摘要
随着无机发光材料分析技术的不断发展,对无机发光材料的结构分析也在不断深入,其中X射线衍射(XRD)分析法在无机发光材料的结构分析中得到广泛的应用,本文系统介绍了X射线衍射分析的原理,从物相分析、点阵常数的精确测定和晶体的空间原子结构三个方面阐述了X射线衍射分析在无机发光材料检测中的应用,为研究者提供一定的参考。
With the continuous development of inorganic luminescent material analysis technology, structure analysis of the inorganic luminescent material also in unceasingly thorough, the X-ray diffraction （XRD） analysis method has been widely used in the analysis, and in this paper introduces the principle of X-ray diffraction, from the phase analysis, the lattice constant of accurate determination of atomic structure and crystal space expounds the X-ray diffraction analysis in the application of inorganic luminescent material, to provide certain reference for the researchers.
出处
《中国照明电器》
2017年第9期55-57,62,共4页
China Light & Lighting
基金
安徽省高校自然科学研究重点项目(KJ2016A893)
安徽三联学院质量工程项目(15zlgc008)
安徽三联学院科研项目(2015Z001
2013Z001)
国家级大学生创新创业训练项目(201710959055)
关键词
X射线衍射分析
结构检测
无机发光材料
X-ray diffraction analysis
structure testing
inorganic luminescent material
作者简介
王飞，博士，讲师。研究方向为稀土发光材料。
