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退火温度和时间对制备多晶硅薄膜的影响 被引量:3
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作者 靳瑞敏 王玉仓 +3 位作者 陈兰莉 罗鹏辉 郭新峰 卢景霄 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第6期89-91,共3页
通过PECVD法于不同温度直接沉积非晶硅(a-Si:H)薄膜,选择于850℃分别退火2h、3h、6h、8h,于700℃分别退火5h、7h、10h、13h,于900℃分别退火1h、3h、8h,分别于720℃、790℃、840℃、900℃、940℃退火1h,然后用拉曼光谱和SEM进行对比分析... 通过PECVD法于不同温度直接沉积非晶硅(a-Si:H)薄膜,选择于850℃分别退火2h、3h、6h、8h,于700℃分别退火5h、7h、10h、13h,于900℃分别退火1h、3h、8h,分别于720℃、790℃、840℃、900℃、940℃退火1h,然后用拉曼光谱和SEM进行对比分析,发现退火温度与退火时间的影响是相互关联的,并且出现一系列晶化效果好的极值点。 展开更多
关键词 PECVD法 非晶硅薄膜 多晶硅薄膜 二次晶化 拉曼光谱 扫描电镜
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一种高可靠的复位电路
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作者 郏东耀 王玉仓 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2001年第12期62-64,共3页
介绍了复位电路的一些基本功能和一些常见的复位电路,提出了单片UP监控芯片MAX706在系统复位电路中的应用方法,最后介绍了80kV绝缘油测试仪中一种高可靠性的复位电路。
关键词 可靠性 复位电路 绝缘油耐压测试仪 抗干扰复位电路 MAX706 微机
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Ultrathin Carbon Nanotubes for Efficient Energy Storage: a First-Principles Study
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作者 王雪青 王玉生 +3 位作者 王玉仓 王飞 孙强 贾瑜 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2014年第2期87-91,共5页
On the basis of first-principles density functional calculations, the present study sheds theoretical insight on ultrathin carbon nanotube (UCNT) and hydrogenated ultrathin carbon nanotube (HUCNT) for use as poten... On the basis of first-principles density functional calculations, the present study sheds theoretical insight on ultrathin carbon nanotube (UCNT) and hydrogenated ultrathin carbon nanotube (HUCNT) for use as potential materials not only for Li-ion battery anode but also for high-capacity hydrogen storage. The highest Li storage capacities in UCNT and HUCNT can be of LiC4 and LiC4H2, respectively, which are higher than that in graphite and LiC6. Binding between Li (Ca) atoms and these materials are found to be enhanced considerably. Each Li (Ca) atom may bind multi-hydrogen molecules, and the adsorption energies are ideally suited for storing hydrogen under ambient conditions, and the predicted weight percentage of molecular hydrogen are in the range of 6.4-12 wt% exceeding the target set by the United States Department of Energy. 展开更多
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