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题名液晶屏显示驱动芯片测试技术研究
被引量：2
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作者
濮德龙
刘春来
张东
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机构
北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室
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出处
《数字技术与应用》
2016年第4期59-61,共3页
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文摘
液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用于该类芯片的测试,目前该技术主要掌握在国外企业手中,因此在驱动芯片设计与制造的产业链中,测试技术已成为制约发展的一个瓶颈。针对此背景,本文提出一套高效、实用测试方法,采用多通道与高压模拟通道同步测试技术、色阶测试技术、特殊封装的适应性技术和ATE等技术,可以实现减少测试费用、提高驱动芯片测试吞吐量的同时也能保证客户对芯片质量的严格要求。
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关键词
液晶显示驱动芯片
芯片测试
多通道同步测试
色阶测试
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Keywords
LCD driver chip
chip test
multi-channel synchronous test
color gradation test
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分类号
TN873
[电子电信—信息与通信工程]
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