摘要
本文着重介绍了装置的原理、逻辑方法以及用该装置对我厂生产的和国外的几种快闪烁体发光衰减时间的测量结果。 所描述的装置主要由闪烁探头、7000兆取样示波器、经过改装的FH—419G_1型512道分析器及时序控制器所组成。对契伦柯夫光的响应半宽为2.8ns。分析的动态范围为两个数量级,对塑料闪烁体发光衰减时间的测量误差小于0.1ns。 另外,该装置还可用于测量半导体探测器的上升时间以及其它波形相似、上升及下降时间为毫微秒量级的电脉冲。
出处
《发光学报》
EI
CAS
1979年第Z1期239-245,共7页
Chinese Journal of Luminescence
