摘要
芯片研发作为集成电路产业的核心,具有技术难度大、资金需求大、风险等级高等特点。因此,提出基于FMEA拓展的失效模式模糊综合评价方法,以量化评估芯片研发的项目风险。针对F公司芯片研发项目,运用扩展后的FMEA方法识别和分析风险,证明扩展后的FMEA方法在芯片研发项目风险管理中的有效性。
作者
余燎原
倪枫
刘姜
周奕宁
张敬鸿
拓开慧
YU Liaoyuan;NI Feng;LIU Jiang;ZHOU Yining;ZHANG Jinghong;TUO Kaihui
出处
《项目管理技术》
2023年第11期69-72,共4页
Project Management Technology
基金
国家自然科学基金资助项目(12371508)
教育部产学合作协同育人项目(22060376,0210846)
上海市“大学生创新创业训练计划”资助项目(SH2022072)。
作者简介
余燎原(1982-),男,研究方向:项目管理;通信作者:倪枫(1982-),男,博士,副教授,研究方向:系统科学、系统分析与集成;刘姜(1983-),女,博士,副教授,研究方向:复杂系统理论与方法、符号代数计算;周奕宁(2000-),女,研究方向:管理科学与工程;张敬鸿(2000-),女,研究方向:管理科学与工程;拓开慧(2000-),女,研究方向:管理科学与工程。
