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用波导法测量薄膜的折射率和厚度

A Guided Wave Method for Measuring Refractive Index and Thickness of Thin Films
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摘要 波导法测量光学薄膜的折射率和厚度是一种很有用的技术。本文不仅介绍了波导法的测量原理和装置,而且给出了CeF_3、NdF_3、8329玻璃和Al_2O_3膜的测量结果以及潮汽吸附对折射率的影响,最后分析了测试精度。 Guided wave method for measuring refractive index and thicknessof optical thin films is a useful technique. In this paper, not only the princi-ple and equipment of the guided wave technique but also measured results ofCeF_3, NdF_3, 8329 glass, and Al_2,O_3, films and effect of absorbing moisture onreftactive index are presented. Finally, the measured precision is analysed.
作者 顾培夫
机构地区 浙江大学
出处 《仪器仪表学报》 EI CAS 1986年第1期54-59,共6页 Chinese Journal of Scientific Instrument
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