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用于零中频器件的新测试方法

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摘要 不断提高的集成度在无线设计中的普及,要求必须开发新的测试方法以应对由此带来的测试挑战。本文将讨论使用误差矢量幅度(EVM)和其它测试方法量测系统性能以达到既减少测试时间又降低复杂度的目的,同时还提供一个强有力的解决方案,用于完整的量测器件射频性能。
作者 John Lukez
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第12期47-49,共3页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

参考文献2

  • 1In-Stat/ MDR 2003 .
  • 2A Loke, F Ali, "Direct Conversion Radio for Digital Mobile Phones - Design Issues, Status, Trends,"IEEE Trans. Microwave Theory Tech, vol 50, pp.2422-2435, November 2002.

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