芯片的封装测试技术与讨论被引量：5

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摘要通过对EPSON生产的NS-6000系列高速IChandler的介绍,讨论了集成电路封装的测试原理和测试方法,并基于NS-6000系列handler,给出了具体测试实例分析。

作者林福珍

机构地区福州瑞芯微电子股份有限公司

出处《通讯世界》 2019年第9期45-46,共2页 Telecom World

关键词集成电路封装测试

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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2019年第9期

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