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题名α粒子加速软失效率测试的稳定性研究
被引量：1
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作者
王娜
何俊明
刘云海
丁育林
丁佳妮
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机构
中芯国际集成电路制造有限公司
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第1期88-91,共4页
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文摘
半导体器件软错误的发生具有几率低、间隔时间长的特点。资源有限条件的下实现对器件软失效率的评估需要借助放射源加速的方法,即加速软失效率测试。作为改进设计和工艺以降低软失效率的前提,就测试方法稳定性进行了系统研究。通过对两种不同制程的静态随机存储器芯片(SRAM)进行α粒子加速软失效率测试,提出了确保α粒子加速测试稳定的方法。基于相同测试条件下多次测量结果变化和测试时间的关系,给出了合理的加速软失效测试的时间推荐值,保证了测试结果的有效性。
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关键词
Α粒子
软错误
加速软失效率
测试稳定性
临界电荷
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Keywords
α-particle
soft error
accelerated soft error rate （aser）
test stability
critical charge
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于地面加速测试的大气中子软错误率评估方法研究
被引量：2
- 2
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作者
彭超
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机构
工业和信息化部电子第五研究所
电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室
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出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2017年第5期60-64,共5页
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文摘
大气中子单粒子效应导致的集成电路软错误给应用于地面和大气层中的具有高可靠性要求的电子系统带来了严重的失效风险,因此有必要对集成电路的大气中子软错误率进行评估。重点研究了大气中子导致的集成电路软错误的错误率的加速测试技术。首先,分别基于JESD 89A标准和EXPACS仿真工具计算了地球大气层中不同海拔处的中子通量,结果表明大气中子辐射场受海拔高度的影响非常明显;然后,以一款存储器电路为例,探讨了基于单能中子/质子源和散裂中子源的大气中子软错误率加速测试方法;最后,分别利用这两种方法对该存储器电路在海平面和飞机飞行高度处的软错误率进行了计算,飞机飞行高度处更高的软错误率表明航空飞行器面临着更严重的可靠性风险。
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关键词
地面宇宙射线
大气层中子
单粒子效应
软错误率
加速测试
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Keywords
terrestrial cosmic ray
atmospheric neutron
single event effect
soft error rate
accelerated test
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分类号
TN40
[电子电信—微电子学与固体电子学]
V467
[航空宇航科学与技术—航空宇航制造工程]
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