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SEM及AFM校准放大倍率标样的研究
被引量:
2
1
作者
盛克平
丁听生
陆国辉
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第5期438-442,共5页
本文报告了用有证标准粒子研制成紧密排列的亚微米标准样品,并给出了研制成的标准样品的不确定度评估。将结果与国际先进的标准参考物质进行了分析比较。该亚微米标准粒子的紧密排列的标准样品在扫描电子显微镜和原子力显微镜放大倍率...
本文报告了用有证标准粒子研制成紧密排列的亚微米标准样品,并给出了研制成的标准样品的不确定度评估。将结果与国际先进的标准参考物质进行了分析比较。该亚微米标准粒子的紧密排列的标准样品在扫描电子显微镜和原子力显微镜放大倍率校准中有实际的应用价值。
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关键词
准粒子
标准样品
排列
标样
原子力显微镜
亚微米
物质
应用价值
参考物
制成
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职称材料
用内标法在SEM上测定固体颗粒直径
被引量:
2
2
作者
盛克平
姜志华
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2008年第S1期203-206,共4页
阐述了用内标法在扫描电子显微镜上测定固体颗粒直径的方法﹑实验﹑计算方法和测量不确定度评估。并通过对测量不确定度评估的讨论,认为用内标法在扫描电子显微镜上测量微小物质长度是一种操作方便,可以获得较小的测量不确定度的方法。
关键词
扫描电子显微镜
内标法
测量不确定度
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职称材料
应用蒙特卡罗方法计算带置信水平的不确定度
被引量:
2
3
作者
盛克平
何宝林
杨伟浩
《上海计量测试》
2005年第5期11-16,共6页
本文介绍了一种采用蒙特卡罗统计模拟的方法来求解带置信水平的不确定度评定问题,这种方法求得的结果可使合成不确定度与置信水平精确关联,特别是高置信水平的不确定度。文中通过2个实例阐述了这种方法的运行过程并分析了结果。作者认为...
本文介绍了一种采用蒙特卡罗统计模拟的方法来求解带置信水平的不确定度评定问题,这种方法求得的结果可使合成不确定度与置信水平精确关联,特别是高置信水平的不确定度。文中通过2个实例阐述了这种方法的运行过程并分析了结果。作者认为,这种方法可以作为有关不确定度评定标准的补充。
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关键词
不确定度
蒙特卡罗方法
置信水平
不确定度评定
蒙特卡罗方法
置信水平
计算
应用
合成不确定度
统计模拟
运行过程
评定标准
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职称材料
纳米长度测量的标准化研究
4
作者
盛克平
何宝林
杨伟浩
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006年第B08期283-284,共2页
关键词
标准化文件
纳米测量
长度测量
测量不确定度
标准物质
测量方法
国内外
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职称材料
原子力显微镜放大倍率校准的探讨
被引量:
1
5
作者
盛克平
丁听生
《上海计量测试》
2004年第2期13-15,共3页
本文通过各种标准物质样品在原子力显微镜上的实验性测试,对涉及原子力显微镜放大倍率校准的相关的标准物质、图像非线性、图像畸变、针尖效应的问题进行了探讨,并认为原子力显微镜在针尖效应还没有解决前,进行带有一定置信水平的不确...
本文通过各种标准物质样品在原子力显微镜上的实验性测试,对涉及原子力显微镜放大倍率校准的相关的标准物质、图像非线性、图像畸变、针尖效应的问题进行了探讨,并认为原子力显微镜在针尖效应还没有解决前,进行带有一定置信水平的不确定度的放大倍率校准还尚难实施。
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关键词
原子力显微镜
放大倍率
校准
标准物质
置信水平
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职称材料
扫描电子显微镜X射线能量色散谱仪在宝玉石鉴定中的应用
被引量:
1
6
作者
盛克平
《宝石和宝石学杂志》
CAS
2010年第1期32-35,共4页
介绍了在低真空模式下扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪检测宝玉石的原理与方法。对比与评估了宝玉石样品的X射线能量色散谱仪的无标样定量分析数据与其标准数据,讨论了扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪在宝玉石检测分析中存在...
介绍了在低真空模式下扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪检测宝玉石的原理与方法。对比与评估了宝玉石样品的X射线能量色散谱仪的无标样定量分析数据与其标准数据,讨论了扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪在宝玉石检测分析中存在的问题。通过与其它宝玉石检测分析仪器如X射线荧光分析仪、X射线粉末衍射仪、傅里叶变换红外光谱仪及激光拉曼光谱仪比较后认为,扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪对宝玉石无损分析鉴定是最方便、有效的手段之一。
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关键词
X射线能量色散谱仪
扫描电子显微镜
宝玉石
无损分析
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职称材料
TEM观察纳米金属粉末及纳米铜粉的异常表现
被引量:
4
7
作者
盛克平
《应用科学学报》
CAS
CSCD
2001年第4期369-370,共2页
用透射电子显微镜观察铜、铝、镍金属粉末 ,发现其中金属铜粉在粒度达到纳米级时 ,熔化温度大幅度降低 ,与铝粉等相比有很大差异 .这一特性将有很大的潜在应用价值 .
关键词
熔点
表面张力
透射电子显微镜
TEM
纳米材料
金属粉末
铜粉
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职称材料
题名
SEM及AFM校准放大倍率标样的研究
被引量:
2
1
作者
盛克平
丁听生
陆国辉
机构
上海市计量测试技术研究院
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第5期438-442,共5页
文摘
本文报告了用有证标准粒子研制成紧密排列的亚微米标准样品,并给出了研制成的标准样品的不确定度评估。将结果与国际先进的标准参考物质进行了分析比较。该亚微米标准粒子的紧密排列的标准样品在扫描电子显微镜和原子力显微镜放大倍率校准中有实际的应用价值。
关键词
准粒子
标准样品
排列
标样
原子力显微镜
亚微米
物质
应用价值
参考物
制成
Keywords
reference material
uncertainty
calibrating magnification
close-packed arrays
分类号
TH74 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
用内标法在SEM上测定固体颗粒直径
被引量:
2
2
作者
盛克平
姜志华
机构
上海市计量测试技术研究院
出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2008年第S1期203-206,共4页
文摘
阐述了用内标法在扫描电子显微镜上测定固体颗粒直径的方法﹑实验﹑计算方法和测量不确定度评估。并通过对测量不确定度评估的讨论,认为用内标法在扫描电子显微镜上测量微小物质长度是一种操作方便,可以获得较小的测量不确定度的方法。
关键词
扫描电子显微镜
内标法
测量不确定度
Keywords
SEM
Internal standard method
Measurement Uncertainty
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
在线阅读
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职称材料
题名
应用蒙特卡罗方法计算带置信水平的不确定度
被引量:
2
3
作者
盛克平
何宝林
杨伟浩
机构
上海市计量测试技术研究院
出处
《上海计量测试》
2005年第5期11-16,共6页
文摘
本文介绍了一种采用蒙特卡罗统计模拟的方法来求解带置信水平的不确定度评定问题,这种方法求得的结果可使合成不确定度与置信水平精确关联,特别是高置信水平的不确定度。文中通过2个实例阐述了这种方法的运行过程并分析了结果。作者认为,这种方法可以作为有关不确定度评定标准的补充。
关键词
不确定度
蒙特卡罗方法
置信水平
不确定度评定
蒙特卡罗方法
置信水平
计算
应用
合成不确定度
统计模拟
运行过程
评定标准
Keywords
uncertainty
Monte Carlo method
confidence level
分类号
TG806 [金属学及工艺—公差测量技术]
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职称材料
题名
纳米长度测量的标准化研究
4
作者
盛克平
何宝林
杨伟浩
机构
上海市计量测试技术研究院
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006年第B08期283-284,共2页
关键词
标准化文件
纳米测量
长度测量
测量不确定度
标准物质
测量方法
国内外
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
在线阅读
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职称材料
题名
原子力显微镜放大倍率校准的探讨
被引量:
1
5
作者
盛克平
丁听生
机构
中国上海测试中心
出处
《上海计量测试》
2004年第2期13-15,共3页
文摘
本文通过各种标准物质样品在原子力显微镜上的实验性测试,对涉及原子力显微镜放大倍率校准的相关的标准物质、图像非线性、图像畸变、针尖效应的问题进行了探讨,并认为原子力显微镜在针尖效应还没有解决前,进行带有一定置信水平的不确定度的放大倍率校准还尚难实施。
关键词
原子力显微镜
放大倍率
校准
标准物质
置信水平
Keywords
Atomic force microscope
Calibrating magnification
Standard material
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
扫描电子显微镜X射线能量色散谱仪在宝玉石鉴定中的应用
被引量:
1
6
作者
盛克平
机构
上海市计量测试技术研究院
出处
《宝石和宝石学杂志》
CAS
2010年第1期32-35,共4页
文摘
介绍了在低真空模式下扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪检测宝玉石的原理与方法。对比与评估了宝玉石样品的X射线能量色散谱仪的无标样定量分析数据与其标准数据,讨论了扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪在宝玉石检测分析中存在的问题。通过与其它宝玉石检测分析仪器如X射线荧光分析仪、X射线粉末衍射仪、傅里叶变换红外光谱仪及激光拉曼光谱仪比较后认为,扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪对宝玉石无损分析鉴定是最方便、有效的手段之一。
关键词
X射线能量色散谱仪
扫描电子显微镜
宝玉石
无损分析
Keywords
EDS
SEM
gem
nondestructive analysis
分类号
TS93 [轻工技术与工程]
TH842 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
TEM观察纳米金属粉末及纳米铜粉的异常表现
被引量:
4
7
作者
盛克平
机构
上海计量测试技术研究院
出处
《应用科学学报》
CAS
CSCD
2001年第4期369-370,共2页
文摘
用透射电子显微镜观察铜、铝、镍金属粉末 ,发现其中金属铜粉在粒度达到纳米级时 ,熔化温度大幅度降低 ,与铝粉等相比有很大差异 .这一特性将有很大的潜在应用价值 .
关键词
熔点
表面张力
透射电子显微镜
TEM
纳米材料
金属粉末
铜粉
Keywords
nanometer
melting point
surface tension
transmission electron microscope
分类号
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
TG115.213 [金属学及工艺—物理冶金]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SEM及AFM校准放大倍率标样的研究
盛克平
丁听生
陆国辉
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003
2
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
用内标法在SEM上测定固体颗粒直径
盛克平
姜志华
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2008
2
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职称材料
3
应用蒙特卡罗方法计算带置信水平的不确定度
盛克平
何宝林
杨伟浩
《上海计量测试》
2005
2
在线阅读
下载PDF
职称材料
4
纳米长度测量的标准化研究
盛克平
何宝林
杨伟浩
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
5
原子力显微镜放大倍率校准的探讨
盛克平
丁听生
《上海计量测试》
2004
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
6
扫描电子显微镜X射线能量色散谱仪在宝玉石鉴定中的应用
盛克平
《宝石和宝石学杂志》
CAS
2010
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
7
TEM观察纳米金属粉末及纳米铜粉的异常表现
盛克平
《应用科学学报》
CAS
CSCD
2001
4
在线阅读
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职称材料
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