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高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述 被引量:20

Overview of HALT & HASS
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摘要 高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT&HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT&HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。 The Highly Accelerated Life Test(HALT) and Highly Accelerated Stress Screening(HASS) are new reliability techniques that are growing continuously in these days.In this paper,the HALT HASS are compared with traditional reliability tests with focuses on its concept,characteristics,and procedures in testing.
作者 樊强
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2011年第4期58-62,共5页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
作者简介 樊强彩(1981-),男,四川成都人,从事环境试验工作。
  • 相关文献

参考文献3

  • 1祝耀昌.国外典型电子产品HALT和HASS结果浅析[c]//国防科技工业可靠性技术交流会论文集.2003:779-786.
  • 2祝耀昌.高效强应力筛选方法[c]//产品环境工程论文集.2008:70-80.
  • 3可靠性实用指南[M].北京:北京航空航天大学出版社,2004.

共引文献1

同被引文献137

引证文献20

二级引证文献79

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