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印制电路板耐CAF测试研究 被引量:3

Research on CAF withstanding test of Printed Circuit Board
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摘要 印制电路板耐导电阳极丝(CAF)性能是影响产品可靠性的重要因素。本文是简述了CAF失效机理,以及产生CAF失效的条件和模式,并分析了常规几种耐CAF影响因素,进而提出具体耐CAF测试方法,以评估印制电路板设计、材料选型及其它材料加工特性对耐CAF测试方法结果的影响。 The performance of conductive anodic filament(CAF)is an important factor affecting the reliability of printed circuit board.This paper describes the failure mechanism of CAF,and the conditions and modes of CAF failure,and the factors affecting CAF tolerance.The concrete test method of CAF resistance was proposed.The influence of PCB design,material selection and other material processing characteristics on CAF withstanding test results were evaluated.
作者 陈庆国 晋晓峰 陈苑明 何为 Chen Qingguo;Jin Xiaofeng;Chen Yuanming;He Wei
出处 《印制电路信息》 2019年第12期35-38,共4页 Printed Circuit Information
关键词 印制电路板 导电阳极丝失效 耐导电阳极丝测试 Printed Circuit Bboard Reliability CAF Test
作者简介 第一作者:陈庆国,毕业于安徽师范大学,硕士研究生,工程师职称。现任安徽国家铜铅锌及制品质量监督检验中心和国家印制电路板质量监督检验中心(安徽)工程师,主要从事印制电路板可靠性和失效性分析等检测和研究工作。
  • 相关文献

参考文献5

二级参考文献20

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共引文献19

同被引文献7

引证文献3

二级引证文献3

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