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一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法
被引量：
1
1
作者
詹文法
程一飞
+1 位作者
吴海峰
江健生
《东南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018年第2期265-269,共5页
针对芯片测试过程中自动测试设备需要向被测芯片传输大量测试数据的问题,提出了一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法.该方法根据信号值计算对应的原始输入,在测试生成中嵌入广义折叠技术,确保按广义折叠规律生成广义折叠集,将原...
针对芯片测试过程中自动测试设备需要向被测芯片传输大量测试数据的问题,提出了一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法.该方法根据信号值计算对应的原始输入,在测试生成中嵌入广义折叠技术,确保按广义折叠规律生成广义折叠集,将原始测试数据的直接存储转换成对广义折叠集种子和折叠距离的间接存储.硬故障测试集实验结果显示,在同等实验环境下,所提方法的压缩率相对于传统的广义折叠技术平均提高了1.17%.Mintest故障集实验结果显示,相对于国际上通用的Golomb码、FDR码、VIHC码和EFDR码,所提方法的压缩率分别提高了22.45%,17.01%,14.40%和11.91%.
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关键词
广义折叠集
折叠集
测试
数据压缩
自动
测试
向量
生成
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职称材料
基于K近邻的数字电路自动测试向量生成方法
被引量：
2
2
作者
李文星
王天成
李华伟
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2023年第11期1802-1810,共9页
基于分支限界搜索的自动测试向量生成(ATPG)是数字电路测试中的关键技术,搜索中的回溯次数对ATPG性能造成很大影响.为了减少ATPG回溯次数,提出一种基于K近邻(KNN)的数字电路ATPG方法.将机器学习中的KNN算法引入POEDM测试生成算法,KNN结...
基于分支限界搜索的自动测试向量生成(ATPG)是数字电路测试中的关键技术,搜索中的回溯次数对ATPG性能造成很大影响.为了减少ATPG回溯次数,提出一种基于K近邻(KNN)的数字电路ATPG方法.将机器学习中的KNN算法引入POEDM测试生成算法,KNN结合电路结构数据和可测试性度量信息来指导PODEM算法中回退路径的选择,替代传统的启发式策略,以尽快地到达有效决策点,减少回溯次数.在ISCAS85,ISCAS89和ITC99基准电路上进行验证,与传统启发式策略以及一种基于人工神经网络(ANN)的回退路径选择策略相比,所提方法在回溯次数、回退次数、运行时间和故障覆盖率指标方面分别实现了最高1625.0%,466.0%,260.0%和2.2%的改进.同时,相比基于ANN的方法,KNN没有显式的训练过程,在搭建模型阶段能够节省一定的显存资源开销,并且可以使用更少的训练集样本得到有效的预测模型.
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关键词
数字电路
测试
自动
测试
向量
生成
K近邻
分支限界搜索
回溯次数
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职称材料
带有故障性质预测的自动测试向量求解模型
3
作者
贺丽媛
黄俊华
陶继平
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2023年第12期3540-3548,共9页
基于布尔满足模型的自动测试向量生成是芯片故障检测的关键环节,相应布尔问题的求解已然成为整个故障检测过程的效率瓶颈.本文研究了主流自动测试向量求解框架中不同算子对求解效率的影响,在保证测试向量求解流程完备性的同时引入基于...
基于布尔满足模型的自动测试向量生成是芯片故障检测的关键环节,相应布尔问题的求解已然成为整个故障检测过程的效率瓶颈.本文研究了主流自动测试向量求解框架中不同算子对求解效率的影响,在保证测试向量求解流程完备性的同时引入基于深度学习的故障分析机制,并将分析结果用于算子的自动选择和初始求解状态的确定,旨在优化整体求解进程.针对因真实电路故障数据不足导致模型学习效果欠佳的问题,本文利用生成对抗网络实现数据增广,结合多层图卷积神经网络促进高效表征学习,从而提高故障性质的预测精度.在若干真实电路上的实验结果表明,本文所提出的新框架与原有框架相比,平均求解效率提升近20%.
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关键词
自动
测试
向量
生成
图神经网络
生成
对抗网络
数据增广
算子选择
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职称材料
基于极小碰集求解算法的测试向量集约简
被引量：
3
4
作者
欧阳丹彤
陈晓艳
+2 位作者
叶靖
邓召勇
张立明
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2019年第11期2448-2457,共10页
自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短...
自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明:该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量.
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关键词
电路
测试
自动
测试
向量
生成
测试
向量
集
约简
故障覆盖率
极小碰集
固定型故障
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职称材料
基于最小集合覆盖求解方法的测试向量集约简
被引量：
1
5
作者
欧阳丹彤
郭江姗
张立明
《湖南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020年第12期61-68,共8页
TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具,能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模,提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法,利用这一算法...
TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具,能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模,提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法,利用这一算法可以在保证测试向量集故障覆盖率不变的基础上有效地缩减测试集规模,从而降低电路测试成本.实验结果表明该方法对于固定故障类型和静态电路故障类型均具有良好的约简效果.
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关键词
自动
测试
向量
生成
测试
向量
集约简
最小集合覆盖
局部搜索
故障类型
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职称材料
基于BDD和布尔差分的组合电路测试生成方法
6
作者
欧阳一鸣
牟屹
梁华国
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2008年第5期1450-1452,1523,共4页
引入布尔差分的思想,对被测电路函数的BDD结构进行判断生成测试向量。本方案较传统的以图进行搜索的ATPG方法有效地减少了时空开销,并将布尔差分的理论方法应用于实际。实验表明,本方案可以有效地进行测试生成。
关键词
二元决策图
布尔差分
自动
测试
向量
生成
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职称材料
数字电路测试压缩方法研究(英文)
被引量：
3
7
作者
韩银和
李晓维
《中国科学院研究生院学报》
CAS
CSCD
2007年第6期847-857,共11页
测试压缩可以在没有故障覆盖率损失的情况下,极大地降低测试时间和测试数据量,弥补了测试设备和芯片制造能力提升之间的差距,受到学术界和工业界的广泛关注.测试数据分为测试激励和测试响应2种,测试压缩也对应分为测试激励压缩和测试响...
测试压缩可以在没有故障覆盖率损失的情况下,极大地降低测试时间和测试数据量,弥补了测试设备和芯片制造能力提升之间的差距,受到学术界和工业界的广泛关注.测试数据分为测试激励和测试响应2种,测试压缩也对应分为测试激励压缩和测试响应压缩2个方面.本文针对这2方面分别展开了研究.主要贡献包含:(1)提出了一种Variable-Tail编码.Variable-Tail是一种变长-变长的编码,对于X位密度比较高的测试向量能够取得更高的测试压缩率.实验数据表明,如结合测试向量排序算法,则使用Variable-Tail编码可以取得很接近于编码压缩理论上界的压缩效果(平均差距在1.26 %左右) ,同时还可以减少20 %的测试功耗.(2)提出了一种并行芯核外壳设计方法.研究发现了测试向量中存在着扫描切片重叠和部分重叠现象.当多个扫描切片重叠时,它们仅需要装载一次,这样就可以大大减少测试时间和测试数据量.实验结果表明,使用并行外壳设计,测试时间可以减少到原来的2/3 ,测试功耗可以减少到原来的1/15 .(3)提出了3X测试压缩结构.3X测试压缩结构包含了3个主要技术:X-Config激励压缩、X-Balance测试产生和X-Tolerant响应压缩.X-Config激励压缩提出了一个周期可重构的MUX网络.X-Balance测试产生综合考虑了动态压缩、测试数据压缩和扫描设计等因素,产生测试向量.它使用了回溯消除算法和基于确定位概率密度的扫描链设计算法,减少测试向量体积.X-Tolerant响应压缩提出了一种单输出的基于卷积编码的压缩电路.该压缩电路只需要一个数据,因此总能保证最大的压缩率.同时为了提高对X位的容忍能力,还提出了一个多权重的基本校验矩阵生成算法.
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关键词
系统芯片
测试
激励压缩
测试
响应压缩
扫描设计
自动
测试
向量
生成
(ATPG)
不关心位
未知位
卷积编码
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职称材料
一种新的面向应用的FPGA测试方法(英文)
被引量：
3
8
作者
林腾
冯建华
+1 位作者
赵建兵
王阳元
《北京大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第3期402-408,共7页
提出一种新的面向应用的FPGA测试方法。该方法将FPGA设计配置(DC)抽象成由LUT、非LUT逻辑门、寄存器和互连线所组成的模型,将目标故障集设定为互连线的固定故障(SAFI)和LUT的功能故障(FFL)。提出了两种可选的测试配置(TC)以提高自动测...
提出一种新的面向应用的FPGA测试方法。该方法将FPGA设计配置(DC)抽象成由LUT、非LUT逻辑门、寄存器和互连线所组成的模型,将目标故障集设定为互连线的固定故障(SAFI)和LUT的功能故障(FFL)。提出了两种可选的测试配置(TC)以提高自动测试向量生成(ATPG)工具所得到的SAFI覆盖率,同时给出了可对LUT进行穷举测试的TC以检测FFL。实验结果表明,对于7个最大的ISCAS89基准电路,该方法可得到86.82%～99.16%的SAFI覆盖率和100%的FFL覆盖率。
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关键词
面向应用的
测试
现场可编程门阵列
自动
测试
向量
生成
查找表
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职称材料
基于EDT的扫描测试压缩电路优化方法
9
作者
李松
赵毅强
叶茂
《北京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020年第8期1601-1609,共9页
为了在集成电路可测试性设计(DFT)中实现更有效的测试向量压缩,减少测试数据容量和测试时间,采用嵌入式确定性测试(EDT)的扫描测试压缩方案分别对S13207、S15850、S38417和S38584基准电路进行了优化分析,通过研究测试向量和移位周期等...
为了在集成电路可测试性设计(DFT)中实现更有效的测试向量压缩,减少测试数据容量和测试时间,采用嵌入式确定性测试(EDT)的扫描测试压缩方案分别对S13207、S15850、S38417和S38584基准电路进行了优化分析,通过研究测试向量和移位周期等影响测试压缩的因素,提出了固定测试端口和固定压缩率的扫描测试压缩电路优化方法。结果表明,在测试端口数量都为2,压缩率分别为12、14、16和24时具有较好的压缩效果,与传统自动测试向量生成(ATPG)相比,固定故障的测试数据容量减小了3.9~6.4倍,测试时间减少了3.8~6.2倍,跳变延时故障的测试数据容量减少了4.1~5.4倍,测试时间减少了3.8~5.2倍。所提方法通过改变测试端口数和压缩率的方式讨论了多种影响测试压缩的因素,给出扫描测试压缩电路的优化设计方案,提高了压缩效率,并对一个较大规模电路进行了仿真验证,可适用于集成电路的扫描测试压缩设计。
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关键词
可
测试
性设计(DFT)
扫描
测试
压缩
测试
数据容量
测试
时间
嵌入式确定性
测试
(EDT)
自动
测试
向量
生成
(ATPG)
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职称材料
ASIC集成电路的可测性设计与技术实现
被引量：
3
10
作者
韩威
江川
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2009年第4期289-292,共4页
ASIC集成电路设计开发中的隐含逻辑瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困境,针对不同特性的电路提出了内部逻辑扫描、存储器内建自测试、边界扫描链插入以及ATPG自动测试向量生成的解决方案与技术方法,实现了SOC设计开发中逻辑与成片电路...
ASIC集成电路设计开发中的隐含逻辑瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困境,针对不同特性的电路提出了内部逻辑扫描、存储器内建自测试、边界扫描链插入以及ATPG自动测试向量生成的解决方案与技术方法,实现了SOC设计开发中逻辑与成片电路的主动侦测与跟踪寻径,经实践证明这些方法大大提高了复杂SOC研制的成功率。
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关键词
SOC
测试
可测性设计
主动
测试
技术
故障模型
测试向量自动生成
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职称材料
题名
一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法
被引量：
1
1
作者
詹文法
程一飞
吴海峰
江健生
机构
安庆师范大学计算机与信息学院
出处
《东南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018年第2期265-269,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目(61306046
61640421)
文摘
针对芯片测试过程中自动测试设备需要向被测芯片传输大量测试数据的问题,提出了一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法.该方法根据信号值计算对应的原始输入,在测试生成中嵌入广义折叠技术,确保按广义折叠规律生成广义折叠集,将原始测试数据的直接存储转换成对广义折叠集种子和折叠距离的间接存储.硬故障测试集实验结果显示,在同等实验环境下,所提方法的压缩率相对于传统的广义折叠技术平均提高了1.17%.Mintest故障集实验结果显示,相对于国际上通用的Golomb码、FDR码、VIHC码和EFDR码,所提方法的压缩率分别提高了22.45%,17.01%,14.40%和11.91%.
关键词
广义折叠集
折叠集
测试
数据压缩
自动
测试
向量
生成
Keywords
generalized folding set
folding set
test data compression
automatic test pattern generation
分类号
TP391.4 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
基于K近邻的数字电路自动测试向量生成方法
被引量：
2
2
作者
李文星
王天成
李华伟
机构
中国科学院计算技术研究所处理器芯片全国重点实验室
中国科学院大学计算机科学与技术学院
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2023年第11期1802-1810,共9页
基金
国家重点研发计划(2020YFB1600201)
国家自然科学基金(62090024,U20A20202)。
文摘
基于分支限界搜索的自动测试向量生成(ATPG)是数字电路测试中的关键技术,搜索中的回溯次数对ATPG性能造成很大影响.为了减少ATPG回溯次数,提出一种基于K近邻(KNN)的数字电路ATPG方法.将机器学习中的KNN算法引入POEDM测试生成算法,KNN结合电路结构数据和可测试性度量信息来指导PODEM算法中回退路径的选择,替代传统的启发式策略,以尽快地到达有效决策点,减少回溯次数.在ISCAS85,ISCAS89和ITC99基准电路上进行验证,与传统启发式策略以及一种基于人工神经网络(ANN)的回退路径选择策略相比,所提方法在回溯次数、回退次数、运行时间和故障覆盖率指标方面分别实现了最高1625.0%,466.0%,260.0%和2.2%的改进.同时,相比基于ANN的方法,KNN没有显式的训练过程,在搭建模型阶段能够节省一定的显存资源开销,并且可以使用更少的训练集样本得到有效的预测模型.
关键词
数字电路
测试
自动
测试
向量
生成
K近邻
分支限界搜索
回溯次数
Keywords
digital circuit testing
automatic test pattern generation
K-nearest neighbor
branch-and-bound search
number of backtracks
分类号
TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
带有故障性质预测的自动测试向量求解模型
3
作者
贺丽媛
黄俊华
陶继平
机构
厦门大学自动化系
华为诺亚方舟实验室
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2023年第12期3540-3548,共9页
基金
福建省自然科学基金(No.2020J01053)。
文摘
基于布尔满足模型的自动测试向量生成是芯片故障检测的关键环节,相应布尔问题的求解已然成为整个故障检测过程的效率瓶颈.本文研究了主流自动测试向量求解框架中不同算子对求解效率的影响,在保证测试向量求解流程完备性的同时引入基于深度学习的故障分析机制,并将分析结果用于算子的自动选择和初始求解状态的确定,旨在优化整体求解进程.针对因真实电路故障数据不足导致模型学习效果欠佳的问题,本文利用生成对抗网络实现数据增广,结合多层图卷积神经网络促进高效表征学习,从而提高故障性质的预测精度.在若干真实电路上的实验结果表明,本文所提出的新框架与原有框架相比,平均求解效率提升近20%.
关键词
自动
测试
向量
生成
图神经网络
生成
对抗网络
数据增广
算子选择
Keywords
automation test pattern generation
graph neural network
generative adversarial network
data augmentation
operator selection
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP183 [自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]
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职称材料
题名
基于极小碰集求解算法的测试向量集约简
被引量：
3
4
作者
欧阳丹彤
陈晓艳
叶靖
邓召勇
张立明
机构
吉林大学计算机科学与技术学院
计算机体系结构国家重点实验室(中国科学院计算技术研究所)
符号计算与知识工程教育部重点实验室(吉林大学)
中国科学院计算技术研究所
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2019年第11期2448-2457,共10页
基金
国家自然科学基金项目(61672261,61502199,61402196,61872159,61704174)~~
文摘
自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明:该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量.
关键词
电路
测试
自动
测试
向量
生成
测试
向量
集
约简
故障覆盖率
极小碰集
固定型故障
Keywords
circuit test
automatic test pattern generation(ATPG)
test pattern set
reduction
fault coverage
minimal hitting set
stuck-at fault
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP306 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于最小集合覆盖求解方法的测试向量集约简
被引量：
1
5
作者
欧阳丹彤
郭江姗
张立明
机构
吉林大学计算机科学与技术学院
符号计算与知识工程教育部重点实验室(吉林大学)
出处
《湖南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020年第12期61-68,共8页
基金
国家自然科学基金资助项目(61872159,61672261,61502199)。
文摘
TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具,能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模,提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法,利用这一算法可以在保证测试向量集故障覆盖率不变的基础上有效地缩减测试集规模,从而降低电路测试成本.实验结果表明该方法对于固定故障类型和静态电路故障类型均具有良好的约简效果.
关键词
自动
测试
向量
生成
测试
向量
集约简
最小集合覆盖
局部搜索
故障类型
Keywords
Automatic test pattern generation
test pattern set reduction
minimum set covering
local search
fault type
分类号
TP301.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于BDD和布尔差分的组合电路测试生成方法
6
作者
欧阳一鸣
牟屹
梁华国
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
出处
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2008年第5期1450-1452,1523,共4页
基金
国家自然科学基金重大研究计划资助项目(90407008)
国家自然科学基金重点资助项目(60633060)
安徽省自然科学基金资助项目(050420103)
文摘
引入布尔差分的思想,对被测电路函数的BDD结构进行判断生成测试向量。本方案较传统的以图进行搜索的ATPG方法有效地减少了时空开销,并将布尔差分的理论方法应用于实际。实验表明,本方案可以有效地进行测试生成。
关键词
二元决策图
布尔差分
自动
测试
向量
生成
Keywords
binary decision diagram（BDD）
Boolean difference
automatic test pattern generation（ATPG）
分类号
TP331 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
在线阅读
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职称材料
题名
数字电路测试压缩方法研究(英文)
被引量：
3
7
作者
韩银和
李晓维
机构
中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室先进测试技术实验
中国科学院研究生院
出处
《中国科学院研究生院学报》
CAS
CSCD
2007年第6期847-857,共11页
基金
supported by Hi-Tech Research and Development Program of China(2007AA01Z109)
the National Natural Science Foundation of China(60633060)
by the National Basic Research Program of China (973)(2005CB321604)
文摘
测试压缩可以在没有故障覆盖率损失的情况下,极大地降低测试时间和测试数据量,弥补了测试设备和芯片制造能力提升之间的差距,受到学术界和工业界的广泛关注.测试数据分为测试激励和测试响应2种,测试压缩也对应分为测试激励压缩和测试响应压缩2个方面.本文针对这2方面分别展开了研究.主要贡献包含:(1)提出了一种Variable-Tail编码.Variable-Tail是一种变长-变长的编码,对于X位密度比较高的测试向量能够取得更高的测试压缩率.实验数据表明,如结合测试向量排序算法,则使用Variable-Tail编码可以取得很接近于编码压缩理论上界的压缩效果(平均差距在1.26 %左右) ,同时还可以减少20 %的测试功耗.(2)提出了一种并行芯核外壳设计方法.研究发现了测试向量中存在着扫描切片重叠和部分重叠现象.当多个扫描切片重叠时,它们仅需要装载一次,这样就可以大大减少测试时间和测试数据量.实验结果表明,使用并行外壳设计,测试时间可以减少到原来的2/3 ,测试功耗可以减少到原来的1/15 .(3)提出了3X测试压缩结构.3X测试压缩结构包含了3个主要技术:X-Config激励压缩、X-Balance测试产生和X-Tolerant响应压缩.X-Config激励压缩提出了一个周期可重构的MUX网络.X-Balance测试产生综合考虑了动态压缩、测试数据压缩和扫描设计等因素,产生测试向量.它使用了回溯消除算法和基于确定位概率密度的扫描链设计算法,减少测试向量体积.X-Tolerant响应压缩提出了一种单输出的基于卷积编码的压缩电路.该压缩电路只需要一个数据,因此总能保证最大的压缩率.同时为了提高对X位的容忍能力,还提出了一个多权重的基本校验矩阵生成算法.
关键词
系统芯片
测试
激励压缩
测试
响应压缩
扫描设计
自动
测试
向量
生成
(ATPG)
不关心位
未知位
卷积编码
Keywords
system-on-a-chip, test stimulus compression, test response compaction, scan chain design,automatic test patterns generation（ATPG）, don＇t care bits, unknown bits, convolutional code
分类号
TP391.76 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
一种新的面向应用的FPGA测试方法(英文)
被引量：
3
8
作者
林腾
冯建华
赵建兵
王阳元
机构
北京大学信息科学技术学院微电子学系
出处
《北京大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第3期402-408,共7页
基金
国家自然科学基金资助项目(90207018,60576030)
文摘
提出一种新的面向应用的FPGA测试方法。该方法将FPGA设计配置(DC)抽象成由LUT、非LUT逻辑门、寄存器和互连线所组成的模型,将目标故障集设定为互连线的固定故障(SAFI)和LUT的功能故障(FFL)。提出了两种可选的测试配置(TC)以提高自动测试向量生成(ATPG)工具所得到的SAFI覆盖率,同时给出了可对LUT进行穷举测试的TC以检测FFL。实验结果表明,对于7个最大的ISCAS89基准电路,该方法可得到86.82%～99.16%的SAFI覆盖率和100%的FFL覆盖率。
关键词
面向应用的
测试
现场可编程门阵列
自动
测试
向量
生成
查找表
Keywords
application-dependent testing
FPGA
ATPG
LUT
分类号
TN791 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
基于EDT的扫描测试压缩电路优化方法
9
作者
李松
赵毅强
叶茂
机构
天津大学微电子学院
天津市成像与感知微电子技术重点实验室
出处
《北京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020年第8期1601-1609,共9页
文摘
为了在集成电路可测试性设计(DFT)中实现更有效的测试向量压缩,减少测试数据容量和测试时间,采用嵌入式确定性测试(EDT)的扫描测试压缩方案分别对S13207、S15850、S38417和S38584基准电路进行了优化分析,通过研究测试向量和移位周期等影响测试压缩的因素,提出了固定测试端口和固定压缩率的扫描测试压缩电路优化方法。结果表明,在测试端口数量都为2,压缩率分别为12、14、16和24时具有较好的压缩效果,与传统自动测试向量生成(ATPG)相比,固定故障的测试数据容量减小了3.9~6.4倍,测试时间减少了3.8~6.2倍,跳变延时故障的测试数据容量减少了4.1~5.4倍,测试时间减少了3.8~5.2倍。所提方法通过改变测试端口数和压缩率的方式讨论了多种影响测试压缩的因素,给出扫描测试压缩电路的优化设计方案,提高了压缩效率,并对一个较大规模电路进行了仿真验证,可适用于集成电路的扫描测试压缩设计。
关键词
可
测试
性设计(DFT)
扫描
测试
压缩
测试
数据容量
测试
时间
嵌入式确定性
测试
(EDT)
自动
测试
向量
生成
(ATPG)
Keywords
Design for Test(DFT)
scan test compression
test data volume
test time
Embedded Deterministic Test(EDT)
Automatic Test Pattern Generation(ATPG)
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
ASIC集成电路的可测性设计与技术实现
被引量：
3
10
作者
韩威
江川
机构
中国船舶重工集团第
出处
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2009年第4期289-292,共4页
文摘
ASIC集成电路设计开发中的隐含逻辑瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困境,针对不同特性的电路提出了内部逻辑扫描、存储器内建自测试、边界扫描链插入以及ATPG自动测试向量生成的解决方案与技术方法,实现了SOC设计开发中逻辑与成片电路的主动侦测与跟踪寻径,经实践证明这些方法大大提高了复杂SOC研制的成功率。
关键词
SOC
测试
可测性设计
主动
测试
技术
故障模型
测试向量自动生成
Keywords
SOC test, DFT （Design For Testability）, Active test technique, Fault pattern, ATPG （Automatic Test Pattern Generation）
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法
詹文法
程一飞
吴海峰
江健生
《东南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018
1
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职称材料
2
基于K近邻的数字电路自动测试向量生成方法
李文星
王天成
李华伟
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2023
2
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职称材料
3
带有故障性质预测的自动测试向量求解模型
贺丽媛
黄俊华
陶继平
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2023
0
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职称材料
4
基于极小碰集求解算法的测试向量集约简
欧阳丹彤
陈晓艳
叶靖
邓召勇
张立明
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2019
3
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职称材料
5
基于最小集合覆盖求解方法的测试向量集约简
欧阳丹彤
郭江姗
张立明
《湖南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020
1
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职称材料
6
基于BDD和布尔差分的组合电路测试生成方法
欧阳一鸣
牟屹
梁华国
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2008
0
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职称材料
7
数字电路测试压缩方法研究(英文)
韩银和
李晓维
《中国科学院研究生院学报》
CAS
CSCD
2007
3
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职称材料
8
一种新的面向应用的FPGA测试方法(英文)
林腾
冯建华
赵建兵
王阳元
《北京大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009
3
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职称材料
9
基于EDT的扫描测试压缩电路优化方法
李松
赵毅强
叶茂
《北京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020
0
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职称材料
10
ASIC集成电路的可测性设计与技术实现
韩威
江川
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2009
3
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职称材料
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