基于探索式分区和测试向量生成的硬件木马检测方法 被引量：6

1

作者 薛明富 胡爱群 王箭 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第5期1132-1138,共7页

本文提出基于分区和最优测试向量生成的硬件木马检测方法.首先,采用基于扫描细胞分布的分区算法将电路划分为多个区域.然后,提出测试向量重组算法,对各区域依据其自身结构生成近似最优的测试向量.最后,进行分区激活和功耗分析以检测木马... 本文提出基于分区和最优测试向量生成的硬件木马检测方法.首先,采用基于扫描细胞分布的分区算法将电路划分为多个区域.然后,提出测试向量重组算法,对各区域依据其自身结构生成近似最优的测试向量.最后,进行分区激活和功耗分析以检测木马,并采用信号校正技术消减制造变异和噪声的影响.优点是成倍提高了检测精度,克服了制造变异的影响,解决了面对大电路的扩展性问题,并可以定位木马.在基准电路上的验证实验表明检测性能有较大的提升. 展开更多

关键词 硬件安全 硬件木马检测 探索式分区 最优测试向量生成

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无回溯并行多路径搜索测试向量生成算法 被引量：3

2

作者 黄越 于宗光 万书芹 《计算机应用》 CSCD 北大核心 2010年第5期1390-1393,共4页

无回溯并行多路径搜索算法(NBMP)在生成测试向量过程中生成基于原始输入端奇异立方和与原始输出端关联的传输立方,并利用生成的奇异立方和传输立方生成测试向量。算法在实现过程采用无须回溯和多路径探索策略。通过分析和实验结果证明... 无回溯并行多路径搜索算法(NBMP)在生成测试向量过程中生成基于原始输入端奇异立方和与原始输出端关联的传输立方,并利用生成的奇异立方和传输立方生成测试向量。算法在实现过程采用无须回溯和多路径探索策略。通过分析和实验结果证明算法时间复杂度近似为线性。算法对ISCAS85基准电路中规模最大的8个电路进行实验,将实验结果与传统算法进行比较,结果表明NBMP算法故障覆盖率优于传统算法。 展开更多

关键词 数字电路 基准电路 测试向量生成 故障覆盖率 多路径

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覆盖状态内部分枝的测试向量生成 被引量：1

3

作者 杨修涛 鲁巍 +1 位作者 李华伟 李晓维 《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 2006年第4期745-748,共4页

提出一种能兼顾状态内部分枝的状态覆盖方法.在状态内部分枝树的终端结点处添加状态转换语句,将原先的单个转换分成多个转换分枝;从而实现对原先的状态转换进行扩展,使得用传统的状态测试方法就能够覆盖到状态内部的分枝.为了准确描述... 提出一种能兼顾状态内部分枝的状态覆盖方法.在状态内部分枝树的终端结点处添加状态转换语句,将原先的单个转换分成多个转换分枝;从而实现对原先的状态转换进行扩展,使得用传统的状态测试方法就能够覆盖到状态内部的分枝.为了准确描述该过程,文中给出了分枝扩展的形式化方法.在此基础上,给出一个测试向量生成算法:遍历状态转换有向图;依状态间转换条件生成测试向量;依遍历顺序收集测试向量.通过对ITC99-benchmark中时序电路的试验表明,本文方法是有效的. 展开更多

关键词 状态覆盖 分枝覆盖 测试向量生成

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基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成 被引量：1

4

作者 李兆麟 叶以正 毛志刚 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2001年第4期411-419,共9页

针对基于多扫描链的内建自测试技术 ,提出了一种测试向量生成方法 .该方法用一个线性反馈移位寄存器 (L FSR)作为伪随机测试向量生成器 ,同时给所有扫描链输入测试向量 ,并通过构造具有最小相关度的多扫描链来克服扫描链间的相关性对故... 针对基于多扫描链的内建自测试技术 ,提出了一种测试向量生成方法 .该方法用一个线性反馈移位寄存器 (L FSR)作为伪随机测试向量生成器 ,同时给所有扫描链输入测试向量 ,并通过构造具有最小相关度的多扫描链来克服扫描链间的相关性对故障覆盖率的影响 .此外该方法经过模拟确定难测故障集 ,并针对这个难测故障集利用 ATPG生成最小确定性测试向量集 .最后再依据得到的最小测试向量集来设计位改变逻辑电路 ,利用位改变逻辑电路控制改变扫描链上特定位的值来实现对难测故障的检测 ,从而实现被测电路的故障完全检测 . 展开更多

关键词 内建自测试 多扫描链 逻辑电路 测试向量生成

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测试向量生成的新搜索算法 被引量：2

5

作者 曾成碧 陈光 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 2000年第6期73-76,共4页

描述一种新的健全高效的测试向量自动生成方法———测试向量生成的可满足性算法。与现有的测试向量生成算法相比 ,满足性算法是一种有效改进搜索空间的搜索算法 ,运用几种简化技术 ,进一步改进故障诊断的方法。由部分ISCAS’85基准电... 描述一种新的健全高效的测试向量自动生成方法———测试向量生成的可满足性算法。与现有的测试向量生成算法相比 ,满足性算法是一种有效改进搜索空间的搜索算法 ,运用几种简化技术 ,进一步改进故障诊断的方法。由部分ISCAS’85基准电路的仿真结果表明 ,满足性算法健全、有效 ,而且电路增大 。 展开更多

关键词 故障诊断 测试向量生成算法 搜索算法

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改进可满足性的测试向量生成算法

6

作者 曾成碧 陈光 《四川大学学报（工程科学版）》 EI CAS CSCD 2000年第3期54-57,共4页

描述了可满足性的测试向量生成 (SAT ATPG)算法 ,针对此算法的不足 ,提出反向路径敏化算法 (BPS)嵌入SAT ATPG中 ,减少了CNF的构成时间和搜索空间 ,而且减轻故障压缩的工作量 。

关键词 搜索算法 可满足性 测试向量生成算法 集成电路

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加速可满足的测试向量生成算法

7

作者 曾成碧 陈光褕 《实用测试技术》 CAS 2000年第2期1-4,共4页

本文描述了可满足的测试向量生成 (ATPG)算法 ,对可满足的测试向量生成算法的不足 ,提出改进的全局蕴涵及唯一确定值的计算 ,来简化搜索空间、降低搜索量、加速测试生成。

关键词 搜索算法 测试向量生成算法 数字电路

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基于K近邻的数字电路自动测试向量生成方法 被引量：2

8

作者 李文星 王天成 李华伟 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2023年第11期1802-1810,共9页

基于分支限界搜索的自动测试向量生成(ATPG)是数字电路测试中的关键技术,搜索中的回溯次数对ATPG性能造成很大影响.为了减少ATPG回溯次数,提出一种基于K近邻(KNN)的数字电路ATPG方法.将机器学习中的KNN算法引入POEDM测试生成算法,KNN结... 基于分支限界搜索的自动测试向量生成(ATPG)是数字电路测试中的关键技术,搜索中的回溯次数对ATPG性能造成很大影响.为了减少ATPG回溯次数,提出一种基于K近邻(KNN)的数字电路ATPG方法.将机器学习中的KNN算法引入POEDM测试生成算法,KNN结合电路结构数据和可测试性度量信息来指导PODEM算法中回退路径的选择,替代传统的启发式策略,以尽快地到达有效决策点,减少回溯次数.在ISCAS85,ISCAS89和ITC99基准电路上进行验证,与传统启发式策略以及一种基于人工神经网络(ANN)的回退路径选择策略相比,所提方法在回溯次数、回退次数、运行时间和故障覆盖率指标方面分别实现了最高1625.0%,466.0%,260.0%和2.2%的改进.同时,相比基于ANN的方法,KNN没有显式的训练过程,在搭建模型阶段能够节省一定的显存资源开销,并且可以使用更少的训练集样本得到有效的预测模型. 展开更多

关键词 数字电路测试 自动测试向量生成 K近邻 分支限界搜索 回溯次数

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用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器 被引量：2

9

作者 汪昱 邝继顺 《计算机工程与科学》 CSCD 2005年第4期29-30,59,共3页

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的 BIST模块。实验证明,该方法... 检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的 BIST模块。实验证明,该方法用于瞬态电流测试是有效的。 展开更多

关键词 CMOS电路 k测试 内建自测试 BIST模块 测试向量生成器

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用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器

10

作者 邓小飞 邝继顺 《科学技术与工程》 2006年第1期60-63,共4页

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1～2的测试向量对。实验证明,它能以较少的测试向量... 检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1～2的测试向量对。实验证明,它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障。 展开更多

关键词 IDDT BIST 测试向量生成器

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一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法 被引量：1

11

作者 詹文法 程一飞 +1 位作者 吴海峰 江健生 《东南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第2期265-269,共5页

针对芯片测试过程中自动测试设备需要向被测芯片传输大量测试数据的问题,提出了一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法.该方法根据信号值计算对应的原始输入,在测试生成中嵌入广义折叠技术,确保按广义折叠规律生成广义折叠集,将原... 针对芯片测试过程中自动测试设备需要向被测芯片传输大量测试数据的问题,提出了一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法.该方法根据信号值计算对应的原始输入,在测试生成中嵌入广义折叠技术,确保按广义折叠规律生成广义折叠集,将原始测试数据的直接存储转换成对广义折叠集种子和折叠距离的间接存储.硬故障测试集实验结果显示,在同等实验环境下,所提方法的压缩率相对于传统的广义折叠技术平均提高了1.17%.Mintest故障集实验结果显示,相对于国际上通用的Golomb码、FDR码、VIHC码和EFDR码,所提方法的压缩率分别提高了22.45%,17.01%,14.40%和11.91%. 展开更多

关键词 广义折叠集 折叠集 测试数据压缩 自动测试向量生成

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基于极小碰集求解算法的测试向量集约简 被引量：3

12

作者 欧阳丹彤 陈晓艳 +2 位作者 叶靖 邓召勇 张立明 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2019年第11期2448-2457,共10页

自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短... 自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明:该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量. 展开更多

关键词 电路测试 自动测试向量生成 测试向量集 约简 故障覆盖率 极小碰集 固定型故障

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基于最小集合覆盖求解方法的测试向量集约简 被引量：1

13

作者 欧阳丹彤 郭江姗 张立明 《湖南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第12期61-68,共8页

TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具,能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模,提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法,利用这一算法... TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具,能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模,提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法,利用这一算法可以在保证测试向量集故障覆盖率不变的基础上有效地缩减测试集规模,从而降低电路测试成本.实验结果表明该方法对于固定故障类型和静态电路故障类型均具有良好的约简效果. 展开更多

关键词 自动测试向量生成 测试向量集约简 最小集合覆盖 局部搜索 故障类型

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基于BDD和布尔差分的组合电路测试生成方法

14

作者 欧阳一鸣 牟屹 梁华国 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2008年第5期1450-1452,1523,共4页

引入布尔差分的思想,对被测电路函数的BDD结构进行判断生成测试向量。本方案较传统的以图进行搜索的ATPG方法有效地减少了时空开销,并将布尔差分的理论方法应用于实际。实验表明,本方案可以有效地进行测试生成。

关键词 二元决策图 布尔差分 自动测试向量生成

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带有故障性质预测的自动测试向量求解模型

15

作者 贺丽媛 黄俊华 陶继平 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第12期3540-3548,共9页

基于布尔满足模型的自动测试向量生成是芯片故障检测的关键环节,相应布尔问题的求解已然成为整个故障检测过程的效率瓶颈.本文研究了主流自动测试向量求解框架中不同算子对求解效率的影响,在保证测试向量求解流程完备性的同时引入基于... 基于布尔满足模型的自动测试向量生成是芯片故障检测的关键环节,相应布尔问题的求解已然成为整个故障检测过程的效率瓶颈.本文研究了主流自动测试向量求解框架中不同算子对求解效率的影响,在保证测试向量求解流程完备性的同时引入基于深度学习的故障分析机制,并将分析结果用于算子的自动选择和初始求解状态的确定,旨在优化整体求解进程.针对因真实电路故障数据不足导致模型学习效果欠佳的问题,本文利用生成对抗网络实现数据增广,结合多层图卷积神经网络促进高效表征学习,从而提高故障性质的预测精度.在若干真实电路上的实验结果表明,本文所提出的新框架与原有框架相比,平均求解效率提升近20%. 展开更多

关键词 自动测试向量生成 图神经网络 生成对抗网络 数据增广 算子选择

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时序电路状态覆盖向量的遗传方法筛选 被引量：1

16

作者 杨修涛 鲁巍 李晓维 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2006年第2期251-256,共6页

传统的状态覆盖方法对电路的数据单元测试不足,而随机测试方法又具有盲目性·在综合2种方法的基础上,给出一种以状态与状态转换覆盖率为评估、以遗传筛选为工具对生成的测试向量进行择优选择的方法·为了指导测试生成,给出了动... 传统的状态覆盖方法对电路的数据单元测试不足,而随机测试方法又具有盲目性·在综合2种方法的基础上,给出一种以状态与状态转换覆盖率为评估、以遗传筛选为工具对生成的测试向量进行择优选择的方法·为了指导测试生成,给出了动态状态转换与静态状态转换概念·同时,基于该方法给出一个测试生成工具GRTT·最后,将文中方法实验于ITC99-benchmark电路,并将实验结果与测试生成系统X-Pulling的结果进行比较· 展开更多

关键词 静态状态转换 动态状态转换 遗传算法 测试向量生成

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数字电路测试压缩方法研究(英文) 被引量：3

17

作者 韩银和 李晓维 《中国科学院研究生院学报》 CAS CSCD 2007年第6期847-857,共11页

测试压缩可以在没有故障覆盖率损失的情况下,极大地降低测试时间和测试数据量,弥补了测试设备和芯片制造能力提升之间的差距,受到学术界和工业界的广泛关注.测试数据分为测试激励和测试响应2种,测试压缩也对应分为测试激励压缩和测试响... 测试压缩可以在没有故障覆盖率损失的情况下,极大地降低测试时间和测试数据量,弥补了测试设备和芯片制造能力提升之间的差距,受到学术界和工业界的广泛关注.测试数据分为测试激励和测试响应2种,测试压缩也对应分为测试激励压缩和测试响应压缩2个方面.本文针对这2方面分别展开了研究.主要贡献包含:(1)提出了一种Variable-Tail编码.Variable-Tail是一种变长-变长的编码,对于X位密度比较高的测试向量能够取得更高的测试压缩率.实验数据表明,如结合测试向量排序算法,则使用Variable-Tail编码可以取得很接近于编码压缩理论上界的压缩效果(平均差距在1.26 %左右) ,同时还可以减少20 %的测试功耗.(2)提出了一种并行芯核外壳设计方法.研究发现了测试向量中存在着扫描切片重叠和部分重叠现象.当多个扫描切片重叠时,它们仅需要装载一次,这样就可以大大减少测试时间和测试数据量.实验结果表明,使用并行外壳设计,测试时间可以减少到原来的2/3 ,测试功耗可以减少到原来的1/15 .(3)提出了3X测试压缩结构.3X测试压缩结构包含了3个主要技术:X-Config激励压缩、X-Balance测试产生和X-Tolerant响应压缩.X-Config激励压缩提出了一个周期可重构的MUX网络.X-Balance测试产生综合考虑了动态压缩、测试数据压缩和扫描设计等因素,产生测试向量.它使用了回溯消除算法和基于确定位概率密度的扫描链设计算法,减少测试向量体积.X-Tolerant响应压缩提出了一种单输出的基于卷积编码的压缩电路.该压缩电路只需要一个数据,因此总能保证最大的压缩率.同时为了提高对X位的容忍能力,还提出了一个多权重的基本校验矩阵生成算法. 展开更多

关键词 系统芯片 测试激励压缩 测试响应压缩 扫描设计 自动测试向量生成(ATPG) 不关心位 未知位 卷积编码

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一种新的面向应用的FPGA测试方法(英文) 被引量：3

18

作者 林腾 冯建华 +1 位作者 赵建兵 王阳元 《北京大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第3期402-408,共7页

提出一种新的面向应用的FPGA测试方法。该方法将FPGA设计配置(DC)抽象成由LUT、非LUT逻辑门、寄存器和互连线所组成的模型,将目标故障集设定为互连线的固定故障(SAFI)和LUT的功能故障(FFL)。提出了两种可选的测试配置(TC)以提高自动测... 提出一种新的面向应用的FPGA测试方法。该方法将FPGA设计配置(DC)抽象成由LUT、非LUT逻辑门、寄存器和互连线所组成的模型,将目标故障集设定为互连线的固定故障(SAFI)和LUT的功能故障(FFL)。提出了两种可选的测试配置(TC)以提高自动测试向量生成(ATPG)工具所得到的SAFI覆盖率,同时给出了可对LUT进行穷举测试的TC以检测FFL。实验结果表明,对于7个最大的ISCAS89基准电路,该方法可得到86.82%～99.16%的SAFI覆盖率和100%的FFL覆盖率。 展开更多

关键词 面向应用的测试 现场可编程门阵列 自动测试向量生成 查找表

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基于EDT的扫描测试压缩电路优化方法

19

作者 李松 赵毅强 叶茂 《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第8期1601-1609,共9页

为了在集成电路可测试性设计(DFT)中实现更有效的测试向量压缩,减少测试数据容量和测试时间,采用嵌入式确定性测试(EDT)的扫描测试压缩方案分别对S13207、S15850、S38417和S38584基准电路进行了优化分析,通过研究测试向量和移位周期等... 为了在集成电路可测试性设计(DFT)中实现更有效的测试向量压缩,减少测试数据容量和测试时间,采用嵌入式确定性测试(EDT)的扫描测试压缩方案分别对S13207、S15850、S38417和S38584基准电路进行了优化分析,通过研究测试向量和移位周期等影响测试压缩的因素,提出了固定测试端口和固定压缩率的扫描测试压缩电路优化方法。结果表明,在测试端口数量都为2,压缩率分别为12、14、16和24时具有较好的压缩效果,与传统自动测试向量生成(ATPG)相比,固定故障的测试数据容量减小了3.9~6.4倍,测试时间减少了3.8~6.2倍,跳变延时故障的测试数据容量减少了4.1~5.4倍,测试时间减少了3.8~5.2倍。所提方法通过改变测试端口数和压缩率的方式讨论了多种影响测试压缩的因素,给出扫描测试压缩电路的优化设计方案,提高了压缩效率,并对一个较大规模电路进行了仿真验证,可适用于集成电路的扫描测试压缩设计。 展开更多

关键词 可测试性设计(DFT) 扫描测试压缩 测试数据容量 测试时间 嵌入式确定性测试(EDT) 自动测试向量生成(ATPG)

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指定逻辑的电路最小项扰动算法 被引量：1

20

作者 高文超 罗世玲 周强 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2020年第6期1009-1016,共8页

针对现有的基于最小项的伪装算法不能稳定地生成最小项扰动电路,而且不能控制指定逻辑,使得该技术难以在实际电路中使用的问题,提出了一种最小项扰动算法,通过引入原始输入信号并缩小受逻辑门影响的最小范围,快速找到单个最小项扰动.同... 针对现有的基于最小项的伪装算法不能稳定地生成最小项扰动电路,而且不能控制指定逻辑,使得该技术难以在实际电路中使用的问题,提出了一种最小项扰动算法,通过引入原始输入信号并缩小受逻辑门影响的最小范围,快速找到单个最小项扰动.同时,可以任意设计特定逻辑:特定输出、特定门和特定最小项.首先,将多输出电路分成多个单输出电路并指定任何输出;然后可以指定电路的任何门,并使用敏化和FAN技术获得所有扰动的最小项;最后,导入原始信号确定伪装电路中的唯一扰动最小项.该算法可用于设计只能被特定电路使用的电路模块.在ISCAS’89基准电路和OpenSPARC微处理器控制器进行测试,该算法可以在2 s内确定特定电路的最小项,正确率超过80%.证明文中最小项扰动算法可以灵活、高效地选择最小项进行修改,并且保证修改成功. 展开更多

关键词 逆向工程 IC伪装 最小项保护 测试向量生成 引入原始输入

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