X射线荧光光谱压片法测定工业硅中Fe的含量

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摘要采用粉末压片法制样,X射线荧光光谱压片法测定工业硅中的Fe含量,并对分析过程中样品制备、测量条件等各个环节进行了研究。该方法准确性好、精密度高,并具有快速、高效、样品制备简单等优点。

作者王芳

机构地区新疆众和股份有限公司

出处《新疆有色金属》 2015年第5期59-60,63,共3页

关键词 X射线荧光光谱仪压片法工业硅

分类号 O657.34 [理学—分析化学]

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