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A comprehensive review of radiation effects on solder alloys and solder joints
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作者 Norliza Ismail Wan Yusmawati Wan Yusoff +3 位作者 Nor Azlian Abdul Manaf Azuraida Amat Nurazlin Ahmad Emee Marina Salleh 《Defence Technology(防务技术)》 SCIE EI CAS CSCD 2024年第9期86-102,共17页
In the realm of military and defence applications, exposure to radiation significantly challenges the performance and reliability of solder alloys and joints in electronic systems. This comprehensive review examines r... In the realm of military and defence applications, exposure to radiation significantly challenges the performance and reliability of solder alloys and joints in electronic systems. This comprehensive review examines radiation-induced effects on solder alloys and solder joints in terms of microstructure and mechanical properties. In this paper, we evaluate the existing literature, including experimental studies and fundamental theory, to provide a comprehensive overview of the behavior of solder materials under radiation. A review of the literature highlights key mechanisms that contribute to radiation-induced changes in the microstructure, such as the formation of intermetallic compounds, grain growth,micro-voids and micro-cracks. Radiation is explored as a factor influencing solder alloy hardness,strength, fatigue and ductility. Moreover, the review addresses the challenges and limitations inherent in studying the effects of radiation on solder materials and offers recommendations for future research. It is crucial to understand radiation-induced effects on solder performance to design robust and radiationresistant electronic systems. A review of radiation effects on solder materials and their applications in electronics serves as a valuable resource for researchers, engineers, and practitioners in that field. 展开更多
关键词 Defence technology solder alloy solder joints Radiation-induced effect MICROSTRUCTURE Mechanical properties
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A review of extreme condition effects on solder joint reliability:Understanding failure mechanisms
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作者 Norliza Ismail Wan Yusmawati Wan Yusoff +2 位作者 Azuraida Amat Nor Azlian Abdul Manaf Nurazlin Ahmad 《Defence Technology(防务技术)》 SCIE EI CAS CSCD 2024年第11期134-158,共25页
Solder joint,crucial component in electronic systems,face significant challenges when exposed to extreme conditions during applications.The solder joint reliability involving microstructure and mechanical properties w... Solder joint,crucial component in electronic systems,face significant challenges when exposed to extreme conditions during applications.The solder joint reliability involving microstructure and mechanical properties will be affected by extreme conditions.Understanding the behaviour of solder joints under extreme conditions is vital to determine the durability and reliability of solder joint.This review paper aims to comprehensively explore the underlying failure mechanism affecting solder joint reliability under extreme conditions.This study covers an in-depth analysis of effect extreme temperature,mechanical stress,and radiation conditions towards solder joint.Impact of each condition to the microstructure including solder matrix and intermetallic compound layer,and mechanical properties such as fatigue,shear strength,creep,and hardness was thoroughly discussed.The failure mechanisms were illustrated in graphical diagrams to ensure clarity and understanding.Furthermore,the paper highlighted mitigation strategies that enhancing solder joint reliability under challenging operating conditions.The findings offer valuable guidance for researchers,engineers,and practitioners involved in electronics,engineering,and related fields,fostering advancements in solder joint reliability and performance. 展开更多
关键词 solder joint Extreme condition Failure mechanism Defence and military RELIABILITY
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时效时间和Sb添加对Sn-9Zn-3Bi/Cu焊点界面金属间化合物生长行为的影响
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作者 涂文斌 胡志华 +3 位作者 邹雨柔 刘冠鹏 王善林 陈玉华 《材料导报》 北大核心 2025年第6期189-194,共6页
无铅钎料焊点界面金属间化合物是影响焊点可靠性的重要因素。本工作采用扫描电镜研究了时效时间和Sb添加对Sn-9Zn-3Bi/Cu焊点界面金属间化合物形貌及生长动力学的影响。结果表明:随着时效时间的延长,Sn-9Zn-3Bi/Cu焊点界面金属间化合物... 无铅钎料焊点界面金属间化合物是影响焊点可靠性的重要因素。本工作采用扫描电镜研究了时效时间和Sb添加对Sn-9Zn-3Bi/Cu焊点界面金属间化合物形貌及生长动力学的影响。结果表明:随着时效时间的延长,Sn-9Zn-3Bi/Cu焊点界面金属间化合物厚度逐渐增加,Sn-9Zn-3Bi/Cu焊点界面金属间化合物为γ-Cu_(5)Zn_(8)相。Sb添加会减小长时效后的Sn-9Zn-3Bi/Cu焊点界面金属间化合物厚度,其生长系数从0.67μm/h^(1/2)降至0.56μm/h^(1/2)。随着时效时间延长至168 h,焊点界面金属间化合物除了γ-Cu_(5)Zn_(8)相外,还会在靠近Cu基板处形成Cu_(6)Sn_(5)相和靠近钎料侧形成扩散反应层,Sb元素会扩散到焊点界面处Cu_(6)Sn_(5)相中,以固溶体形式存在。 展开更多
关键词 时效时间 Sb添加 Sn-9Zn-3Bi钎料 界面组织 生长系数
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某型PBGA芯片混装回流焊工艺及质量控制
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作者 杨伟 黎全英 +1 位作者 巫应刚 任康桥 《电子工艺技术》 2025年第2期1-6,共6页
为满足电子设备可靠性要求,新品元器件在产品装配前首先应分析潜在的质量风险,然后开展工艺验证,最后得出新品元器件的生产工艺和质量控制措施。针对某型FC-PBGA芯片,分析了芯片结构特点及生产工艺对芯片的影响,根据引起芯片分层的质量... 为满足电子设备可靠性要求,新品元器件在产品装配前首先应分析潜在的质量风险,然后开展工艺验证,最后得出新品元器件的生产工艺和质量控制措施。针对某型FC-PBGA芯片,分析了芯片结构特点及生产工艺对芯片的影响,根据引起芯片分层的质量控制要点,提出混装回流焊工艺验证方案,从存储、烘烤、车间放置、回流焊进行了工艺试验,结合声学扫描检测,得出了最佳工艺参数及生产过程控制措施,再从实际产品多芯片焊接需求出发,进行返修性和批量生产验证,最后形成了该型芯片的混装回流焊生产工艺及质量控制措施。 展开更多
关键词 PBGA 混装回流焊 工艺研究 芯片分层
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基于机器视觉的焊点质量检测方法研究
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作者 孙丽 张瀚文 +1 位作者 白雨轩 王品烁 《大连交通大学学报》 2025年第1期93-100,共8页
针对L公司楼宇机组控制面板制作过程中,各种元器件PCB板在焊接时人工对焊点质量进行缺陷检测的效率低、误差大等问题,采用机器视觉方法实现快速识别。首先,对采集到的图像数据进行预处理,提出改进的小波阈值去噪方法和改进NGO(Northern ... 针对L公司楼宇机组控制面板制作过程中,各种元器件PCB板在焊接时人工对焊点质量进行缺陷检测的效率低、误差大等问题,采用机器视觉方法实现快速识别。首先,对采集到的图像数据进行预处理,提出改进的小波阈值去噪方法和改进NGO(Northern Goshawk Optimization)优化的OTSU多阈值分割方法;其次,分别采用HOG、LBP、GLCM 3种特征和SVM、KNN、Tree 3种模型共12种分类情况对焊点图像进行描述,用于更好地将焊点图像的信息体现出来;最后,将CNN_SVM与传统的CNN及SVM模型进行对比,CNN_SVM对焊点图像分类的准确率为98.3%,与CNN及SVM对比分别提高了2.5%和4.6%。同时构建了L公司焊点数据集,试验结果证明,同人工对比,单个焊点检测时间约减少了0.9 s。 展开更多
关键词 机器视觉 焊点质量 分类识别 卷积神经网络
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EFFECTS OF RARE EARTH ELEMENT LANTHANUM ON MICROSTRUCTURE AND PROPERTIES OF Ag-Cu-Ti SOLDER ALLOY 被引量:4
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作者 杨长勇 徐九华 +2 位作者 丁文锋 付建峰 傅玉灿 《Transactions of Nanjing University of Aeronautics and Astronautics》 EI 2008年第3期230-234,共5页
The effects of rare earth Lanthanum on the microstructure, the physical property and the microhardness of Ag-Cu-Ti solder alloy are studied. Experimental results indicate that the addition of Lanthanum can evidently i... The effects of rare earth Lanthanum on the microstructure, the physical property and the microhardness of Ag-Cu-Ti solder alloy are studied. Experimental results indicate that the addition of Lanthanum can evidently improve the wettability and the microhardness of Ag-Cu-Ti solder alloy. Analysis results show that the increase in microhardness is related to the refining and uniform distribution of the intermetallic compounds. Proper content of Lanthanum added in Ag-Cu-Ti alloy solder can be controlled below 0.5% in mass percent. 展开更多
关键词 soldering alloys rare earth additionsl microstructure MICROHARDNESS
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用于激光软钎焊温度测量的高精度红外辐射测温装置
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作者 李明超 闫宽 +3 位作者 张聪 胡记伟 欧锴 陈绪兵 《红外技术》 北大核心 2025年第1期108-114,共7页
在激光软钎焊加工过程中,实时精准测量焊点温度并调节半导体激光器的输出功率对于保证焊接质量至关重要。为避免因温度测量误差过大或测量速度过慢导致的焊点焦灼、虚焊和假焊等故障,本文设计了用于激光软钎焊的高精度红外辐射测温装置... 在激光软钎焊加工过程中,实时精准测量焊点温度并调节半导体激光器的输出功率对于保证焊接质量至关重要。为避免因温度测量误差过大或测量速度过慢导致的焊点焦灼、虚焊和假焊等故障,本文设计了用于激光软钎焊的高精度红外辐射测温装置。首先描述了红外辐射测温装置的原理,并阐述了红外辐射信号转换电路设计方法,其次介绍了本文中所用的无限脉冲响应Butterworth型滤波器信号处理方法——无限脉冲响应滤波器Butterworth型;最后,通过实验分析并验证了本装置的性能。实验表明,本装置适用于激光软钎焊焊点温度的非接触测量,在标准黑体炉70~260℃范围内测试区间,误差基本处于±2℃之内,最大误差为2%,在激光软钎焊加工过程中,整体平均误差小于0.8%,可广泛应用于激光软钎焊领域。 展开更多
关键词 激光软钎焊 红外辐射 高精度测温 无限脉冲响应滤波器
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乙基纤维素影响下的微米银焊膏和纳米银焊膏烧结对比研究
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作者 喻龙波 夏志东 +3 位作者 邓文皓 林文良 周炜 郭福 《电子与封装》 2025年第3期16-24,共9页
微米银(Ag MPs)焊膏和纳米银(Ag NPs)焊膏因其低温烧结、高温服役的特点而成为最有可能用于高温封装的连接材料。研究了乙基纤维素对Ag MPs和Ag NPs焊膏烧结结果的影响,分析了相同条件下2组焊膏烧结结果存在差异的原因。结果表明,在无压... 微米银(Ag MPs)焊膏和纳米银(Ag NPs)焊膏因其低温烧结、高温服役的特点而成为最有可能用于高温封装的连接材料。研究了乙基纤维素对Ag MPs和Ag NPs焊膏烧结结果的影响,分析了相同条件下2组焊膏烧结结果存在差异的原因。结果表明,在无压、250℃、空气条件下,添加质量分数为5%的乙基纤维素,2组焊膏的烧结性能较好,Ag MPs焊膏烧结所得接头强度和薄膜电阻率为8.57 MPa和4.25μΩ·cm,Ag NPs焊膏烧结所得接头强度和薄膜电阻率为32.89 MPa和7.71μΩ·cm。接头界面和薄膜微观形貌表明,烧结后颗粒间形成的烧结颈和烧结组织均匀性是影响连接强度的关键因素,而烧结组织致密度则是影响导电性的主要因素。研究结果为进一步提高银焊膏烧结接头强度和烧结薄膜导电性提供了参考。 展开更多
关键词 乙基纤维素 微米银焊膏 纳米银焊膏 烧结性能
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IMC厚度对混装焊点热疲劳寿命的影响研究
9
作者 冉光龙 王波 +2 位作者 黄伟 龚雨兵 潘开林 《电子与封装》 2025年第1期18-23,共6页
焊点的疲劳寿命成为衡量其长期可靠性的关键指标。金属间化合物(IMC)厚度对焊点的疲劳寿命有着显著影响。研究IMC厚度对热循环条件下混装焊点疲劳寿命的影响,结果表明,随着IMC厚度的增加,焊点的热疲劳寿命不断降低。此外,焊点中应力和... 焊点的疲劳寿命成为衡量其长期可靠性的关键指标。金属间化合物(IMC)厚度对焊点的疲劳寿命有着显著影响。研究IMC厚度对热循环条件下混装焊点疲劳寿命的影响,结果表明,随着IMC厚度的增加,焊点的热疲劳寿命不断降低。此外,焊点中应力和应变的分布受IMC厚度的影响较小,但其数值随着IMC厚度的增加而增加。同时,塑性应变也随着IMC厚度的增加而增加。基于Coffin-Manson模型得到混装焊点的热疲劳寿命与IMC厚度之间存在对数关系。 展开更多
关键词 混装焊点 金属间化合物 热循环 疲劳寿命
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多芯片组件功率芯片粘接失效分析及工艺改进
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作者 孙鑫 金家富 +3 位作者 闵志先 吴伟 张建 何威 《电子工艺技术》 2025年第2期15-18,共4页
在微波多芯片组件中,VDMOS功率芯片常见的组装模式为粘接或焊接。导电胶粘接芯片虽具有操作简单、工艺温度低和便于返修的优点,但芯片的流片过程中易引入污染,在水、氧气条件下与背金电镀Ni层、导电胶Ag粉发生电化学腐蚀,导致接触电阻... 在微波多芯片组件中,VDMOS功率芯片常见的组装模式为粘接或焊接。导电胶粘接芯片虽具有操作简单、工艺温度低和便于返修的优点,但芯片的流片过程中易引入污染,在水、氧气条件下与背金电镀Ni层、导电胶Ag粉发生电化学腐蚀,导致接触电阻增大的失效现象。经试验分析发现,芯片背面污染无有效的去除方法,为避免污染物对电性能的影响,将粘接改为焊接后粘接,即芯片先焊接到钼铜载体上,检查钎透率合格后再用导电胶粘接到基板上,芯片漏极背金层熔解到焊料中形成稳定的冶金结合,原有污染界面将不复存在,可有效提升芯片连接的可靠性。 展开更多
关键词 多芯片组件 VDMOS 粘接 焊接 钼铜载体
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0.25mmBGA板级装联工艺技术研究
11
作者 李玉 梁佩 +2 位作者 徐季 魏斌 陈海峰 《中国集成电路》 2025年第3期76-80,共5页
以0.25mm球径球栅阵列(BGA)封装器件作为研究对象,通过板级装联工艺试验总结出最佳植球印刷焊接参数。试验研究了植球钢片、钢网设计、回流温度等因素对窄球径BGA焊点的焊接质量影响,开展了焊点可靠性验证。试验结果表明,针对0.25mm球径... 以0.25mm球径球栅阵列(BGA)封装器件作为研究对象,通过板级装联工艺试验总结出最佳植球印刷焊接参数。试验研究了植球钢片、钢网设计、回流温度等因素对窄球径BGA焊点的焊接质量影响,开展了焊点可靠性验证。试验结果表明,针对0.25mm球径BGA器件开口0.35厚度0.15的植球钢片为最佳选择,采用0.1mm厚度的印刷钢网可得到最佳印刷效果,焊接时回流峰值温度应设置在270℃左右。根据研究结果,探索出了一条完整可靠的0.25mm BGA板级装联工艺路线。 展开更多
关键词 0.25mmBGA 植球印刷 可靠性验证 回流焊
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SnBiAg无铅钎料恒温激光焊接的数值模拟与实验研究
12
作者 冯超 杨子帆 刘曰利 《材料导报》 北大核心 2025年第3期232-237,共6页
本工作采用有限元分析方法建立SnBiAg无铅焊料恒温激光焊接过程的三维瞬态数值模型,研究热源选择对仿真结果的影响,并揭示激光工艺参数与钎料微观结构之间的关系。数值模拟结果表明,具有矩形截锥分布的热源更适用于恒温激光焊接的数值模... 本工作采用有限元分析方法建立SnBiAg无铅焊料恒温激光焊接过程的三维瞬态数值模型,研究热源选择对仿真结果的影响,并揭示激光工艺参数与钎料微观结构之间的关系。数值模拟结果表明,具有矩形截锥分布的热源更适用于恒温激光焊接的数值模拟;在不同激光焊接参数下,焊点的温度分布呈现出显著变化的趋势。实验结果表明,焊接温度和时间对焊料的微观结构具有重要影响,进一步验证了数值模型的准确性。此外,通过适当提高焊接温度和延长焊接时间,可以使得焊料中的各组分分布更加均匀。此研究为进一步优化恒温激光焊接工艺提供一种新的指导思路。 展开更多
关键词 有限元分析 热分布仿真 激光焊接 SnBiAg无铅焊料 微观结构
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Solder Charge连接器连锡故障解决方案
13
作者 孙磊 孙勇 《电子工艺技术》 2022年第6期365-369,共5页
Solder charge连接器(SBGA)为高速多引脚互联器件,应用于多种通讯产品的子母板间高速互联。在SMT生产过程中,其故障率一直高于同类焊球型封装BGA器件,主要故障表现为相邻两排引脚短路,且故障率表现与来料批次强相关,通过多种工艺方案不... Solder charge连接器(SBGA)为高速多引脚互联器件,应用于多种通讯产品的子母板间高速互联。在SMT生产过程中,其故障率一直高于同类焊球型封装BGA器件,主要故障表现为相邻两排引脚短路,且故障率表现与来料批次强相关,通过多种工艺方案不能完全解决连锡问题。通过分析Solder charge连接器结构和材料,找到器件连锡的根因,提出了此类器件的设计和焊接改善方案,并进行了实际生产验证,为业界Solder charge连接器(SBGA)类器件焊接提供了可行的解决方案。 展开更多
关键词 solder charge 氧化 助焊剂 缝隙
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红外探测器杜瓦窗口钎焊工艺优化
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作者 李云龙 沈星 +3 位作者 吴丰顺 周龙早 宋立志 洪晓麦 《红外》 2025年第3期8-15,共8页
杜瓦窗口是红外探测器的核心部件之一,其焊接质量对探测器的真空维持时长以及长期运行的稳定性具有决定性影响。本试验通过引入两种预成型焊料环进行真空钎焊,替代传统的手工SAC305焊膏软钎焊工艺,并对杜瓦窗口的外观质量、气密性能、... 杜瓦窗口是红外探测器的核心部件之一,其焊接质量对探测器的真空维持时长以及长期运行的稳定性具有决定性影响。本试验通过引入两种预成型焊料环进行真空钎焊,替代传统的手工SAC305焊膏软钎焊工艺,并对杜瓦窗口的外观质量、气密性能、空洞率以及焊接强度进行了研究。试验结果表明,当使用具有中间层Ni骨架结构的SnAgCu复合焊料环进行真空钎焊时,杜瓦窗口漏率可以达到小于1×10^(-12)Pa·m^(3)/s的高气密性要求,空洞率可降低至1%。对杜瓦窗口进行了抗拉强度测试。结果表明,当工艺参数为250℃、5 min、0.32 MPa时,抗拉强度达到最大值66.73 Mpa;与传统手工SAC305焊膏软钎焊接头相比,增加了10.19%。同时,该方法可以改善工艺的一致性,大幅提升生产效率,对杜瓦窗口量产工艺具有一定的指导意义。 展开更多
关键词 杜瓦窗口 焊接空洞 工艺优化
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μBGA焊接缺陷分析与改善
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作者 高燕青 黎全英 《电子工艺技术》 2025年第2期24-27,共4页
BGA器件的出现促进了SMT的发展和革新,因其高度集成、体积小、性能稳定,在多个领域得到了广泛的应用,μBGA是一种更小的BGA形式。对μBGA器件出现的焊接缺陷进行了分析,排除了焊接工艺问题、器件本身问题。通过优化印制板焊盘的设计方式... BGA器件的出现促进了SMT的发展和革新,因其高度集成、体积小、性能稳定,在多个领域得到了广泛的应用,μBGA是一种更小的BGA形式。对μBGA器件出现的焊接缺陷进行了分析,排除了焊接工艺问题、器件本身问题。通过优化印制板焊盘的设计方式,解决了μBGA焊接缺陷。 展开更多
关键词 SMT μBGA 焊接缺陷 印制板 焊盘
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LTCC基板共烧焊盘的可焊性分析
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作者 孙建彬 陈翔 董军荣 《电子工艺技术》 2025年第2期38-41,共4页
FBGA与LTCC基板的焊接可靠性直接影响TR组件的功能实现以及性能一致性。针对样件中出现的虚焊,进行了各种原因分析,最终确认LTCC基板共烧焊盘上玻璃相富集是导致焊接可靠性下降的主要原因,同时分析了玻璃相产生的机理及其影响因素。通... FBGA与LTCC基板的焊接可靠性直接影响TR组件的功能实现以及性能一致性。针对样件中出现的虚焊,进行了各种原因分析,最终确认LTCC基板共烧焊盘上玻璃相富集是导致焊接可靠性下降的主要原因,同时分析了玻璃相产生的机理及其影响因素。通过大量样件试验,探索出适合本项目的LTCC烧结温度,为后续量产提供技术保障。 展开更多
关键词 LTCC 玻璃相 共烧焊盘 可焊性
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FC-BGA产品阻焊油墨下侧蚀影响因子分析及改善
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作者 陆然 王国辉 +1 位作者 熊佳 魏炜 《印制电路信息》 2025年第1期29-33,共5页
研究采用化学镍钯金(ENEPIG)表面处理的倒装球栅阵列(FC-BGA)产品,在锡膏印刷植球(SOP)制程植球后,对其可控塌陷芯片连接(C4)区域连接盘外阻焊下侧蚀表现展开分析。通过制程分析,明确影响阻焊下渗锡的影响因子,包括阻焊显影后油墨下侧... 研究采用化学镍钯金(ENEPIG)表面处理的倒装球栅阵列(FC-BGA)产品,在锡膏印刷植球(SOP)制程植球后,对其可控塌陷芯片连接(C4)区域连接盘外阻焊下侧蚀表现展开分析。通过制程分析,明确影响阻焊下渗锡的影响因子,包括阻焊显影后油墨下侧蚀的长度、化学镍钯金前处理线微蚀槽的药水体系、化学镍钯金前处理线微蚀槽药水的微蚀量、化学镍钯金线在线浸泡式微蚀槽微蚀药水的微蚀量。通过关键影响因子的实验设计(DOE),确定最优条件,改善阻焊下总体侧蚀长度,进而有效降低SOP制程后,连接盘因油墨下侧蚀长度大渗锡引发的短路风险。 展开更多
关键词 微球植球 渗锡 阻焊油墨侧蚀
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高性能无卤免清洗助焊剂的制备及其性能研究
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作者 李伟超 杨晨 +2 位作者 王震东 王加俊 赵玲彦 《材料科学与工艺》 北大核心 2025年第1期89-96,共8页
采用无卤有机酸和有机胺作为活化剂,并添加复合型非离子表面活性剂,通过正交试验方法对助焊剂各主要成分及配比进行选择和优化设计,研制了一种具有优异助焊性能的无卤免清洗助焊剂。最佳配方为:复配活化剂含量为2.8%,助溶剂含量为18%,... 采用无卤有机酸和有机胺作为活化剂,并添加复合型非离子表面活性剂,通过正交试验方法对助焊剂各主要成分及配比进行选择和优化设计,研制了一种具有优异助焊性能的无卤免清洗助焊剂。最佳配方为:复配活化剂含量为2.8%,助溶剂含量为18%,成膜剂、表面活性剂含量均为0.4%(均为质量分数)。依照国际电子行业标准对最优配方的助焊剂进行性能检测,结果表明:制备的液体助焊剂外观呈无色透明,无分层或晶体析出,稳定性好;焊后焊点光亮饱满、无需清洗,铺展面积大,扩展率达到91.45%,助焊性能较好。SEM分析结果表明,助焊剂的焊点可靠性较高,界面IMC层分布清晰且连接牢固。助焊剂中不含卤素,焊后残留较少,腐蚀性较弱。SIR分析结果显示,助焊剂的电气绝缘性能较好,梳形电极上无枝晶生长和变色,SIR值在1.0×10^(8)Ω以上。助焊剂相关性能指标均达到国际电子行业标准,能较好的满足Sn-Cu系无铅焊料的焊接需求。 展开更多
关键词 免清洗助焊剂 无卤 正交试验 助焊性能 无铅焊料
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有机酸对SAC305焊锡膏焊接性能的影响
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作者 付翀 李振阳 +2 位作者 李旭 肖冬 周小伟 《西安工程大学学报》 2025年第1期97-103,共7页
为探究单一有机酸和有机酸复配做活性剂对SAC305焊锡膏焊接润湿性的影响,采用热失重测试确定8种有机酸的分解温度,结合焊锡膏的回流焊接实验,以焊点形貌和铺展率为指标,对单一有机酸配制的焊锡膏的焊接润湿性进行研究,筛选出3种有机酸... 为探究单一有机酸和有机酸复配做活性剂对SAC305焊锡膏焊接润湿性的影响,采用热失重测试确定8种有机酸的分解温度,结合焊锡膏的回流焊接实验,以焊点形貌和铺展率为指标,对单一有机酸配制的焊锡膏的焊接润湿性进行研究,筛选出3种有机酸通过均匀配方设计进行复配,并通过SEM和EDS对焊点界面层进行分析。结果表明:单一有机酸A酸、B酸和水杨酸的焊点形貌饱满、基本无回缩,铺展率在82%以上;3种有机酸复配后焊点均饱满光亮且无回缩,铺展率进一步增大;当A酸、B酸和水杨酸的质量占比分别为43.6%、28.2%、28.2%时,铺展率达到最大值为87.82%,为最佳复配含量。有机酸复配比例对金属间化合物(IMC)层厚度和形态有显著影响,IMC层厚度最小为1.67μm,最大为2.39μm。在最佳复配含量时,IMC层较为平坦、连续且均匀。 展开更多
关键词 SAC305焊锡膏 有机酸 铺展率 焊点形貌 金属间化合物(IMC)
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波峰焊后油墨脱落的原因探讨
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作者 刘德志 杨鹤 《印制电路信息》 2025年第3期52-55,共4页
在印制电路板(PCB)的装配和互联过程中,有时在波峰焊后会出现油墨脱落现象,对产品的外观和品质造成影响。为解决油墨脱落问题,从PCB自身和波峰焊过程中寻找可疑因子,并对其展开分析验证。结果显示,在高温条件下,波峰焊治具材料即钛合金... 在印制电路板(PCB)的装配和互联过程中,有时在波峰焊后会出现油墨脱落现象,对产品的外观和品质造成影响。为解决油墨脱落问题,从PCB自身和波峰焊过程中寻找可疑因子,并对其展开分析验证。结果显示,在高温条件下,波峰焊治具材料即钛合金会对油墨进行攻击,进而导致油墨脱落。此结果可为类似问题的解决提供依据。 展开更多
关键词 波峰焊 油墨脱落 治具
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