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千兆位背板总线测试方法 被引量:1

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摘要 简要介绍了千兆位背板总线的一些关键问题;详细讨论了几种行之有效的千兆位背板总线测试方法,包括波形观测、误码率测试、眼图和时域反射计等;给出了一个实际的千兆位背板总线系统的测试结果.
出处 《电子技术应用》 北大核心 2000年第12期27-30,共4页 Application of Electronic Technique
  • 相关文献

参考文献5

  • 1[1]John Novellino.High-Speed Circuits Require Special Test Techniques. Electronic Design 1995431571~80
  • 2[2]Craig PruntyTom Palkert.Serial Backplanes Transport Designers To The Analog Zone.Electronic Design19991979~86
  • 3[3]Howard W. Johnson Martin GrahamHigh-Speed Digital DesignA Handbook of Black MagicPrentice Hall PTR [1993]
  • 4[4]Time Domain Reflectometry Theory.Hewlett Packard Company. Application Note 1304-21998
  • 5[5]Kenneth M. True.Long Transmission Lines and Data Signal Quality. National Semiconductor Corporation Appli- cation Note 8081992

引证文献1

二级引证文献3

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