基于MAF模型的串扰时延故障的测试矢量生成 被引量：3

1

作者 颜学龙 梁晓琳 尚玉玲 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2009年第19期62-65,共4页

随着深亚微米技术,串扰噪声问题越来越严重。利用MAF模型的基本思想,探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量。对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况... 随着深亚微米技术,串扰噪声问题越来越严重。利用MAF模型的基本思想,探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量。对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试。在标准电路ISCAS’85上进行实验验证,结果表明:该算法对于多攻击线的串扰时延故障的测试矢量产生是有效的。 展开更多

关键词 时延故障 多攻击线 最大攻击线故障模型 测试矢量生成 FAN算法

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功能测试矢量的重排与测试时间的压缩 被引量：2

2

作者 范志翔 罗岚 陆生礼 《现代电子技术》 2006年第5期82-83,89,共3页

对于集成电路测试而言,测试时间与成本直接相关,减少测试所需的时间意味着测试成本的降低。对于大型的测试矢量集,由于ATE存储器大小的限制,无法一次装载所有的测试矢量,需要多次的loadunload过程,从而浪费了大量的时间。通过测试矢量... 对于集成电路测试而言,测试时间与成本直接相关,减少测试所需的时间意味着测试成本的降低。对于大型的测试矢量集,由于ATE存储器大小的限制,无法一次装载所有的测试矢量,需要多次的loadunload过程,从而浪费了大量的时间。通过测试矢量顺序的优化可以有效地减少重载次数而大大降低测试所需时间。应用模拟退火算法可以对测试矢量顺序进行全局的优化,得到该问题的近似最优解。 展开更多

关键词 测试时间 ATE 测试矢量顺序 模拟退失算法

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SOC测试矢量压缩技术

3

作者 郭凯 方向忠 邓宁 《电子测量技术》 2005年第4期39-40,共2页

为了减少SOC芯片的测试容量和缩短测试时间,可以在下载前压缩测试数据。文中利用SOC测试矢量间的相关性,提出基于矢量间编码的压缩算法,在有很好的压缩效率的同时,它的解压缩算法能够很简单地在嵌入式微处理器上用软件实现。

关键词 测试矢量 嵌入式微处理器 SOC芯片 压缩技术 压缩算法 测试时间 测试数据 压缩效率 软件实现 编码

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ASIC设计中测试矢量产生与验证

4

作者 居水荣 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2001年第3期42-47,共6页

介绍了ＡＳＩＣ设计过程中测试矢量的产生与验证步骤，包括激励编写规则、波形检查、测试矢量的获得以及测试矢量的验证。

关键词 专用集成电路设计 验证 测试矢量 激励 波形

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对火箭发动机推力矢量测试系统的标定 被引量：8

5

作者 王志勇 孙宝元 +3 位作者 张军 钱敏 翟怡 任宗金 《传感器与微系统》 CSCD 北大核心 2007年第1期64-66,共3页

重点介绍了一种用于测量火箭发动机推力矢量的压电式测试系统,并设计了对测试系统进行静态标定和动态标定的装置。多次标定结果表明:该推力矢量测试系统静态性能良好,灵敏度、线性度都达到了设计要求,直接输出的向间横向干扰在5%以内;... 重点介绍了一种用于测量火箭发动机推力矢量的压电式测试系统,并设计了对测试系统进行静态标定和动态标定的装置。多次标定结果表明:该推力矢量测试系统静态性能良好,灵敏度、线性度都达到了设计要求,直接输出的向间横向干扰在5%以内;动态性能优异,响应迅速,无滞后现象和振荡现象的出现。 展开更多

关键词 压电石英 推力矢量测试系统 静态标定 动态标定

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基于有限元分析的推力矢量测试平台研究 被引量：8

6

作者 王红艳 孙宝元 +1 位作者 钱敏 张军 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2006年第5期618-620,共3页

重点介绍了一种压电石英式推力矢量测试平台。用有限元分析工具对测力平台模型进行静力学分析,并对测力平台的关键尺寸进行结构参数优化设计,以达到减少非线性和横向干扰的目的。实验结果表明:该测力平台具有良好的静态性能指标,灵敏度... 重点介绍了一种压电石英式推力矢量测试平台。用有限元分析工具对测力平台模型进行静力学分析,并对测力平台的关键尺寸进行结构参数优化设计,以达到减少非线性和横向干扰的目的。实验结果表明:该测力平台具有良好的静态性能指标,灵敏度、线性度都达到了设计要求,直接输出的相间干扰在2%以内,可以满足推力矢量测量的需要。 展开更多

关键词 压电石英 推力矢量/测试平台 有限元分析 优化设计

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MS4623B矢量网络测试系统

7

《电信科学》 北大核心 2001年第7期68-68,共1页

关键词 MS4623B 矢量网络测试系统 通信网

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基于多频测试和神经网络的模拟电路故障诊断 被引量：8

8

作者 王承 叶韵 +1 位作者 梁海浪 何进 《计算机工程与应用》 CSCD 2013年第5期1-3,7,共4页

多频测试使模拟电路响应的故障状态和正常状态差异最大化,而神经网络具有解决复杂分类问题的能力。结合两者优点,提出一种基于多频测试和神经网络的故障诊断方法:通过灵敏度分析指导多频测试矢量生成,选择最优测试激励;提取各测试节点... 多频测试使模拟电路响应的故障状态和正常状态差异最大化,而神经网络具有解决复杂分类问题的能力。结合两者优点,提出一种基于多频测试和神经网络的故障诊断方法:通过灵敏度分析指导多频测试矢量生成,选择最优测试激励;提取各测试节点响应的故障信息,利用神经网络对各种状态下的特征向量进行分类决策,实现对故障元件的检测和定位。实验结果表明,该方法对模拟电路故障诊断非常有效,具有很强的实用性。 展开更多

关键词 多频测试 神经网络 模拟电路 故障诊断 测试矢量生成

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基于多配置LFSR的测试生成结构设计 被引量：2

9

作者 李鹏 颜学龙 孙元 《计算机工程与科学》 CSCD 北大核心 2014年第5期814-820,共7页

针对内建自测试技术中传统的测试生成故障覆盖率过低、硬件开销过大等缺点,提出了一种多配置LFSR的混合测试矢量生成结构,结构利用矩阵理论先后对随机性矢量和确定性矢量进行反馈网络的配置;针对确定性矢量的生成,提出了一种反馈配置解... 针对内建自测试技术中传统的测试生成故障覆盖率过低、硬件开销过大等缺点,提出了一种多配置LFSR的混合测试矢量生成结构,结构利用矩阵理论先后对随机性矢量和确定性矢量进行反馈网络的配置;针对确定性矢量的生成,提出了一种反馈配置解的寻优算法,在一定程度上减少了硬件开销,因结构生成的混合测试矢量可以同时检测出被测电路中的随机矢量可测性故障和抗随机性故障,进而保证了测试故障覆盖率。最后,通过实例和对几种综合基准电路的测试,验证了该方案的可行性。 展开更多

关键词 内建自测试 混合测试矢量 多配置LFSR 配置向量优化

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混合信号集成电路测试中的约束条件分析 被引量：1

10

作者 孙秀斌 陈光(礻禹) 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第z2期68-69,共2页

对于混合信号集成电路来说,其模拟和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入。为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对模拟输入的约束要求。本文根据被测电路的测试矢量集,分析混合信号集成电路测试中所需的限制条件并给出... 对于混合信号集成电路来说,其模拟和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入。为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对模拟输入的约束要求。本文根据被测电路的测试矢量集,分析混合信号集成电路测试中所需的限制条件并给出相应的模拟激励。 展开更多

关键词 混合信号集成电路 测试矢量 约 束

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逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法

11

作者 崔小乐 杨轩 +1 位作者 程作霖 李崇仁 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2015年第1期184-191,共8页

针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入... 针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入组合情况下的功耗权重进行了分析;根据逻辑仿真结果,引入功耗权重指标来描述在不同矢量组合输入条件下被测电路的功耗;以哈密尔顿回路为模型,采用遗传算法在功耗权重的引导下进行优化输入矢量序列的选取.在ISCAS’85基准电路上的实验数据表明,文中方法选取的输入矢量序列可在保持较高电路功耗的同时有效地减少电路中无跳变节点的数量,起到了功耗均匀化的效果. 展开更多

关键词 老化试验 自动测试矢量生成 转换故障 功耗权重

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IP芯核测试响应的零混叠空间压缩

12

作者 谢永乐 孙秀斌 +2 位作者 王玉文 胡兵 陈光 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第4期395-398,421,共5页

提出了一种片上系统内嵌IP芯核测试响应的空间压缩方法。将内建自测试中的测试矢量(样式)计算器状态作为空间压缩器的输入,只需利用被测芯核的测试集及对应无故障响应便能实现零混叠空间压缩,具有经单步压缩便可实现最大压缩比的特点,... 提出了一种片上系统内嵌IP芯核测试响应的空间压缩方法。将内建自测试中的测试矢量(样式)计算器状态作为空间压缩器的输入,只需利用被测芯核的测试集及对应无故障响应便能实现零混叠空间压缩,具有经单步压缩便可实现最大压缩比的特点,故在测试时间开销上优于经两步(模式)压缩才能实现零混叠的方法[1～2 ]。该方法不要求测试矢量的排序[3] ,故对IP芯核的确定性测试及伪随机测试皆适用。 展开更多

关键词 IP芯核 空间 混叠 响应 测试矢量 内建自测试 伪随机测试 确定性测试 压缩方法 片上系统 测试时间 压缩器 计算器 测试集 压缩比

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边界扫描测试生成与故障诊断的研究与实现 被引量：7

13

作者 韦翠荣 颜学龙 尚玉玲 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2015年第1期303-308,共6页

随着电子技术的日益发展,电子电路系统的集成度和复杂性越来越高,边界扫描技术应用越来越广泛。在研究边界扫描基本结构和测试原理的基础上,给出互连测试矢量生成与故障诊断算法,对互连测试矢量生成和故障诊断进行研究与实现。使用VS200... 随着电子技术的日益发展,电子电路系统的集成度和复杂性越来越高,边界扫描技术应用越来越广泛。在研究边界扫描基本结构和测试原理的基础上,给出互连测试矢量生成与故障诊断算法,对互连测试矢量生成和故障诊断进行研究与实现。使用VS2008软件作为平台开发边界扫描测试系统,采用走步1算法和改良计数算法进行矢量的生成,并根据W步自适应算法进行故障诊断。结果表明,系统自动生成的测试矢量测试时间短,效果好,故障诊断能力强,诊断部分能够消除征兆混淆和征兆误判现象,对设置的故障能够精确地定位和隔离。 展开更多

关键词 边界扫描 测试矢量 互连测试 故障诊断 测试系统

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集成电路测试系统通道板的研究与设计 被引量：2

14

作者 项赵嘉 李颜 张侃谕 《电子测量技术》 2011年第1期124-127,共4页

介绍了一种基于FPGA的集成电路测试系统测试通道板,通过FPGA实现矢量格式化器与PCI接口电路,提高了板卡的集成度和测试矢量调制的速度。通过多路时钟脉冲,对测试矢量进行调制。在Quartus Ⅱ环境下,使用Verilog语言实现矢量格式化器中各... 介绍了一种基于FPGA的集成电路测试系统测试通道板,通过FPGA实现矢量格式化器与PCI接口电路,提高了板卡的集成度和测试矢量调制的速度。通过多路时钟脉冲,对测试矢量进行调制。在Quartus Ⅱ环境下,使用Verilog语言实现矢量格式化器中各个控制单元,并使用Modelsim对格式化器源程序进行测试仿真。同时,使用引脚电子阵列对格式化波形进行驱动,保证了测试的稳定性和高效性,并将输出结果与期望值进行比较,从而验证芯片功能是否与设计一致。 展开更多

关键词 测试矢量 PCI FPGA 格式化器 引脚电子

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超大规模集成电路测试技术 被引量：6

15

作者 朱莉 林其伟 《中国测试技术》 2006年第6期117-120,共4页

随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术... 随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术的发展趋势。 展开更多

关键词 测试生成算法 自动测试矢量生成 可测性设计 内建自测试 存储器测试 静态功耗电流

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八位嵌入式微处理器内核的测试方法研究

16

作者 高力立 单羽 《实验技术与管理》 CAS 2001年第1期57-60,共4页

本文在对八位嵌入式微处理器内核性能分析的基础上研究了它的测试方法，并对其测试矢量做了介绍。

关键词 八位嵌入式微处理器内核 测试矢量 测试方法 智能卡

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基于时钟的数字电路可重构BIST设计研究 被引量：3

17

作者 夏继军 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2017年第1期134-138,共5页

研究了基于时钟的数字电路可重构内建自测试(BIST)设计。BIST不通过ATE设备加载测试矢量和检测测试响应,通过内置激励电路和响应分析电路来实现。在很大程度上降低了对ATE带宽的要求。当前电路集成度高,整体测试时可观察性和可控制性不... 研究了基于时钟的数字电路可重构内建自测试(BIST)设计。BIST不通过ATE设备加载测试矢量和检测测试响应,通过内置激励电路和响应分析电路来实现。在很大程度上降低了对ATE带宽的要求。当前电路集成度高,整体测试时可观察性和可控制性不理想,测试效果不佳,因此将大规模数字电路进行划分测试,通过基于时钟的可重构BIST设计,减少电路的测试矢量数,进而减小测试功耗。通过对可重构BIST各模块进行仿真和故障模拟验证,验证了设计的可行性。 展开更多

关键词 数字电路 内建自测试 测试矢量 故障模拟仿真

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基于模拟的验证技术在CPU设计中的应用

18

作者 吕涛 李华伟 +1 位作者 李晓维 樊建平 《同济大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第10期1257-1261,共5页

在一款通用CPU设计中 ,应用了多种验证技术 ,包括基于测试矢量的验证、基于覆盖率的验证等等 .通过理论分析和实验研究 ,不同的技术显现出各自适用的时机和方式 .实验和分析结果进一步表明了各种验证技术的特点及其在工程应用中的有效性 .

关键词 验证技术 CPU 设计验证 模拟 测试矢量自动产生 覆盖率 设计方法 芯片设计

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含存储器数字电路板的TPS开发研究

19

作者 成本茂 鞠艳秋 +1 位作者 王红 杨士元 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第12期926-929,934,共5页

提出了含存储器数字电路板的两种测试矢量集(TPS)开发方案。对含少量存储器芯片的电路板采用结构化的测试方案,即将RAM等效成时序电路模型,利用时序电路ATPG软件进行测试生成。对以RAM为主的存储器板提出了一种功能测试方案,采取压缩地... 提出了含存储器数字电路板的两种测试矢量集(TPS)开发方案。对含少量存储器芯片的电路板采用结构化的测试方案,即将RAM等效成时序电路模型,利用时序电路ATPG软件进行测试生成。对以RAM为主的存储器板提出了一种功能测试方案,采取压缩地址空间的方法,对RAM阵列进行读写操作。实际应用证明,这两种方案较好地满足了实际应用中的需要。 展开更多

关键词 存储器 测试矢量集 结构测试 功能测试

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基于免疫粒子群文化算法的数字电路故障诊断 被引量：3

20

作者 申延强 韩华亭 《火力与指挥控制》 CSCD 北大核心 2016年第8期192-195,共4页

为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将... 为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将其应用于数字电路故障模型仿真实验并与其他测试生成算法进行对比,结果表明该算法能够有效提高故障覆盖率,缩短测试生成时间,在大规模电路测试生成与故障诊断中更具优势。 展开更多

关键词 数字电路 测试生成 测试矢量 免疫粒子群算法 文化算法

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