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X-射线能谱分析实践 被引量:1

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摘要 一般常用的X射线能谱范围内,Si(Li)探测器分辨率较晶体分光低一个数量级,谱线的重叠现象更为普遍。如何辨认和处理能谱谱线的重叠是保证能谱分析中定性分析的准确性和减少定量分析误差的关键。
作者 李桢熙
出处 《岩矿测试》 CAS 1988年第2期151-151,I0014,共2页 Rock and Mineral Analysis
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