摘要
红外探测器的低频噪声是制约器件能否应用于空间遥感的关键因素之一.本文测试了典型的铟镓砷(InGaAs)红外探测器的低频噪声,测试结果表明器件的Hooge系数αH=2×10-5~7×10-5,噪声拐点较大.讨论了暗电流与器件低频噪声的关系,比较了不同钝化工艺研制的器件的低频噪声,结果表明通过加强表面钝化工艺可有效地降低器件的低频噪声.
出处
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第z1期3397-3399,共3页
Journal of Functional Materials
作者简介
黄杨程(1977-),男,广东佛山人,在读博士,2002年于湖南大学获工学硕士学位,现在中国科学院上海技术物理研究所光传感器国家重点实验室,从事红外传感器的研究.(E-mail:huangyangcheng@sohu.com) 通讯作者