科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可升级特性和模块化结构

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《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第9期696-696,共1页

关键词 模块化结构 SOC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度

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工程验证测试系统加速高量产消费器件的面市时间

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作者 Richard Gaunt 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期47-48,共2页

关键词 工程验证测试系统 高量产集成电路 复杂度 面市时间

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科利登在西安举办系列技术研讨年会

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《电子测量技术》 2006年第3期95-95,共1页

关键词 技术研讨 西安 RFID芯片 IC测试 测试方法 ATE 收发器

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IC测试原理 被引量：7

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作者 许伟达 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第4期284-286,共3页

关键词 测试原理 IC测试 生产过程 芯片开发 常用术语 基本因素

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IC测试原理-芯片测试原理 被引量：5

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作者 许伟达 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第7期512-514,519,共4页

关键词 测试原理 芯片测试 IC 生产过程 芯片开发 逻辑芯片 原理应用 混合信号 无线芯片 存储器

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IC测试原理-存储器和逻辑芯片的测试 被引量：4

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作者 许伟达 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第5期350-352,349,共4页

关键词 存储器芯片 逻辑芯片 测试原理 IC 数字信息 芯片测试 特定条件 操作代码 数据文件

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使用Sapphire S系列D-3208选件卡来应对高速串行总线的挑战

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《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第3期207-208,共2页

科利登扩展了产品范围覆盖所有针对多种高速总线测试的数字解决方案。科利登SapphireS系列D-3208数字选件能为各种总线接口测试提供极大的父活性和先进的测试能力，速率可达千兆赫兹，不管是超速转送总线（Hyper Transport），数字虚拟... 科利登扩展了产品范围覆盖所有针对多种高速总线测试的数字解决方案。科利登SapphireS系列D-3208数字选件能为各种总线接口测试提供极大的父活性和先进的测试能力，速率可达千兆赫兹，不管是超速转送总线（Hyper Transport），数字虚拟接121（DVI），并行输入／输出（I／O）总线，高清晰度的多媒体接口（HDMI）和基于仪器协议扩展总线（PB Iextension）等高速总线还是周边元件接口加速总线（PCI Express），串行先进技术配置总线（SATA），附属单元接口（XAUI），同步光纤网络接口（Sonet）和完全缓冲双内存模块（FBDIMM）等嵌入时钟串行总线， 展开更多

关键词 高速串行总线 ES系列 接口测试 扩展总线 输入/输出 多媒体接口 总线测试 产品范围 测试能力 数字虚拟

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IC测试原理-射频/无线芯片测试基础

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作者 许伟达 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第8期588-590,602,共4页

关键词 芯片测试 测试原理 无线芯片 射频 IC 生产过程 芯片开发 逻辑芯片 混合信号

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使用ATE自定制处理器和时序芯片降低测试成本

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作者 Brian Arkin 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第11期51-52,70,共3页

简介 一般来说,测试设备占地面积大,功耗大,并产生很大的热量需要及时冷却.自动测试设备的机械结构,功耗以及设备制冷都需要很高的成本.然而,如果能把ATE的多种功能高度集成到一块芯片上,就能大大降低上述成本.通过这种高度集成,还能减... 简介 一般来说,测试设备占地面积大,功耗大,并产生很大的热量需要及时冷却.自动测试设备的机械结构,功耗以及设备制冷都需要很高的成本.然而,如果能把ATE的多种功能高度集成到一块芯片上,就能大大降低上述成本.通过这种高度集成,还能减少使用的元器件数目,PCB板面积,电源消耗,组装调试成本以及失效率. 展开更多

关键词 测试成本 ATE 芯片 处理器 自动测试设备 时序 定制 占地面积 高度集成

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成功客户服务模式的秘诀

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《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第12期42-43,共2页

关键词 客户服务模式 SYSTEMS 硬件支持 有限公司 投资回报 生产力

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用于零中频器件的新测试方法

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作者 John Lukez 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第12期47-49,共3页

不断提高的集成度在无线设计中的普及,要求必须开发新的测试方法以应对由此带来的测试挑战。本文将讨论使用误差矢量幅度(EVM)和其它测试方法量测系统性能以达到既减少测试时间又降低复杂度的目的,同时还提供一个强有力的解决方案,用于... 不断提高的集成度在无线设计中的普及,要求必须开发新的测试方法以应对由此带来的测试挑战。本文将讨论使用误差矢量幅度(EVM)和其它测试方法量测系统性能以达到既减少测试时间又降低复杂度的目的,同时还提供一个强有力的解决方案,用于完整的量测器件射频性能。 展开更多

关键词 零中频器件 测试方法 误差矢量幅度 射频性能 无线局域网 收发器结构

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不断壮大的无线通信市场挑战无线测试技术

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《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第2期143-145,共3页

无线测试技术目前正走到一个从未有过的十字路口，主要是由以下诸多因素引起的：●新的无线通信标准◆WiMax（802．16）◆UWB（Ultra-wideband）◆802.

关键词 无线通信标准 测试技术 通信市场 十字路口 多因素

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Credence带来革命性的测试经济化

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《电子测量技术》 2005年第4期63-63,共1页

作为一款高产能的测试解决方案，Sapphire D-10的专门设计致力于微控制器，无线基带，显示驱动以及消费类混合信号器件的低成本测试。此系统还可用于200Mbps的圆片测试，支持很高并行度的封装测试。

关键词 测试解决方案 经济化 革命性 e带 微控制器 混合信号 显示驱动 封装测试 消费类

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