检索结果-维普期刊中文期刊服务平台

一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法被引量：1: 1; 作者詹文法程一飞 +1 位作者吴海峰江健生《东南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第2期265-269,共5页; 针对芯片测试过程中自动测试设备需要向被测芯片传输大量测试数据的问题,提出了一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法.该方法根据信号值计算对应的原始输入,在测试生成中嵌入广义折叠技术,确保按广义折叠规律生成广义折叠集,将原... 展开更多; 关键词广义折叠集折叠集测试数据压缩自动测试向量生成; 在线阅读下载PDF 职称材料

带有故障性质预测的自动测试向量求解模型: 2; 作者贺丽媛黄俊华陶继平《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第12期3540-3548,共9页; 基于布尔满足模型的自动测试向量生成是芯片故障检测的关键环节,相应布尔问题的求解已然成为整个故障检测过程的效率瓶颈.本文研究了主流自动测试向量求解框架中不同算子对求解效率的影响,在保证测试向量求解流程完备性的同时引入基于... 展开更多; 关键词自动测试向量生成图神经网络生成对抗网络数据增广算子选择; 在线阅读下载PDF 职称材料

集成电路测试原理和向量生成方法分析被引量：14: 3; 作者宋尚升《现代电子技术》 2014年第6期122-124,128,共4页; 测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发,介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台,在仿真验证后,按照ATE向量格式,直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC16424... 展开更多; 关键词集成电路测试自动测试设备测试向量向量生成; 在线阅读下载PDF 职称材料

基于片上PLL时钟的at-speed测试设计: 4; 作者孙大成《中国集成电路》 2009年第10期34-37,47,共5页; 深亚微米制造工艺的广泛采用及越来越高的芯片工作频率,使得具有时序相关的芯片缺陷数量不断增加,at-speed测试成为对高性能电路进行测试的必要技术。文章首先介绍了at-speed测试的故障模型,以及具体测试方法,然后详细介绍了采用PLL时... 展开更多; 关键词 At—speed测试可测性设计自动测试向量生成; 在线阅读下载PDF 职称材料

基于EDT的扫描测试压缩电路优化方法: 5; 作者李松赵毅强叶茂《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第8期1601-1609,共9页; 为了在集成电路可测试性设计(DFT)中实现更有效的测试向量压缩,减少测试数据容量和测试时间,采用嵌入式确定性测试(EDT)的扫描测试压缩方案分别对S13207、S15850、S38417和S38584基准电路进行了优化分析,通过研究测试向量和移位周期等... 展开更多; 关键词可测试性设计(DFT) 扫描测试压缩测试数据容量测试时间嵌入式确定性测试(EDT) 自动测试向量生成(atpg); 在线阅读下载PDF 职称材料

一种复杂SoC可测性的设计与实现(英文) 被引量：3: 6; 作者虞致国魏敬和杨兵《电子器件》 CAS 2009年第2期347-350,共4页; 随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的测试变得越来越困难和重要。针对某复杂32-bit RISC SoC,提出了一种系统级DFT设计策略和方案。在该方案中,运用了多种不同测试设计方法,包括内部扫描插入、存储器内建自测试、边界扫描和功能测试... 展开更多; 关键词可测性设计扫描链自动测试向量生成存储器内建自测试 SOC; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法被引量：1: 1; 作者詹文法程一飞吴海峰江健生; 机构安庆师范大学计算机与信息学院; 出处《东南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第2期265-269,共5页; 基金国家自然科学基金资助项目(61306046 61640421); 文摘针对芯片测试过程中自动测试设备需要向被测芯片传输大量测试数据的问题,提出了一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法.该方法根据信号值计算对应的原始输入,在测试生成中嵌入广义折叠技术,确保按广义折叠规律生成广义折叠集,将原始测试数据的直接存储转换成对广义折叠集种子和折叠距离的间接存储.硬故障测试集实验结果显示,在同等实验环境下,所提方法的压缩率相对于传统的广义折叠技术平均提高了1.17%.Mintest故障集实验结果显示,相对于国际上通用的Golomb码、FDR码、VIHC码和EFDR码,所提方法的压缩率分别提高了22.45%,17.01%,14.40%和11.91%.; 关键词广义折叠集折叠集测试数据压缩自动测试向量生成; Keywords generalized folding set folding set test data compression automatic test pattern generation; 分类号 TP391.4 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名带有故障性质预测的自动测试向量求解模型: 2; 作者贺丽媛黄俊华陶继平; 机构厦门大学自动化系华为诺亚方舟实验室; 出处《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第12期3540-3548,共9页; 基金福建省自然科学基金(No.2020J01053)。; 文摘基于布尔满足模型的自动测试向量生成是芯片故障检测的关键环节,相应布尔问题的求解已然成为整个故障检测过程的效率瓶颈.本文研究了主流自动测试向量求解框架中不同算子对求解效率的影响,在保证测试向量求解流程完备性的同时引入基于深度学习的故障分析机制,并将分析结果用于算子的自动选择和初始求解状态的确定,旨在优化整体求解进程.针对因真实电路故障数据不足导致模型学习效果欠佳的问题,本文利用生成对抗网络实现数据增广,结合多层图卷积神经网络促进高效表征学习,从而提高故障性质的预测精度.在若干真实电路上的实验结果表明,本文所提出的新框架与原有框架相比,平均求解效率提升近20%.; 关键词自动测试向量生成图神经网络生成对抗网络数据增广算子选择; Keywords automation test pattern generation graph neural network generative adversarial network data augmentation operator selection; 分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学] TP183 [自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名集成电路测试原理和向量生成方法分析被引量：14: 3; 作者宋尚升; 机构中国空空导弹研究院; 出处《现代电子技术》 2014年第6期122-124,128,共4页; 基金国家星火计划重点项目(2010GA690078); 文摘测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发,介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台,在仿真验证后,按照ATE向量格式,直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC164245为例,验证了此方法的可行性,并最终得到所需的向量文本。该方法具有较好的实用性,对进一步研究测试向量生成,也有一定的参考意义。; 关键词集成电路测试自动测试设备测试向量向量生成; Keywords IC test ATE test vector vector generation; 分类号 TN964-34 [电子电信—信号与信息处理]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于片上PLL时钟的at-speed测试设计: 4; 作者孙大成; 机构中国电子科技集团公司第三十八研究所; 出处《中国集成电路》 2009年第10期34-37,47,共5页; 文摘深亚微米制造工艺的广泛采用及越来越高的芯片工作频率,使得具有时序相关的芯片缺陷数量不断增加,at-speed测试成为对高性能电路进行测试的必要技术。文章首先介绍了at-speed测试的故障模型,以及具体测试方法,然后详细介绍了采用PLL时钟作为at-speed测试时钟时,一款芯片的at-speed测试实现方案,最后采用Fastscan及TestKompress对整个设计进行了测试向量自动生成及向量压缩。实验结果表明此方案可行,采用TestKompress进行设计更符合目前的设计需求。; 关键词 At—speed测试可测性设计自动测试向量生成; Keywords At-speed testing DFT atpg; 分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于EDT的扫描测试压缩电路优化方法: 5; 作者李松赵毅强叶茂; 机构天津大学微电子学院天津市成像与感知微电子技术重点实验室; 出处《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第8期1601-1609,共9页; 文摘为了在集成电路可测试性设计(DFT)中实现更有效的测试向量压缩,减少测试数据容量和测试时间,采用嵌入式确定性测试(EDT)的扫描测试压缩方案分别对S13207、S15850、S38417和S38584基准电路进行了优化分析,通过研究测试向量和移位周期等影响测试压缩的因素,提出了固定测试端口和固定压缩率的扫描测试压缩电路优化方法。结果表明,在测试端口数量都为2,压缩率分别为12、14、16和24时具有较好的压缩效果,与传统自动测试向量生成(ATPG)相比,固定故障的测试数据容量减小了3.9~6.4倍,测试时间减少了3.8~6.2倍,跳变延时故障的测试数据容量减少了4.1~5.4倍,测试时间减少了3.8~5.2倍。所提方法通过改变测试端口数和压缩率的方式讨论了多种影响测试压缩的因素,给出扫描测试压缩电路的优化设计方案,提高了压缩效率,并对一个较大规模电路进行了仿真验证,可适用于集成电路的扫描测试压缩设计。; 关键词可测试性设计(DFT) 扫描测试压缩测试数据容量测试时间嵌入式确定性测试(EDT) 自动测试向量生成(atpg); Keywords Design for Test(DFT) scan test compression test data volume test time Embedded Deterministic Test(EDT) Automatic Test Pattern Generation(atpg); 分类号 TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名一种复杂SoC可测性的设计与实现(英文) 被引量：3: 6; 作者虞致国魏敬和杨兵; 机构中国电子科技集团公司第五十八研究所; 出处《电子器件》 CAS 2009年第2期347-350,共4页; 基金江苏省博士后科研计划项目资助; 文摘随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的测试变得越来越困难和重要。针对某复杂32-bit RISC SoC,提出了一种系统级DFT设计策略和方案。在该方案中,运用了多种不同测试设计方法,包括内部扫描插入、存储器内建自测试、边界扫描和功能测试矢量复用。结果显示,该策略能取得较高的测试覆盖率和较低的测试代价。; 关键词可测性设计扫描链自动测试向量生成存储器内建自测试 SOC; Keywords DFT scan chain atpg MBIST SoC; 分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法	詹文法程一飞吴海峰江健生	《东南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心	2018	1	在线阅读下载PDF 职称材料
2	带有故障性质预测的自动测试向量求解模型	贺丽媛黄俊华陶继平	《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心	2023	0	在线阅读下载PDF 职称材料
3	集成电路测试原理和向量生成方法分析	宋尚升	《现代电子技术》	2014	14	在线阅读下载PDF 职称材料
4	基于片上PLL时钟的at-speed测试设计	孙大成	《中国集成电路》	2009	0	在线阅读下载PDF 职称材料
5	基于EDT的扫描测试压缩电路优化方法	李松赵毅强叶茂	《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心	2020	0	在线阅读下载PDF 职称材料
6	一种复杂SoC可测性的设计与实现(英文)	虞致国魏敬和杨兵	《电子器件》 CAS	2009	3	在线阅读下载PDF 职称材料