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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定小麦粉中硼元素本底值 被引量:9

Background Value of Boron in Wheat Flour as Determined by ICP-AES
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摘要 为给小麦粉质量安全检测提供本底值判断依据,本实验使用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定了2012年我国不同区域种植的492份自磨小麦粉的硼含量,旨在为小麦粉质量安全检测提供本底值判断依据。结果表明:492份自磨小麦粉硼元素的本底值平均为0.648mg/kg,变幅为0.2401.361mg/kg,符合正态分布,95%概率条件下的置信区间值为0.261-1.035mg/kg,置信区问最大值1.035mg/kg,可作为运用ICP-AES法时所有小麦粉样品的硼元素本底值。 Boron background values in foods are important to judge the proper amount of borax or boric acid. A total of 492 flour samples milled from wheat collected from different growing areas in China during the crop year 2012 were determined by ICP-AES for boron content. The average background value of boron in these wheat flour samples was 0.648 mg/kg and the variation range was 0.240-1.361 mg/kg, following normal distribution. The 95% confidence interval for the wheat flour samples was 0.261-1.035 mg/kg, whereas the maximum confidence value was 1.035 mg/kg. Accordingly the data obtained in this study can be seen as background values of boron element in wheat flour samples.
出处 《食品科学》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第18期203-205,共3页 Food Science
基金 农业部农产品质量安全普查项目(20121902)
关键词 小麦粉 本底值 硼砂 硼酸 boron wheat flour background value borax boric acid
作者简介 陆美斌(1979-),女,助理研究员,硕士,研究方向为农产品质量安全检测技术与风险评估。E-mail:lmbxl@hotmail.com 通信作者:王步军(1960-),男,研究员,博士,研究方向为农产品质量与食物安全。E-maihwangbj@mail.caas.net.cn
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