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氢稀释对nc-Si∶H薄膜结构和光致发光的影响 被引量:3
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作者 张一轲 郝惠莲 +1 位作者 吴兆坤 于潇洋 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2014年第11期717-723,共7页
基于X射线衍射仪、喇曼散射、光致发光(PL)和傅里叶红外吸收光谱等技术,详细研究了氢稀释比对纳米晶硅(nc-Si∶H)薄膜结构和光致发光性能的影响。随着氢稀释比的增加,所沉积薄膜的纳米晶硅尺寸单调减小,而晶化率提高。键合结构分析表明... 基于X射线衍射仪、喇曼散射、光致发光(PL)和傅里叶红外吸收光谱等技术,详细研究了氢稀释比对纳米晶硅(nc-Si∶H)薄膜结构和光致发光性能的影响。随着氢稀释比的增加,所沉积薄膜的纳米晶硅尺寸单调减小,而晶化率提高。键合结构分析表明,随着氢稀释比增加,nc-Si∶H薄膜中氢含量和Si—H键密度均减小。综合在不同氢稀释比下纳米晶硅尺寸变化、PL峰位移动及PL峰强度变化等特征,nc-Si∶H室温PL光谱被归因于纳米晶硅的量子限制效应。当氢稀释比由96%增大至97%时,氢的钝化作用使PL峰强度升高;当进一步增加氢稀释比至98.5%时,由于H2的生成,使氢的钝化效果显著降低,导致PL峰强度降低。 展开更多
关键词 化纳米晶硅薄膜 氢稀释比 微观结构 光致发光(PL) 晶化率 量子限制效应
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燃料电池系统氢稀释器的结构设计与仿真
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作者 李亚超 何雍 +1 位作者 吴兵 王鸿鹄 《上海汽车》 2012年第10期3-6,共4页
间歇式排氢法能有效地解决燃料电池电堆内部的堵水问题,但会导致尾排气体中氢浓度超标。具有前低后高挡板式内部结构的氢稀释器采用纯物理方法进行氢气稀释,具有效果明显、安全可靠、占用空间小等优点。基于CFD的氢稀释器三维仿真模型... 间歇式排氢法能有效地解决燃料电池电堆内部的堵水问题,但会导致尾排气体中氢浓度超标。具有前低后高挡板式内部结构的氢稀释器采用纯物理方法进行氢气稀释,具有效果明显、安全可靠、占用空间小等优点。基于CFD的氢稀释器三维仿真模型结果表明,该稀释器能够成功达到降低尾气中氢浓度的要求,为实际的工程应用提供了理论指导。 展开更多
关键词 稀释 间歇排 燃料电池汽车
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氢稀释制备的非晶碳膜的绿光和蓝光发射
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作者 黄晓辉 徐骏 +2 位作者 李伟 王立 陈坤基 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第4期334-338,共5页
在电容耦合式 PECVD系统中,以 CH4和 H2为气源,通过控制 H2的流量制备了一系列氢化非晶碳膜(a-C:H)样品。利用傅里叶变换红外光谱(FTIR)、光致发光谱(PL)和吸收谱对a-C:H膜的结构及光学性质进行了... 在电容耦合式 PECVD系统中,以 CH4和 H2为气源,通过控制 H2的流量制备了一系列氢化非晶碳膜(a-C:H)样品。利用傅里叶变换红外光谱(FTIR)、光致发光谱(PL)和吸收谱对a-C:H膜的结构及光学性质进行了研究。结果表明:氢稀释可以在一定程度上减少碳的sp2团簇的形成,增大它的光学带隙,并改变薄膜的微结构。与此同时,光致发光峰随着光学带隙的增大而蓝移;当光学带隙增大2.72eV时,出现了2.4eV(绿光)和2.97eV(蓝光)组成的发光峰。 展开更多
关键词 稀释 非晶碳 光致发光 制备 薄膜 绿光发射 蓝光发射
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H_2稀释在PECVD法制备微晶硅薄膜中的影响 被引量:3
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作者 王生钊 卢景霄 +5 位作者 王红娟 刘萍 陈永生 张丽伟 杨仕娥 郜小勇 《可再生能源》 CAS 2006年第4期18-20,共3页
利用等离子增强化学气相沉积(PECVD)技术,研究了H稀释度D=H 2/(H 2+SiH 4)对在玻璃和不锈钢衬底上低温制备微晶硅薄膜的晶化率、晶粒尺寸、薄膜质量等的影响。结果表明,随着硅烷浓度的降低,样品的晶化率、晶粒尺寸有所改变。当D=99%时,... 利用等离子增强化学气相沉积(PECVD)技术,研究了H稀释度D=H 2/(H 2+SiH 4)对在玻璃和不锈钢衬底上低温制备微晶硅薄膜的晶化率、晶粒尺寸、薄膜质量等的影响。结果表明,随着硅烷浓度的降低,样品的晶化率、晶粒尺寸有所改变。当D=99%时,晶粒突然变大,晶化率显著提高。因此,我们认为此时的硅薄膜由非晶硅转化为微晶硅。 展开更多
关键词 PECVD 稀释 微晶硅薄膜
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H_2稀释比对RF-PECVD制备a-Si:H/nc-Si:H薄膜的光电特性的影响 被引量:3
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作者 程自亮 蒋向东 +2 位作者 王继岷 刘韦颖 连雪艳 《电子器件》 CAS 北大核心 2015年第3期485-488,共4页
研究了H2稀释比对a-Si:H/nc-Si:H薄膜光电特性及微结构的影响。采用RF-PECVD法,以高纯Si H4及H2/Si H4混合气体为反应气源交替反应制备样品,并通过紫外-可见光分光光度计、椭偏仪及Keithley 4200、XRD对样品进行分析测试。实验表明:在... 研究了H2稀释比对a-Si:H/nc-Si:H薄膜光电特性及微结构的影响。采用RF-PECVD法,以高纯Si H4及H2/Si H4混合气体为反应气源交替反应制备样品,并通过紫外-可见光分光光度计、椭偏仪及Keithley 4200、XRD对样品进行分析测试。实验表明:在纳米级厚度的a-Si:H薄膜基础上,随着第二反应气H2/Si H4混合气中H2比率(99%、97%、95%、92%、80%)的升高,沉积速率持续下降,薄膜消光系数、禁带宽度以及电导率呈现先增大后减小的趋势。针对实验现象,结合薄膜生长机理对实验结果原因进行了分析。 展开更多
关键词 a-Si:H/nc-Si:H 稀释 RF-PECVD(射频等离子体化学气相沉积) 光电性能 生长机理
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氢化非晶碳膜的低阈值场发射
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作者 黄晓辉 徐骏 +3 位作者 李伟 王立 徐岭 陈坤基 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2002年第4期473-475,共3页
在等离子增强气相化学沉积 (PECVD)系统中 ,利用氢稀释方法制备了氢化非晶碳 (a-C∶ H)薄膜样品。在高真空腔中测量了样品的场发射特性。与用纯甲烷 (CH4 )制备的 a-C∶H薄膜样品相比 ,经过氢稀释处理的样品场发射开启电场明显下降 ,达... 在等离子增强气相化学沉积 (PECVD)系统中 ,利用氢稀释方法制备了氢化非晶碳 (a-C∶ H)薄膜样品。在高真空腔中测量了样品的场发射特性。与用纯甲烷 (CH4 )制备的 a-C∶H薄膜样品相比 ,经过氢稀释处理的样品场发射开启电场明显下降 ,达到 0 .5 V/μm。认为是样品的场增强因子的增大改善了样品的场发射特性 ,这种场增强可能来源于碳膜中电子结构的各相异性和碳膜表面氢终结的增加。 展开更多
关键词 场发射 非晶碳 稀释
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双纳米硅p层优化非晶硅太阳能电池 被引量:3
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作者 刘石勇 曾湘波 +5 位作者 彭文博 姚文杰 谢小兵 杨萍 王超 王占国 《材料工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第8期5-7,13,共4页
采用等离子体增强化学气相沉积(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition,PECVD)技术在高功率密度、高反应气压和低衬底温度下制备出不同氢稀释比RH的硅薄膜。高分辨透射电镜(High-Resolution Transmission ElectronMicroscopy,HRTEM... 采用等离子体增强化学气相沉积(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition,PECVD)技术在高功率密度、高反应气压和低衬底温度下制备出不同氢稀释比RH的硅薄膜。高分辨透射电镜(High-Resolution Transmission ElectronMicroscopy,HRTEM)图像与拉曼谱显示在较高氢稀释比条件下生长的薄膜为纳米硅(nanocrystalline silicon,nc-Si)薄膜,纳米硅颗粒尺寸约为3~5nm。对不同氢稀释比下纳米硅薄膜光学带隙的变化趋势进行了研究。结果表明:随着氢稀释比的增加,纳米硅薄膜的光学带隙逐渐增加。提出采用双纳米硅p层结构改善非晶硅太阳能电池,发现双纳米硅p层电池效率比单纳米硅p层的电池效率提高了17%。 展开更多
关键词 纳米硅 氢稀释比 光学带隙
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PECVD法制备纳米晶硅薄膜的研究进展
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作者 何佳 邱海宁 郑祺 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2012年第7期478-482,共5页
简要介绍了纳米晶硅薄膜的微结构表征方法,重点讨论了PECVD制备方法中工艺参数对薄膜结构的影响,并探讨了氢在薄膜形成和生长中的作用。通过优化氢稀释率、衬底温度、反应气压、激励功率和激发频率等工艺参数可提高纳米晶硅薄膜的晶化... 简要介绍了纳米晶硅薄膜的微结构表征方法,重点讨论了PECVD制备方法中工艺参数对薄膜结构的影响,并探讨了氢在薄膜形成和生长中的作用。通过优化氢稀释率、衬底温度、反应气压、激励功率和激发频率等工艺参数可提高纳米晶硅薄膜的晶化率并改善薄膜质量。结合喇曼光谱、X射线衍射谱、傅里叶红外光谱和高分辨透射电镜等表征方法可深入研究薄膜形成机理,对进一步探索薄膜光电特性有重要意义。分析了等离子体化学气相沉积(PECVD)制备方法中各工艺参数对薄膜质量和沉积速率的影响,指出其存在的问题,并探寻了今后的研究方向。 展开更多
关键词 纳米晶 硅薄膜 等离子体化学气相沉积(PECVD) 微结构 稀释 晶化率
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