基于ATE的运放芯片测试策略

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摘要运算放大器(Operational Amplifier,运放)作为用途十分广泛的器件,对其相关技术指标进行精准且有效的测试是必不可少的。本文提出了针对运放芯片的测试策略,通过对自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE),搭建测试电路,实现运放芯片输入失调电压、共模抑制比和开环电压增益三种参数的测试方法的研究。

作者温志贤褚夫邈杨红亮余婷婷

机构地区天水师范学院电子信息与电气工程学院

出处《电子制作》 2025年第5期118-120,共3页 Practical Electronics

基金 126kV环保型高压气体绝缘开关的研发(CYZC-2024-58)项目资助。

关键词运算放大器 STS8200 测试开发

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

作者简介通信作者:温志贤(1970-),男,副教授,研究方向为电路与系统。

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