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基于Kolmogorov-Smirnov检验的LED可靠性评估被引量：9: 1; 作者夏云云文尚胜方方《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第9期20-25,共6页; 提出一种对光参量呈非单调下降规律的LED灯珠可靠性进行评价的方法.采用加速寿命实验获得光通量退化数据,利用指数叠加形式的退化模型对光通维持率退化数据进行拟合,与指数模型拟合效果相比,该模型具有更好的效果.用MATLAB软件计算样品... 展开更多; 关键词 LED 可靠性 Kolmogorov-Smirnov检验退化模型寿命; 在线阅读下载PDF 职称材料

GaN基白光LED电极的失效机制被引量：6: 2; 作者夏云云文尚胜方方《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第8期1002-1007,共6页; 对负电极脱落造成白光LED失效进行了研究。结合扫描电子显微镜(SEM)和能谱分析(EDS)对退化样品芯片进行了表面形貌表征和微区成分分析。SEM观察到退化样品负极脱落处表面粗糙不平,且透明导电薄膜存在颗粒状结晶。经EDS检测发现负极脱落... 展开更多; 关键词 LED 失效分析电极腐蚀; 在线阅读下载PDF 职称材料

醇类物质对LED硅胶封装气密性的影响: 3; 作者文尚胜彭星 +6 位作者马丙戌宋嘉良符民方方胡捷频康丽娟孔令豹《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第8期127-132,共6页; 为了探究发光二极管(LED)封装胶对LED失效性的影响,选取LED封装硅胶失效案例进行了失效性分析.利用傅里叶转换红外光谱分析和气相色谱质谱联用仪对失效样品进行成分分析,根据分析结果总结样品的失效机理.分析结果表明:LED灯珠封装气密... 展开更多; 关键词 LED 封装硅胶可靠性失效不兼容性气密性; 在线阅读下载PDF 职称材料

GaN基白光LED可靠性研究与失效分析被引量：9: 4; 作者宋嘉良文尚胜 +6 位作者马丙戌符民胡捷频彭星方方廖少雄康丽娟《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第12期1705-1713,共9页; 针对LED样品检测中的样品短路失效、LED光源黑化、光通量下降和芯片表面通孔异常现象,采用金相切片、机械微操、静电测试等方式结合扫描电镜和能谱仪(EDS)等表征手段对失效机制进行了分析,揭示了LED失效原因。包括镀层银离子与杂质硫离... 展开更多; 关键词 LED 可靠性分析电极芯片封装; 在线阅读下载PDF 职称材料

GaN基白光二极管漏电失效分析: 5; 作者左文财文尚胜 +3 位作者周悦王翌鑫于婧雅方方《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第11期1431-1437,共7页; 芯片漏电会对LED灯珠稳定性和寿命造成很大影响,为此本文对LED样品的漏电失效机理进行了研究。在微光显微镜观测下,样品的芯片正电极位置存在漏电异常。利用氩离子精密刻蚀系统对样品进行截面制样,并采用扫描电镜进行观察,分析可能导致... 展开更多; 关键词发光二极管失效分析漏电静电; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于Kolmogorov-Smirnov检验的LED可靠性评估被引量：9: 1; 作者夏云云文尚胜方方; 机构华南理工大学高分子光电材料与器件研究所华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室广东金鉴检测科技有限公司; 出处《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第9期20-25,共6页; 基金国家文化科技提升计划项目(No.GJWHKJTSXM20154464) 广东省科技计划项目(Nos.2013B090600048 +3 种基金 2015B010134001 2015B010127004 2015YT02C093 201604010006)资助~~; 文摘提出一种对光参量呈非单调下降规律的LED灯珠可靠性进行评价的方法.采用加速寿命实验获得光通量退化数据,利用指数叠加形式的退化模型对光通维持率退化数据进行拟合,与指数模型拟合效果相比,该模型具有更好的效果.用MATLAB软件计算样品的伪失效寿命,通过KolmogorovSmirnov检验法得到两个公司样本伪失效寿命分布分别服从对数正态分布和威布尔分布,以相应分布参量评估产品可靠性得到两个公司样本的伪失效寿命分别为5 328.37h和4 758.35h.该方法对参量呈非单调下降规律的LED器件可靠性的评估具有参考价值.; 关键词 LED 可靠性 Kolmogorov-Smirnov检验退化模型寿命; Keywords LED Reliability Kolmogorov-Smirnov test Degradation model Lifetime; 分类号 TN364.2 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名GaN基白光LED电极的失效机制被引量：6: 2; 作者夏云云文尚胜方方; 机构华南理工大学高分子光电材料与器件研究所华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室广东金鉴检测科技有限公司; 出处《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第8期1002-1007,共6页; 基金国家文化科技提升计划(GJWHKJTSXM20154464) 广东省科技计划(2013B090600048 +3 种基金 2015B010134001 2015B010127004 2015YT02C093 201604010006)资助项目; 文摘对负电极脱落造成白光LED失效进行了研究。结合扫描电子显微镜(SEM)和能谱分析(EDS)对退化样品芯片进行了表面形貌表征和微区成分分析。SEM观察到退化样品负极脱落处表面粗糙不平,且透明导电薄膜存在颗粒状结晶。经EDS检测发现负极脱落处存在腐蚀性氯元素,并在封装胶中检测出氯。分析认为,封装胶中残留的氯离子与负极中Al层发生的电化学腐蚀是致使样品失效的主要原因。; 关键词 LED 失效分析电极腐蚀; Keywords LED failure analysis electrode corrosion; 分类号 TN383 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名醇类物质对LED硅胶封装气密性的影响: 3; 作者文尚胜彭星马丙戌宋嘉良符民方方胡捷频康丽娟孔令豹; 机构华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室复旦大学信息科学与工程学院上海超精密光学制造工程技术研究中心广东金鉴检测科技有限公司华南师范大学美术学院; 出处《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第8期127-132,共6页; 基金广东省科技计划项目(Nos.2017B010114001 201704030140 +6 种基金 2015B010127004) 201604016010) 广东省扬帆计划(No.2015YT02C093) 2017C1011)资助~~; 文摘为了探究发光二极管(LED)封装胶对LED失效性的影响,选取LED封装硅胶失效案例进行了失效性分析.利用傅里叶转换红外光谱分析和气相色谱质谱联用仪对失效样品进行成分分析,根据分析结果总结样品的失效机理.分析结果表明:LED灯珠封装气密性检测过程中材料的化学不兼容性导致封装胶失效,LED灯珠气密性变差,进而影响到光、电、热、机械结构、材料特性等,LED可靠性降低.在LED生产制造过程中,需要避免材料的不兼容性,增加LED的可靠性.; 关键词 LED 封装硅胶可靠性失效不兼容性气密性; Keywords LED Silicone packagc Reliability Failure Incompatibility Gas tightness; 分类号 TN383.1 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名GaN基白光LED可靠性研究与失效分析被引量：9: 4; 作者宋嘉良文尚胜马丙戌符民胡捷频彭星方方廖少雄康丽娟; 机构华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室复旦大学上海超精密光学制造工程技术研究中心广东金鉴检测科技有限公司广州虎辉照明科技公司华南师范大学美术学院; 出处《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第12期1705-1713,共9页; 基金广东省科技计划(2017B010114001 201704030140 +6 种基金 2015B010127004) 广州市科技计划(201604040004 201604016010) 广东省扬帆计划(2015YT02C093) 中山市科技计划(2016A1009 2017C1011)资助项目~~; 文摘针对LED样品检测中的样品短路失效、LED光源黑化、光通量下降和芯片表面通孔异常现象,采用金相切片、机械微操、静电测试等方式结合扫描电镜和能谱仪(EDS)等表征手段对失效机制进行了分析,揭示了LED失效原因。包括镀层银离子与杂质硫离子导致光源黑化;芯片抗静电电压低,部分样品发生静电击穿;失效芯片通孔下面的Ni-Sn共晶层存在大量空洞,使得复杂结构的芯片通孔应力不均,样品工作时芯片表面开裂破碎,从而导致PN结短路失效;封装胶中残存的杂质离子腐蚀芯片负电极导致电极脱落而出现漏电、光衰和死灯等现象。; 关键词 LED 可靠性分析电极芯片封装; Keywords light-emitting-diode（ LED） invalid analysis electrode chip encapsulation; 分类号 TN312.8 [电子电信—物理电子学] TN304.2 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名GaN基白光二极管漏电失效分析: 5; 作者左文财文尚胜周悦王翌鑫于婧雅方方; 机构华南理工大学材料科学与工程学院广东金鉴检测科技有限公司; 出处《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第11期1431-1437,共7页; 基金广东省科技计划(2017B010114001) 广东省扬帆计划(2015YT02C093) +1 种基金惠州市科技计划(2019SX0111011)资助项目。; 文摘芯片漏电会对LED灯珠稳定性和寿命造成很大影响,为此本文对LED样品的漏电失效机理进行了研究。在微光显微镜观测下,样品的芯片正电极位置存在漏电异常。利用氩离子精密刻蚀系统对样品进行截面制样,并采用扫描电镜进行观察,分析可能导致漏电的原因。SEM下观测到漏电样品芯片正极出现空洞,且空洞对应的外延层出现较明显的裂缝。分析认为,在焊接时电极产生空洞,在后续高温回流焊、封装和使用过程中压力和应力集中在裂缝处,使GaN外延层受损导致漏电。研究结果为LED芯片漏电检测手段、机理分析提供了良好的参考方案,并为解决芯片裂缝和空洞问题提供了理论参考方向。; 关键词发光二极管失效分析漏电静电; Keywords light emitting diode failure analysis leakage static; 分类号 TN383 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	基于Kolmogorov-Smirnov检验的LED可靠性评估	夏云云文尚胜方方	《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心	2016	9	在线阅读下载PDF 职称材料
2	GaN基白光LED电极的失效机制	夏云云文尚胜方方	《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心	2016	6	在线阅读下载PDF 职称材料
3	醇类物质对LED硅胶封装气密性的影响	文尚胜彭星马丙戌宋嘉良符民方方胡捷频康丽娟孔令豹	《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心	2018	0	在线阅读下载PDF 职称材料
4	GaN基白光LED可靠性研究与失效分析	宋嘉良文尚胜马丙戌符民胡捷频彭星方方廖少雄康丽娟	《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心	2018	9	在线阅读下载PDF 职称材料
5	GaN基白光二极管漏电失效分析	左文财文尚胜周悦王翌鑫于婧雅方方	《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心	2020	0	在线阅读下载PDF 职称材料