摘要
概述了纳米压痕技术测量构件残余应力方面的理论知识,回顾了纳米压痕技术的测量原理,包括硬度、接触面积、接触刚度及弹性模量的计算。将纳米压痕测试计算残余应力的模型分为两大类,并重点对以载荷-位移曲线为依据推导出的残余应力计算模型(如Suresh、Lee、Swadener等模型)的分析过程以及它们在实际应用上的优缺点进行了介绍,同时展望了纳米压痕法测量残余应力未来的发展方向。
The theories of using nanoindetation technique to measure the residual stress in components are summarized, and the nanoindetation measurement principles of hardness, contact area, contact stiffness and Youngrs modulus are reviewed. The nanoindentation testing residual stress calculation models are divided into two types. The residual stress models derived from load-depth curves, such as Suresh, Lee and Swadener models are introduced in detail. The advantages and shortcomings of these models are also discussed. The development of nanoindentation methods for measuring residual stresses is forecasted.
出处
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第3期107-113,共7页
Materials Reports
基金
北京市自然科学基金重大项目(3120001)
国家自然科学基金(51275105)
国家杰出青年科学基金(51125023)
关键词
残余应力
纳米压痕
硬度
计算模型
residual stress
nanoindentation
hardness
calculation model
作者简介
董美伶：女，1989年生，硕士生，研究方向为纳米压痕测试技术 E-mail：929969599@qq.com
王海斗：通讯作者，男，1969年生，教授，从事表面工程、再制造的寿命预测等研究 E-mail：wanghaidou@aliyun.com
