摘要
测试性和B IT设计是提高装备可靠性与维修性的重要技术手段。本文分析了发射装置维修和测试方案,叙述了发射装置发控系统的测试性设计技术,特别是提出了按整机、组件、电路板三级结构层次配置测试点的方案。
Testability and BIT technique is an important approach to improve reliability and maintainability of weapons. In this paper, on the basis of analyzing the scheme of launcher test and maintenance, the design technique of testability on launcher control system is presented. Especially, the test point layout based on the three levels： the whole product, assembly and circuit board is presented.
出处
《航空兵器》
2007年第5期26-29,共4页
Aero Weaponry
作者简介
赵月琴（1963-），女，河南洛阳人，研究员，研究方向是导弹发控技术。
