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高速数据通信与系统加固技术分析

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摘要 随着信息化时代的到来,数字技术也在不断的发展,运用的范围也日益广泛,而且我国正在发展一些高端技术事业,比如载人航天事业、卫星通讯事业等。这使我国的数据通信技术面临着新的机遇和挑战。本文分析了我国高速数据通信的发展现状和系统加固技术的研究现状,并对数据通信和系统地加固技术进行了研究。并对其发展空间进行了展望。
作者 申志臣
出处 《中国新通信》 2014年第10期35-35,共1页 China New Telecommunications
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  • 1艾伦PE 霍尔伯格DR.CMOS模拟电路设计[M].北京:科学出版社,1995..
  • 2[1]Bedingfield K,Leach R and Alexander M.Spacecraft System Failures and Anomalies Attributed to the Natural Space Environment.NASA Reference Publication-1390,August 1996
  • 3[2]Russell C.The solar wind interaction with the Earth's magnetosphere:a tutorial[J].IEEE Trans.on Plasma Science,2000,28(6):1818-1830
  • 4[3]Mullen E,Ginet G,Gussenhoven M,et al.SEE relative probability maps for space operations[J].IEEE Trans.Nucl.Sci.,1998,45(6):2954-2963.
  • 5[4]Wilson J,Town,nd L,Schimmerling W,et al.Transport Methods and Interactions for Space Radiations.Reference Publication-1257,Dec.1991
  • 6[5]Shaneyfelt M,Schwank J,Fleetwood D,et al.Annealing behavior of linear bipolar devices with enhanced low-dose-rate sensitivity[J].IEEE Trans.Nucl.Sci.,2004,51(6):3172-3177
  • 7[6]Dussault H,Howard J,Block R,et al.High-energy heavy-Ion-induced charge transport across multiple junctions[J].IEEE Trans.Nucl.Sci.,1995,42(6):1780-1788
  • 8[8]Koga R,and Kolasinski W.Heavy ion induced snapback in CMOS devices[J].IEEE Trans.Nucl.Sci.,1989,36(6):2367-2374
  • 9[9]Koga R,Penzin S,Crawford K,et al.Single event functional interrupt (SEFI) sensitivity in microcircuits[C]//IEEE RADECS,1997
  • 10[10]Adell P,Schrimpf R,Barnaby H,et al.Analysis of single-event transients in analog circuits[J].IEEE Trans.Nucl.Sci.,2000,47(6):2616-2623

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