通过自蔓延燃烧法制备Sm掺杂的CeO_(2)基材料,研究前驱粉体进行不同低温烧结热处理及改变压强对Ce 0.9 Sm 0.1 O_(2)-δ(SDC)电解质电学性能的影响,并分别用X射线衍射、扫描电子显微镜和交流阻抗谱研究不同控制变量下样品的相组成、微...通过自蔓延燃烧法制备Sm掺杂的CeO_(2)基材料,研究前驱粉体进行不同低温烧结热处理及改变压强对Ce 0.9 Sm 0.1 O_(2)-δ(SDC)电解质电学性能的影响,并分别用X射线衍射、扫描电子显微镜和交流阻抗谱研究不同控制变量下样品的相组成、微观结构和SDC电解质的电学性能.结果表明,当烧结温度升高时,SDC样品的平均粒径显著增加,烧结温度和压强不影响样品晶胞参数的变化.与晶粒电导率相比,改变烧结温度和压强对晶界电导率的影响更明显.展开更多
文摘通过自蔓延燃烧法制备Sm掺杂的CeO_(2)基材料,研究前驱粉体进行不同低温烧结热处理及改变压强对Ce 0.9 Sm 0.1 O_(2)-δ(SDC)电解质电学性能的影响,并分别用X射线衍射、扫描电子显微镜和交流阻抗谱研究不同控制变量下样品的相组成、微观结构和SDC电解质的电学性能.结果表明,当烧结温度升高时,SDC样品的平均粒径显著增加,烧结温度和压强不影响样品晶胞参数的变化.与晶粒电导率相比,改变烧结温度和压强对晶界电导率的影响更明显.
