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提高晶闸管高温反偏性能的研究
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摘要
分析了晶闸管高温反偏的失效模式;影响晶闸管高温反偏性能的主要原因是表面沾污;改变Si O2的生长工艺,从而提高产品的质量和在高温环境下的可靠性。
作者
王启进
潘英飞
机构地区
济南市半导体元件实验所
出处
《科技视界》
2016年第26期7-7,52,共2页
Science & Technology Vision
关键词
高温反偏
表面沾污
质量
可靠性
分类号
TN313.5 [电子电信—物理电子学]
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