以程序性细胞死亡1(programmed cell death 1,PD-1)免疫检查点阻断为代表的新型肿瘤免疫治疗,在临床上已经取得了突破性进展。然而,仍然有很多肿瘤患者对免疫检查点的治疗不响应。因此,进一步探讨免疫检查点的作用机制有助于口腔鳞状细...以程序性细胞死亡1(programmed cell death 1,PD-1)免疫检查点阻断为代表的新型肿瘤免疫治疗,在临床上已经取得了突破性进展。然而,仍然有很多肿瘤患者对免疫检查点的治疗不响应。因此,进一步探讨免疫检查点的作用机制有助于口腔鳞状细胞癌的治疗。本文综述了部分共抑制免疫检查点信号的表达及其机制,并讨论将其作为口腔鳞状细胞癌的免疫治疗靶点的可能。展开更多
目的:研究不同能量密度下Nd:YAG激光照射对牙本质粘接强度的影响。方法:36颗无龋第三磨牙去除冠方牙釉质,随机分为3组:对照组低能量密度激光照射组(1W,85J/cm2)和高能量密度激光照射组(4W,350J/cm2)。每组牙再随机分为两个亚组,分别使...目的:研究不同能量密度下Nd:YAG激光照射对牙本质粘接强度的影响。方法:36颗无龋第三磨牙去除冠方牙釉质,随机分为3组:对照组低能量密度激光照射组(1W,85J/cm2)和高能量密度激光照射组(4W,350J/cm2)。每组牙再随机分为两个亚组,分别使用全酸蚀(Single Bond 2)或自酸蚀粘接剂(G-Bond)进行粘接以及树脂修复。进行微拉伸粘接强度测试,扫描电镜观察牙本质表面形貌及粘接界面纳米渗漏情况。激光扫描共聚焦荧光显微镜下观察粘接界面树脂突形态及数量。结果:全酸蚀粘接中,低密度激光照射对粘接强度无影响,高密度激光照射后粘接强度相比对照组降低(P<0.05);自酸蚀粘接中,低密度激光照射后粘接强度比对照组显著下降(P<0.05),高密度激光照射对粘接强度无影响。低密度激光照射不增加粘接界面纳米渗漏,高密度激光照射后样本纳米渗漏相比对照组均显著增加(P<0.05)。结论:低能量密度的激光照射后使用全酸蚀粘接系统粘接效果较好;高能量密度的激光照射后使用自酸蚀粘接系统效果较好。展开更多
目的:通过体外实验评价植酸(IP6)作为根管螯合剂去除次氯酸钠溶液处理的牙本质表面玷污层的效力,探究其对次氯酸钠溶液处理的牙本质化学组成的影响。方法:24个完整无龋正畸牙取得牙本质样本随机分成4组。A组:2mL去离子水(pH7.4)处理5mi...目的:通过体外实验评价植酸(IP6)作为根管螯合剂去除次氯酸钠溶液处理的牙本质表面玷污层的效力,探究其对次氯酸钠溶液处理的牙本质化学组成的影响。方法:24个完整无龋正畸牙取得牙本质样本随机分成4组。A组:2mL去离子水(pH7.4)处理5min;B组:2 mL 5%NaClO溶液(pH12)处理5 min;C组:2 mL 5%NaClO溶液处理5min后,2mL 17%EDTA溶液(pH7.5)处理1 min;D组:2 mL 5%NaClO溶液处理5 min后,2mL 1%IP6溶液(pH1.3)处理1min。SEM观察样本表面玷污层去除情况,衰减全反射红外光谱仪(ATR-IR)测量样本红外光谱,得到处理前后的M:M(matrix:mineral)和C:M(carbonate:mineral)。以双因素重复测量方差分析比较差异。结果:SEM显示处理后A组仍有大量玷污层剩余,B组玷污层去除效果不明显,C组玷污层基本完全去除,D组玷污去除效果更加明显。ATR-IR结果经统计分析后发现,A组M:M处理前后无显著差异(P=0.744),B、C、D组均显著下降(P<0.01);处理后B、C、D组明显低于A组(P<0.01),而该3组间无显著差异(P>0.05);四组C:M处理后均略低于处理前(P<0.01)。结论:植酸能够有效地去除经次氯酸钠溶液处理后的牙本质表面的玷污层,并且其与EDTA对牙本质本身化学组成的影响无显著差别。展开更多
文摘以程序性细胞死亡1(programmed cell death 1,PD-1)免疫检查点阻断为代表的新型肿瘤免疫治疗,在临床上已经取得了突破性进展。然而,仍然有很多肿瘤患者对免疫检查点的治疗不响应。因此,进一步探讨免疫检查点的作用机制有助于口腔鳞状细胞癌的治疗。本文综述了部分共抑制免疫检查点信号的表达及其机制,并讨论将其作为口腔鳞状细胞癌的免疫治疗靶点的可能。
文摘目的:研究不同能量密度下Nd:YAG激光照射对牙本质粘接强度的影响。方法:36颗无龋第三磨牙去除冠方牙釉质,随机分为3组:对照组低能量密度激光照射组(1W,85J/cm2)和高能量密度激光照射组(4W,350J/cm2)。每组牙再随机分为两个亚组,分别使用全酸蚀(Single Bond 2)或自酸蚀粘接剂(G-Bond)进行粘接以及树脂修复。进行微拉伸粘接强度测试,扫描电镜观察牙本质表面形貌及粘接界面纳米渗漏情况。激光扫描共聚焦荧光显微镜下观察粘接界面树脂突形态及数量。结果:全酸蚀粘接中,低密度激光照射对粘接强度无影响,高密度激光照射后粘接强度相比对照组降低(P<0.05);自酸蚀粘接中,低密度激光照射后粘接强度比对照组显著下降(P<0.05),高密度激光照射对粘接强度无影响。低密度激光照射不增加粘接界面纳米渗漏,高密度激光照射后样本纳米渗漏相比对照组均显著增加(P<0.05)。结论:低能量密度的激光照射后使用全酸蚀粘接系统粘接效果较好;高能量密度的激光照射后使用自酸蚀粘接系统效果较好。
文摘目的:通过体外实验评价植酸(IP6)作为根管螯合剂去除次氯酸钠溶液处理的牙本质表面玷污层的效力,探究其对次氯酸钠溶液处理的牙本质化学组成的影响。方法:24个完整无龋正畸牙取得牙本质样本随机分成4组。A组:2mL去离子水(pH7.4)处理5min;B组:2 mL 5%NaClO溶液(pH12)处理5 min;C组:2 mL 5%NaClO溶液处理5min后,2mL 17%EDTA溶液(pH7.5)处理1 min;D组:2 mL 5%NaClO溶液处理5 min后,2mL 1%IP6溶液(pH1.3)处理1min。SEM观察样本表面玷污层去除情况,衰减全反射红外光谱仪(ATR-IR)测量样本红外光谱,得到处理前后的M:M(matrix:mineral)和C:M(carbonate:mineral)。以双因素重复测量方差分析比较差异。结果:SEM显示处理后A组仍有大量玷污层剩余,B组玷污层去除效果不明显,C组玷污层基本完全去除,D组玷污去除效果更加明显。ATR-IR结果经统计分析后发现,A组M:M处理前后无显著差异(P=0.744),B、C、D组均显著下降(P<0.01);处理后B、C、D组明显低于A组(P<0.01),而该3组间无显著差异(P>0.05);四组C:M处理后均略低于处理前(P<0.01)。结论:植酸能够有效地去除经次氯酸钠溶液处理后的牙本质表面的玷污层,并且其与EDTA对牙本质本身化学组成的影响无显著差别。
