摘要
针对集成电路测试中测试数据量过大的问题,提出一种改进型EFDR编码压缩方法。该方法保留了原EFDR编码中可同时对0游程和1游程编码的优点,同时将相邻组别游程的编码长度之差缩减为1位,使游程的编码长度更符合游程在实际测试数据中的出现频率,提高了编码效率。在解码方面,编码后的码字经过简单的数学运算即可恢复得到原测试数据的游程长度,因此解码电路具有较小的硬件开销。实验结果表明,本方法的平均压缩率为68.01%,在保持较小硬件解码开销的同时,具有较高的测试数据压缩率。
Focused on the issue that the data size of IC test data is too large,an improved EFDR（extended frequency-directed run-iength） code compression method is presented in this paper.The method retains the merit of EFDR code,which could encode both runs of 0 s and runs of 1 s in test data stream.At the same time,the difference of runs coding length between adjacent groups is reduced to 1 bit,which could make the runs coding length more in line with the runs frequency in actual test data and improve the compression ratio.For the decompression,according to the size of the codeword,we could get the run length of the original test data with a simple mathematical operation.Thus,the decompression circuit can keep in a low hardware cost level.The experimental result shows that the average compression rate of the proposed scheme can achieve 68.01%.With a lower hardware cost,the scheme can get a higher compression ratio.
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
北大核心
2015年第10期1464-1471,共8页
Journal of Electronic Measurement and Instrumentation
基金
国家自然科学基金(61472123)资助项目
作者简介
邝继顺，1959年出生，博士研究生，湖南大学信息科学与工程学院教授，博士生导师。主要研究方向为SOC测试与设计。E-mail：jshkuang@hotmail．com周颖波，1984年出生，湖南大学信息科学与工程学院博士研究生，主要研究方向为集成电路测试数据压缩。E-mail：zhoubobo@163．com蔡烁，1982年出生，博士研究生，讲师，主要研究方向为容错设计。E-mail：csustcs4002@163．com皮霄林，1987年出生，硕士研究生，主要研究方向为集成电路测试数据压缩。E-mail：pixiaolin1987@163．com
