在TFT-LCD(Thin film transistor-liquid crystal display)行业中,进行摩擦工艺制程时,玻璃基板与机台接触、分离;摩擦辊与玻璃基板摩擦、摩擦机台顶针上升过程,都容易产生静电击穿。针对一款在摩擦工艺过程中产生静电的GOA(Gate driver...在TFT-LCD(Thin film transistor-liquid crystal display)行业中,进行摩擦工艺制程时,玻璃基板与机台接触、分离;摩擦辊与玻璃基板摩擦、摩擦机台顶针上升过程,都容易产生静电击穿。针对一款在摩擦工艺过程中产生静电的GOA(Gate driver on Array)产品,结合摩擦工艺参数、生产环境,进行了一系列静电相关验证。验证发现:摩擦工艺中摩擦布寿命、环境湿度对静电发生影响很大。摩擦布寿命越靠后,静电越容易发生;湿度越大,静电越不容易发生。摩擦机台顶针上升速度、摩擦布类型也对静电发生有一定影响,顶针缓慢上升,静电不容易发生;摩擦棉布较尼龙布静电效果相对较好。而针对摩擦工艺发生的静电失效不良,光配向替代是一种根本的解决方法,导入光配向工艺后,摩擦相关静电失效不良由量产6.8%下降为0%。展开更多
随着GOA(Gate On Array)技术的不断发展,在小尺寸TFT-LCD窄边框显示屏上的应用也越来越频繁,但是由于GOA电路的复杂性和TFT器件自身的稳定性,以及外界温度、湿度的影响,显示屏还存在显示不稳定的问题。本文针对小尺寸TFT-LCD GOA显示屏...随着GOA(Gate On Array)技术的不断发展,在小尺寸TFT-LCD窄边框显示屏上的应用也越来越频繁,但是由于GOA电路的复杂性和TFT器件自身的稳定性,以及外界温度、湿度的影响,显示屏还存在显示不稳定的问题。本文针对小尺寸TFT-LCD GOA显示屏在高温高湿环境下产生的异常显示横纹,进行了深入分析与改善研究。通过对GOA区域ITO过孔电阻测试、显微镜检查以及修复实验验证,找出了不良产生的直接原因为ITO发生腐蚀,过孔电阻增大,导致GOA驱动信号无法上下导通。接着进一步研究ITO腐蚀发生的条件、ITO腐蚀情况、驱动信号对应关系以及腐蚀成分,证明了ITO发生腐蚀原因为产品长期工作(200h左右)在高温高湿环境下,由于水汽的不断渗入,使GOA区域ITO发生了电化学腐蚀效应。最后根据电化学腐蚀原理,通过采用隔水性强的封框胶、增加ITO膜厚以及降低ITO电位差等措施对工艺进行了改善,结果表明改善后的显示屏超过1 000h,未发生ITO腐蚀。展开更多
GOA型TFT LCD产品Shorting Bar testing工序烧伤现象严重,针对把根源归结为Shorting Bar Testing工序测试参数电压过高的假设,设计一个Source电压远高于理论测试电压的测试波形,分别以高压值参数和理论值参数对样品进行测试,结果发现两...GOA型TFT LCD产品Shorting Bar testing工序烧伤现象严重,针对把根源归结为Shorting Bar Testing工序测试参数电压过高的假设,设计一个Source电压远高于理论测试电压的测试波形,分别以高压值参数和理论值参数对样品进行测试,结果发现两种情况下烧伤概率一样;针对把根源归结为Shorting Bar testing工序驱动程序启动瞬间冲击烧伤的假设,在测试驱动板上每个测试信号输入口加一个限流器,用加限流器和没加限流器的测试治具分别对样品进行测试,结果发现两者烧伤概率一样;针对把根源归结为静电击伤的假设,在Shorting Bar testing工序增加防静电措施,分别在改进前后的测试环境对样品进行测试,发现改进后未出现烧伤现象。可见出烧伤现象的根源在于静电,而非其他原因。展开更多
对巡检船主动避障算法进行研究,提出一种方向抑制的GOA(gradient of averages,平均梯度)改进算法,解决了传统直线段提取算法计算量大的问题.采用抑制横向纹理的GOA算法强化障碍物特有的竖(斜)向纹理,利用特殊形态学模板进行去噪,并结合...对巡检船主动避障算法进行研究,提出一种方向抑制的GOA(gradient of averages,平均梯度)改进算法,解决了传统直线段提取算法计算量大的问题.采用抑制横向纹理的GOA算法强化障碍物特有的竖(斜)向纹理,利用特殊形态学模板进行去噪,并结合时域滤波处理连通分析结果,完成目标特征检测.通过与LSD(Line Segment detection)算法进行实验对比,结果表明:改进算法边缘特征提取完整,计算复杂度低.针对TI公司的Davinci芯片进行算法核心函数优化,满足实时性要求.展开更多
文摘光伏阵列输出功率随机性、波动性强。如果其发生故障,将严重影响电力系统安全与稳定。针对当前光伏故障诊断的准确率低和收敛速度慢的难题,提出一种基于蝗虫算法-支持向量机(grasshopper optimization algorithm‐support vector machine,GOA‐SVM)模型的光伏阵列故障诊断方法。首先,建立光伏阵列等效电路模型,分析光伏阵列的伏安曲线变化特性;其次,考虑环境影响因素和光伏阵列规模非线性变化,提取反映不同故障特性的特征量,将数据映射到高维空间进行非线性处理;最后,提出蝗虫算法(grasshopper optimization algorithm,GOA)优化非线性支持向量机改进方法,建立GOA‐SVM光伏阵列故障诊断模型,并结合实例进行仿真。研究结果表明:该方法可应用于多种不同规模的光伏阵列模型,且均能实现对光伏阵列故障的有效诊断,其对4×3光伏阵列规模的数据仿真分类准确率可达99.8088%。采用美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)公开数据集进行验证,其故障诊断准确率达到92.3682%。与其他方法相比,该方法的召回率及F1‐Score均有明显提升。
文摘在TFT-LCD(Thin film transistor-liquid crystal display)行业中,进行摩擦工艺制程时,玻璃基板与机台接触、分离;摩擦辊与玻璃基板摩擦、摩擦机台顶针上升过程,都容易产生静电击穿。针对一款在摩擦工艺过程中产生静电的GOA(Gate driver on Array)产品,结合摩擦工艺参数、生产环境,进行了一系列静电相关验证。验证发现:摩擦工艺中摩擦布寿命、环境湿度对静电发生影响很大。摩擦布寿命越靠后,静电越容易发生;湿度越大,静电越不容易发生。摩擦机台顶针上升速度、摩擦布类型也对静电发生有一定影响,顶针缓慢上升,静电不容易发生;摩擦棉布较尼龙布静电效果相对较好。而针对摩擦工艺发生的静电失效不良,光配向替代是一种根本的解决方法,导入光配向工艺后,摩擦相关静电失效不良由量产6.8%下降为0%。
文摘随着GOA(Gate On Array)技术的不断发展,在小尺寸TFT-LCD窄边框显示屏上的应用也越来越频繁,但是由于GOA电路的复杂性和TFT器件自身的稳定性,以及外界温度、湿度的影响,显示屏还存在显示不稳定的问题。本文针对小尺寸TFT-LCD GOA显示屏在高温高湿环境下产生的异常显示横纹,进行了深入分析与改善研究。通过对GOA区域ITO过孔电阻测试、显微镜检查以及修复实验验证,找出了不良产生的直接原因为ITO发生腐蚀,过孔电阻增大,导致GOA驱动信号无法上下导通。接着进一步研究ITO腐蚀发生的条件、ITO腐蚀情况、驱动信号对应关系以及腐蚀成分,证明了ITO发生腐蚀原因为产品长期工作(200h左右)在高温高湿环境下,由于水汽的不断渗入,使GOA区域ITO发生了电化学腐蚀效应。最后根据电化学腐蚀原理,通过采用隔水性强的封框胶、增加ITO膜厚以及降低ITO电位差等措施对工艺进行了改善,结果表明改善后的显示屏超过1 000h,未发生ITO腐蚀。
文摘GOA型TFT LCD产品Shorting Bar testing工序烧伤现象严重,针对把根源归结为Shorting Bar Testing工序测试参数电压过高的假设,设计一个Source电压远高于理论测试电压的测试波形,分别以高压值参数和理论值参数对样品进行测试,结果发现两种情况下烧伤概率一样;针对把根源归结为Shorting Bar testing工序驱动程序启动瞬间冲击烧伤的假设,在测试驱动板上每个测试信号输入口加一个限流器,用加限流器和没加限流器的测试治具分别对样品进行测试,结果发现两者烧伤概率一样;针对把根源归结为静电击伤的假设,在Shorting Bar testing工序增加防静电措施,分别在改进前后的测试环境对样品进行测试,发现改进后未出现烧伤现象。可见出烧伤现象的根源在于静电,而非其他原因。
文摘对巡检船主动避障算法进行研究,提出一种方向抑制的GOA(gradient of averages,平均梯度)改进算法,解决了传统直线段提取算法计算量大的问题.采用抑制横向纹理的GOA算法强化障碍物特有的竖(斜)向纹理,利用特殊形态学模板进行去噪,并结合时域滤波处理连通分析结果,完成目标特征检测.通过与LSD(Line Segment detection)算法进行实验对比,结果表明:改进算法边缘特征提取完整,计算复杂度低.针对TI公司的Davinci芯片进行算法核心函数优化,满足实时性要求.
