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Cl^-对铜在压延铜箔上的电结晶行为及其组织形貌的影响 被引量:4
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作者 朱思哲 谭澄宇 +1 位作者 刘晨 王芝秀 《矿冶工程》 CAS CSCD 北大核心 2018年第2期119-123,127,共6页
采用循环伏安、计时安培测试研究了在20 g/L Cu SO_4+70 g/L H_2SO_4酸性镀液中Cl^-存在对铜沉积还原过程以及Cl^-浓度对铜在压延铜箔基体上电结晶初期行为的影响。研究表明,加入Cl^-,铜沉积起始电位大致不变,并在较低偏压(-0.3^-0.1 V_... 采用循环伏安、计时安培测试研究了在20 g/L Cu SO_4+70 g/L H_2SO_4酸性镀液中Cl^-存在对铜沉积还原过程以及Cl^-浓度对铜在压延铜箔基体上电结晶初期行为的影响。研究表明,加入Cl^-,铜沉积起始电位大致不变,并在较低偏压(-0.3^-0.1 V_(SCE))下缩短铜结晶初期的形核弛豫时间,提高阴极还原电流;在较高的偏压(-0.6^-0.4 V_(SCE))下,Cl^-则阻碍铜的结晶沉积。通过扫描电镜还观察了Cl^-浓度、偏压对铜镀层组织形貌特征的影响,探讨了Cl^-在铜电结晶过程中的作用机理。 展开更多
关键词 表面处理 粗化处理 氯离子 电结晶 镀层形貌 压延铜箔
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