摘要
红外热像仪焦平面由于材料、工艺、以及使用环境等原因不可避免地会存在坏元。首先在分析坏元红外图像特征的基础上,使用实际采集的红外图像,以5×5大小的窗口对所有焦平面像元进行逐一检测;其次通过分别计算像元基于灰度水平和基于灰度方向变化率的坏元隶属度,得到了坏元检测判据;最后以实例检测验证了该方法的有效性。
Due to materials,process and use environment,bad pixels exist in the focal plane of infrared thermal imager.Firstly,according to the analysis of infrared image characteristics of bad pixels and using collected IR picture,the pixels of the focal plane are detected one by one with a5×5window.Secondly,the bad pixel detection criterion is obtained through calculating the bad pixel membership degree based on the change of gray level and direction.Finally,the validity of the method is proved by an example.
作者
阳平
张辉
YANG Ping;ZHANG Hui(92941 Army Unit, Huludao 125001, China)
出处
《光电技术应用》
2017年第6期81-84,共4页
Electro-Optic Technology Application
关键词
红外热像仪
焦平面
坏元
infrared thermal imager
focal plane
bad pixel
作者简介
阳平(1985-),男,博士,工程师,研究方向为光电试验;张辉(1966-),男,学士,高级工程师,研究方向为光电试验.
