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一种高性价比的电路综合参数测试仪 被引量:4

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摘要 以MCS-51单片机最小系统为核心构成电路综合参数测试仪.经使用表明,该仪表性能好,成本低,量程广,操作方便,可满足一般测量需要.
作者 金维香
出处 《实验技术与管理》 CAS 2002年第5期27-30,共4页 Experimental Technology and Management
  • 相关文献

参考文献3

  • 1李秉操.单片机接口技术及其在工业控制中的应用[M].陕西电子编辑部,1991..
  • 2席先觉.MCS-51单片机实用子程序集[M].北京:高等教育出版社,1992..
  • 3范寿康.单片微型计算机的应用开发技术[M].人民邮电出版社,..

共引文献20

同被引文献16

引证文献4

二级引证文献8

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