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晶体管爆裂噪声的积分双谱检测方法研究 被引量:1
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作者 丛玉良 王树勋 +1 位作者 赵继印 戴逸松 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第5期99-100,共2页
本文根据对积分双谱分布特性分析,论证了晶体管爆裂噪声是服从非高斯且非对称分布的,并提出可利用积分双谱方法来检测晶体管爆裂噪声.
关键词 晶体管 爆裂噪声 积分双谱 检测
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晶体管低频噪声模型参数的精确测量 被引量:1
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作者 徐建生 戴逸松 翟翌立 《计量学报》 CSCD 北大核心 1997年第4期300-307,共8页
本文针对目前使用的晶体管EnIn噪声模型及其测量方法的不足之处,提出改进方案,并给出精确测量噪声模型参数的方法。根据误差分析,提出测量谱相关系数的源阻抗选择规则,并对低噪声放大器进行实际测量,给出适合于低噪声电路设... 本文针对目前使用的晶体管EnIn噪声模型及其测量方法的不足之处,提出改进方案,并给出精确测量噪声模型参数的方法。根据误差分析,提出测量谱相关系数的源阻抗选择规则,并对低噪声放大器进行实际测量,给出适合于低噪声电路设计的三维FZs图形。 展开更多
关键词 晶体管 低频噪声模型 噪声测量
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二极管击穿电压的数值计算 被引量:2
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作者 高玉民 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1993年第2期19-24,共6页
本文以与实验结果符合得最好的R.V.Overstraeten等人的碰撞电离率为依据,按照雪崩击穿条件,采用数值方法计算了非穿通型单边突变结的雪崩击穿电压与衬底掺杂浓度的关系.在此基础上得到了非穿通型二极管击穿电压与电阻率的经验关系式,此... 本文以与实验结果符合得最好的R.V.Overstraeten等人的碰撞电离率为依据,按照雪崩击穿条件,采用数值方法计算了非穿通型单边突变结的雪崩击穿电压与衬底掺杂浓度的关系.在此基础上得到了非穿通型二极管击穿电压与电阻率的经验关系式,此组公式在给定的电压范围内与数值结果符合得相当好.对于穿通型二极管,把这些经验公式与解析式相结合所得结果与数值计算结果符合的程度更加令人满意. 展开更多
关键词 半导体二极管 击穿电压 计算
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基于 PC 机的晶体管特性测试系统 被引量:2
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作者 傅志仁 杨衍明 《核电子学与探测技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第3期212-215,共4页
本文介绍一种基于PC机的晶体管特性测试系统的原理与实现
关键词 分辨率 模数变换 晶体管特性 PC机 测试系统
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重掺杂发射区中禁带宽度和少子复合寿命的确定方法
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作者 郑茳 冯耀兰 《电子科学学刊》 CSCD 1989年第4期439-443,共5页
禁带宽度和少子复合寿命是硅晶体管发射区中重要的物理参数。本文利用p-n结反向扩散电流的温度特性和借助于线性外推法,提出了一种确定绝对零度时禁带宽度的新方法。由于发射区重掺杂,本文考虑了载流子的费米-狄拉克统计分布。提出了确... 禁带宽度和少子复合寿命是硅晶体管发射区中重要的物理参数。本文利用p-n结反向扩散电流的温度特性和借助于线性外推法,提出了一种确定绝对零度时禁带宽度的新方法。由于发射区重掺杂,本文考虑了载流子的费米-狄拉克统计分布。提出了确定发射区中少子复合寿命的方法。该方法简便实用。 展开更多
关键词 硅晶体管 掺杂 禁带宽度 复合寿命
全文增补中
Reverse blocking characteristics and mechanisms in Schottky-drain AlGaN/GaN HEMT with a drain field plate and floating field plates 被引量:2
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作者 毛维 佘伟波 +4 位作者 杨翠 张金风 郑雪峰 王冲 郝跃 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2016年第1期777-782,共6页
In this paper, a novel A1GaN/GaN HEMT with a Schottky drain and a compound field plate (SD-CFP HEMT) is presented for the purpose of better reverse blocking capability. The compound field plate (CFP) consists of a... In this paper, a novel A1GaN/GaN HEMT with a Schottky drain and a compound field plate (SD-CFP HEMT) is presented for the purpose of better reverse blocking capability. The compound field plate (CFP) consists of a drain field plate (DFP) and several floating field plates (FFPs). The physical mechanisms of the CFP to improve the reverse breakdown voltage and to modulate the distributions of channel electric field and potential are investigated by two-dimensional numer- ical simulations with Silvaco-ATLAS. Compared with the HEMT with a Schottky drain (SD HEMT) and the HEMT with a Schottky drain and a DFP (SD-FP HEMT), the superiorities of SD-CFP HEMT lie in the continuous improvement of the reverse breakdown voltage by increasing the number of FFPs and in the same fabrication procedure as the SD-FP HEMT. Two useful optimization laws for the SD-CFP HEMTs are found and extracted from simulation results. The relationship between the number of the FFPs and the reverse breakdown voltage as well as the FP efficiency in SD-CFP HEMTs are discussed. The results in this paper demonstrate a great potential of CFP for enhancing the reverse blocking ability in A1GaN/GaN HEMT and may be of great value and significance in the design and actual manufacture of SD-CFP HEMTs. 展开更多
关键词 A1GaN/GaN HEMT drain field plate floating field plate reverse breakdown voltage
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美国宇航级晶体管2N2219AL实物质量水平剖析 被引量:1
7
作者 徐立生 谭宗新 于学东 《半导体情报》 1999年第1期50-52,共3页
本文报道了对美国宇航级晶体管2N2219AL进行一系列试验和检测的结果。
关键词 宇航级 晶体管 质量水平 检测 半导体器件
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浅谈BT-15扫频图示仪的使用
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作者 谢笃芳 《卫星电视与宽带多媒体》 2007年第14期68-69,共2页
BT-15扫频图示仪的用途 BT一15扫频图示仪是扫频范围在0.5-1000MHz的频率特性分析仪。其应用领域遍及于工厂、研究所、大专院校、电视中心、电台、电视台、广电网络、卫星地球站等单位。该仪器可在0.5-1000MHz频段内,定量测量全部... BT-15扫频图示仪的用途 BT一15扫频图示仪是扫频范围在0.5-1000MHz的频率特性分析仪。其应用领域遍及于工厂、研究所、大专院校、电视中心、电台、电视台、广电网络、卫星地球站等单位。该仪器可在0.5-1000MHz频段内,定量测量全部有源、无源双口网络的传输特性(增益或衰减)和反射特性(回波损耗或电压驻波比),还可测量射频电平、通频带、 展开更多
关键词 图示仪 扫频 定量测量 卫星地球站 电压驻波比 频率特性 大专院校 电视中心
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自动测试系统过电应力导致晶体管短路失效分析
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作者 钟煌煌 《广东电子》 1998年第1期26-27,共2页
关键词 自动测试系统 过电应力 晶体管 短路失效分析
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日体管功能退化的加速评价
10
作者 杨家铿 《电子产品可靠性与环境试验》 1990年第1期2-7,共6页
关键词 晶体管 功能退化 加速试验
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半导体三极管的一种考评方法
11
作者 牛军旗 《电子质量》 1990年第4期15-16,共2页
关键词 半导体三极管 三极管 考评法
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I_C固定h_(FE)的测试
12
作者 高福 《集成电路应用》 1993年第1期30-31,共2页
测试h_(EF)时,必须使被测晶体管的V_(CE)和I_C达到测试条件的规定值。而一般的测试总是固定I_B来测h_(FE),这种方法在晶体管h_(FE)不高,功率大的情况下还可以。但在h_(FE)大和小功率时就有测量精度差。高h_(FE)无法测量等缺点。这儿介... 测试h_(EF)时,必须使被测晶体管的V_(CE)和I_C达到测试条件的规定值。而一般的测试总是固定I_B来测h_(FE),这种方法在晶体管h_(FE)不高,功率大的情况下还可以。但在h_(FE)大和小功率时就有测量精度差。高h_(FE)无法测量等缺点。这儿介绍一种能测pNp和NpN的全集成电路测量电路,具有测量精度高,分档细、线路简单等特点。工作原理线路图如图(一)所示,该电路由基准电压源、恒流源和测试电路组成。 展开更多
关键词 晶体管 测试
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带内建二极管的彩电行管瞬态热阻的测量
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作者 周志坤 叶奇放 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1989年第2期31-34,27,共5页
本文以实验比较了一般功率晶体管和带内建二极管的功率晶体管的EB结的温度特性,分析了并联在EB结上的扩散电阻Rb对测量晶体管△V_(BE)E产生影响的原因.提出了带内建二极管的功率管△v_(BE)测量条件.
关键词 彩电 功率晶体管 瞬态热阻 测量
全文增补中
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