控制修调电阻的大小,... 在芯片生产过程中,由于工艺的影响,带隙基准电压V_(BG)会存在偏差。在芯片测试阶段,需要对V_(BG)进行trim修调,使其满足芯片参数要求。简要分析了带隙基准电压误差的来源,提出了一种E-Fuse修调电路,通过程序中的代码控制修调电阻的大小,使V_(BG)满足要求。同时,在该修调电路的基础上,采用了一种新型算法,使得测试芯片V_(BG)的时间缩短了近558 ms,减少了测试时间,降低了测试成本。 展开更多
关键词 带隙基准电压 E-Fuse 修调电路 算法
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一种高PSRR低温漂无运放带隙基准
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作者 王凯 张方晖 +2 位作者 杨旭 王义晨 李梓腾 《现代电子技术》 北大核心 2024年第23期171-175,共5页
针对无运放带隙基准电压源温度特性及电源抑制比差的问题,设计一种高电源抑制比、低温漂的无运放带隙基准电路。该电路通过电流镜进行钳位,避免运算放大器失调电压对输出基准的影响,利用晶体管栅极与三极管基极生成稳定的补偿电流,以降... 针对无运放带隙基准电压源温度特性及电源抑制比差的问题,设计一种高电源抑制比、低温漂的无运放带隙基准电路。该电路通过电流镜进行钳位,避免运算放大器失调电压对输出基准的影响,利用晶体管栅极与三极管基极生成稳定的补偿电流,以降低基准电压的高阶温度系数,输出端采用共源共栅结构提高电源抑制比。基于SMIC 0.18μm BCD工艺在Cadence环境下对电路进行仿真,仿真结果表明:在-40~125℃范围内,电路的温度系数为3.187×10^(-6)/℃,10 Hz时电源抑制比为-88.6 dB,1 MHz时电源抑制比为-50.2 dB。在考虑启动电路影响的情况下,电路在5 V电源下的静态电流为3.78μA,带隙基准的版图面积为160μm×183μm。可实现对基准电压高阶温度项的补偿,降低温度系数,并在没有滤波电容的条件下提高带隙基准的PSRR。 展开更多
关键词 带隙基准 无运放 电源抑制比 温度系数 补偿电流 启动电路
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封装应力对Bandgap电压的影响及其解决办法
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作者 汪秀全 《中国集成电路》 2018年第11期67-71,共5页
随着器件小型化,封装应力对电性能的影响越来越受到重视。应力对芯片电气性能影响主要表现在测试参数的偏移甚至失效。Bandgap设计的参考电压具有精度高、温漂小等特点。Bandgap精度越高对外部应力越敏感。作者通过对封装体开盖前后测... 随着器件小型化,封装应力对电性能的影响越来越受到重视。应力对芯片电气性能影响主要表现在测试参数的偏移甚至失效。Bandgap设计的参考电压具有精度高、温漂小等特点。Bandgap精度越高对外部应力越敏感。作者通过对封装体开盖前后测试参数的比较发现,封装应力是造成产品参考电压漂移的主要原因。他们通过统计分析得出封装应力对复位电压有10mV的影响,可以通过修改bandgap的α值设计,修改修调程序以后器件复位电压分布的中心值回到2.63V期望值附近,测试良率因此得到提高。 展开更多
关键词 封装应力 bandgap 零温漂设计 电压修调
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一种电源管理芯片的高精度过温保护电路设计 被引量:1
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作者 都文和 徐正 +2 位作者 康嘉浩 杨轲 潘靖雪 《电子科技》 2024年第9期79-86,共8页
电源管理芯片在超过可承受温度范围工作时会对自身造成不同程度的损坏,过温保护电路对提高该类芯片的可靠性和鲁棒性具有重要作用。文中设计了一种具有温度过高关断和温度过低提醒等双重功能的高精度过温保护电路。利用正、负温度系数... 电源管理芯片在超过可承受温度范围工作时会对自身造成不同程度的损坏,过温保护电路对提高该类芯片的可靠性和鲁棒性具有重要作用。文中设计了一种具有温度过高关断和温度过低提醒等双重功能的高精度过温保护电路。利用正、负温度系数电压对芯片温度进行实时检测,并与带隙基准电路输出端的不同基准电压分别进行比较得到4个逻辑翻转点,进而通过高精度比较器电路和迟滞逻辑电路处理后,输出迟滞逻辑信号来控制芯片的工作状态或进行温度过低提醒。基于0.18μm BCD(Bipolar-Complementary Metal Oxied Semiconductor-Double diffused Metal Oxide Semiconductor)工艺设计并完成了相关仿真验证,仿真结果表明,在电源电压范围为3.0~5.5 V时,该电路输出端的迟滞逻辑翻转信号对应的温度阈值最大偏移量在0.3℃以内,具备较高的精度,可广泛集成于各种需要过温保护功能的电源管理芯片。 展开更多
关键词 电源管理芯片 过温保护 高精度 双重功能 带隙基准 温度检测 比较器 迟滞逻辑
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有效减小大细长比微结构电铸层残余应力的兆声辅助微电铸方法
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作者 杜立群 蔡小可 +2 位作者 郭柄江 王帅 聂伟荣 《微纳电子技术》 CAS 2024年第11期138-146,共9页
在利用微电铸工艺制作微机电系统(MEMS)开关的过程中,针对离心保险锁结构因电铸层残余应力大而出现翘曲、扭转等变形问题,采用兆声辅助微电铸方法减小电铸层残余应力。为探究兆声波对电铸层残余应力的影响,基于等效参考温度(ERT)法,建... 在利用微电铸工艺制作微机电系统(MEMS)开关的过程中,针对离心保险锁结构因电铸层残余应力大而出现翘曲、扭转等变形问题,采用兆声辅助微电铸方法减小电铸层残余应力。为探究兆声波对电铸层残余应力的影响,基于等效参考温度(ERT)法,建立兆声作用下离心保险锁微结构电铸层残余应力的仿真模型以优选兆声辅助微电铸的工艺参数——兆声功率密度。仿真结果表明,随着兆声功率密度的增大,离心保险锁的残余应力呈现先减小后增大的趋势,当兆声功率密度为2.54 W/cm^(2)时,离心保险锁的最大残余应力为52.58 MPa,相较于无兆声作用时减小了85.4%。在数值模拟的基础上进行微电铸实验验证研究。实验结果表明:兆声功率密度为2.54 W/cm^(2)时,大细长比微结构的变形量减小了88.6%,实验结果与仿真结果一致。在上述仿真结果和实验研究的基础上,制作出了高800μm、细长比高达1∶70的离心保险锁结构,并完成MEMS开关的制作与装配。 展开更多
关键词 兆声 微电铸 残余应力 大细长比微结构 等效参考温度(ERT)法
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一种新颖的带隙基准源二阶曲率补偿结构
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作者 程亮 《山西电子技术》 2024年第6期6-8,27,共4页
通过对三极管基极发射极电压V_(BE)温度特性的深入研究,推导出V_(BE)电压中与绝对温度相关的线性项和高次项函数关系。在此基础上,设计了一种能产生与绝对温度的平方成正比例电流的电路,把该电流叠加到传统带隙基准源上,达到进一步减小... 通过对三极管基极发射极电压V_(BE)温度特性的深入研究,推导出V_(BE)电压中与绝对温度相关的线性项和高次项函数关系。在此基础上,设计了一种能产生与绝对温度的平方成正比例电流的电路,把该电流叠加到传统带隙基准源上,达到进一步减小温度系数的目的。采用CSMC 0.18um标准CMOS工艺进行仿真,得到二阶曲率补偿后的基准源温度系数为8.8 ppm/℃。 展开更多
关键词 带隙基准源 温度系数 二阶曲率补偿 与温度无关电流
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一种采用分段温度补偿的低温漂带隙基准源 被引量:1
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作者 席银征 李楠 刁节涛 《微电子学与计算机》 2024年第1期118-125,共8页
提出了一款宽温度范围、低温漂系数的带隙基准源。以Banba结构的带隙基准源作为核心电路,产生开口向下的抛物线状输出基准电压,将抛物线顶点向高温段移动,使输出基准电压的高温段趋于平缓,利用分段温度补偿技术对低温段进行曲率补偿,补... 提出了一款宽温度范围、低温漂系数的带隙基准源。以Banba结构的带隙基准源作为核心电路,产生开口向下的抛物线状输出基准电压,将抛物线顶点向高温段移动,使输出基准电压的高温段趋于平缓,利用分段温度补偿技术对低温段进行曲率补偿,补偿电流由不同温度系数的电流相减产生,有效降低了温漂系数,并拓宽了带隙基准源工作的温度范围。在0.18μm的标准互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺下进行电路性能验证,仿真结果表明,在-50~150℃的温度范围内,提出的带隙基准源的温漂系数为0.65 ppm/℃,在1.8 V的电源电压下输出电压为760 mV,版图面积仅为0.01 mm^(2)。 展开更多
关键词 带隙基准源 分段温度补偿 温漂系数 宽温度范围 互补金属氧化物半导体(CMOS)
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高邮灌区参考作物腾发量预报模型研究 被引量:1
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作者 刘梦 仇锦先 +3 位作者 张秝湲 王洁 丁奠元 刘博 《灌溉排水学报》 CAS CSCD 2024年第4期28-33,49,共7页
【目的】探索高邮灌区的参考作物腾发量(ET_(0))预报方法,提升灌溉预报精度。【方法】基于高邮灌区2003—2017年实测气象数据及2016—2017年气温预报数据,以FAO-56 Penman-Monteith(PM)计算的ET_(0)为基准,将气温预报数据代入率定后的Bl... 【目的】探索高邮灌区的参考作物腾发量(ET_(0))预报方法,提升灌溉预报精度。【方法】基于高邮灌区2003—2017年实测气象数据及2016—2017年气温预报数据,以FAO-56 Penman-Monteith(PM)计算的ET_(0)为基准,将气温预报数据代入率定后的Blaney-Criddle(BC)、Hargreaves-Samani(HS)、McCloud(MC)和简化的PM(PMT)模型,比较不同模型的ET_(0)预报精度。【结果】基于上述4种模型进行ET_(0)预报时,1~7 d预见期的平均均方根误差分别为1.07、1.00、1.16、0.99 mm/d,绝对误差平均值分别为0.85、0.74、0.94、0.75 mm/d,相关系数平均值分别为0.79、0.81、0.76、0.81。【结论】HS和PMT模型的预报精度最好,优于BC和MC模型,MC模型的预报精度最差。建议采用率定后的HS和PMT模型对高邮灌区ET_(0)进行预报。 展开更多
关键词 参考作物腾发量 气温预报 灌溉
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基于驯服钟控技术的时间频率源设计
17
作者 张驿 陈凌 袁田 《电子质量》 2024年第3期36-40,共5页
标准时间频率信号是系统高效工作的基石,越来越高的时间频率测量精度对时频信号的产生提出了高稳定高准确度的要求。介绍了时间频率源的基本概念,阐述了一种基于驯服钟控技术的高稳定度高准确度时间频率源的基本工作原理及其设计,其输... 标准时间频率信号是系统高效工作的基石,越来越高的时间频率测量精度对时频信号的产生提出了高稳定高准确度的要求。介绍了时间频率源的基本概念,阐述了一种基于驯服钟控技术的高稳定度高准确度时间频率源的基本工作原理及其设计,其输出的频率信号短期稳定度可达1.46×10-13/s。该设计方案已经成功应用于多个车载测控通信系统。 展开更多
关键词 驯服钟控 时间频率基准 恒温晶振 工作原理 设计
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基于带隙基准的改进型像元共享CTIA红外读出电路设计
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作者 王坤 关晓宁 +5 位作者 康智博 张凡 张焱超 邓旭光 周峰 芦鹏飞 《激光技术》 CAS CSCD 北大核心 2024年第6期816-821,共6页
为了提高红外读出电路动态范围、增强红外成像质量,加入暗电流抑制模块电路,设计了一种四像元分时共享的电容反馈跨阻放大器(CTIA)和带隙基准源相互配合的高性能红外读出电路。通过带隙基准源产生两个基准电压586 mV和293 mV,其中293 m... 为了提高红外读出电路动态范围、增强红外成像质量,加入暗电流抑制模块电路,设计了一种四像元分时共享的电容反馈跨阻放大器(CTIA)和带隙基准源相互配合的高性能红外读出电路。通过带隙基准源产生两个基准电压586 mV和293 mV,其中293 mV基准电压值的温漂系数达到1.49×10-6/℃,可对分流管的栅极和源极提供稳定的电压偏置,实现对暗电流的精准撇除。结果表明,该电路可实现电流信号从10 pA~10 nA宽动态范围的积分电压读出,读出数据通过线性拟合,拟合优度R 2达到0.9992,说明电路性能良好。此研究未来可应用到线列和面阵的红外探测器中。 展开更多
关键词 探测器 读出电路 暗电流抑制 像元共享 带隙基准
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体硅CMOS工艺下一种带隙基准的单粒子辐射特性分析
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作者 文溢 陈建军 +3 位作者 梁斌 池雅庆 邢海源 姚啸虎 《国防科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第4期169-174,共6页
为了分析带隙基准(bandgap reference,BGR)在太空环境等极端条件下的单粒子辐射特性,分别在65 nm和28 nm体硅CMOS工艺下设计实现了一款BGR试验芯片,并采用脉冲激光单粒子模拟试验研究了其单粒子辐射特性。试验结果发现,当脉冲激光能量... 为了分析带隙基准(bandgap reference,BGR)在太空环境等极端条件下的单粒子辐射特性,分别在65 nm和28 nm体硅CMOS工艺下设计实现了一款BGR试验芯片,并采用脉冲激光单粒子模拟试验研究了其单粒子辐射特性。试验结果发现,当脉冲激光能量足够高时,BGR的输出电压显著增加,且退火后电压不能恢复,表明BGR发生了单粒子硬损伤(single-event hard damage,SHD),进一步的试验研究证明BGR中的三极管是诱发SHD的敏感器件。该研究为在体硅CMOS工艺下对BGR进行抗SHD加固设计提供了重要理论参考。 展开更多
关键词 带隙基准 单粒子硬损伤 脉冲激光试验 体硅CMOS工艺
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一种采用高阶曲率补偿的带隙基准源
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作者 黄朝轩 李现坤 魏敬和 《电子技术应用》 2024年第10期7-13,共7页
基于0.18μm BCD工艺,提出了一种具有较低温度系数的高阶曲率补偿带隙基准源。在基本Kuijk带隙基准的结构基础上,利用VBE线性化法来进行高阶曲率补偿,同时保证流过补偿双极晶体管的电流也得到高阶补偿,两次高阶补偿使得带隙基准源的温... 基于0.18μm BCD工艺,提出了一种具有较低温度系数的高阶曲率补偿带隙基准源。在基本Kuijk带隙基准的结构基础上,利用VBE线性化法来进行高阶曲率补偿,同时保证流过补偿双极晶体管的电流也得到高阶补偿,两次高阶补偿使得带隙基准源的温度系数更低。根据仿真结果,该带隙基准电压在-55℃~125℃温度范围内,输出电压的最大压差为0.3766 mV,温度系数为1.762 ppm/℃,低频时电源抑制比(PSRR)为-73.9 dB。该带隙基准源已应用于某一高精度的低压差线性稳压器(LDO)中。 展开更多
关键词 带隙基准源 高阶曲率补偿 温度系数 电源抑制比 VBE线性化
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