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X射线荧光光谱法在光谱半定量分析中的应用 被引量:3

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摘要 采用粉末压片制样,对样品进行10°~148°2θ扫描测定,根据其角度不同定性,依据其强度大小定量,结合软件中的库样品成分,给出半定量结果。方法经大批样品的分析验证,其分析结果可靠,方法的检出限、精密度、准确度均满足质量管理的要求。
出处 《内蒙古科技与经济》 2012年第2期130-131,共2页 Inner Mongolia Science Technology & Economy
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