摘要
采用近空间升华法在FTO玻璃衬底上制备CdZnTe多晶厚膜,并采用扫描电镜(SEM)、能谱仪(EDS)、X射线衍射仪(XRD)、紫外-可见光谱仪、I-V测试仪等对CdZnTe厚膜的表面形貌、成分、结构以及光电性能进行分析表征。结果表明,所制备的CdZnTe膜均匀致密,随生长时间的延长,晶粒尺寸明显增大;不同厚度的CdZnTe膜均表现出沿(111)晶面的择优生长;CdZnTe厚膜的禁带宽度在1.53～1.56eV之间;电阻率在1010Ω.cm数量级,具有较好的光电响应,试制的薄膜探测器可用作计数型探测器。
Polycrystalline CdZnTe thick films were deposited on glass substrates via close-spaced sublimation （CSS） technique. The morphology, composition, micro-structure, optical and electrical properties of CdZnTe thick films were investigated by SEM, EDS, XRD, UV spectrophotometer and I-V measurements. It is found that the grains are uniform, also, the grain sizes increase significantly with increasing deposition time. The XRD results show that all the thick films possess cubic structure, and tend to grow along the orientation of （111） face. The optical energy gap of all the thick films are in the region of 1.53-1.56eV. The resistivity of the films are 10^10Ω cm orders of magnitude, and have good optical response. It can be used for counting detectors.
出处
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第23期3322-3324,3328,共4页
Journal of Functional Materials
基金
国家自然科学基金资助项目(50902113
50902114)
教育部新世纪优秀人才支持计划基金资助项目(NCET-10-0076)
国家重大科学仪器设备开发专项基金资助项目(2011YQ040082)
关键词
近空间升华法
CdZnTe厚膜
薄膜探测器
光电性能
closed-spaced sublimation
CdZnTe thick film
thin film detector
photoelectric properties
作者简介
苏虹（1989-），女，江苏张家港人，在读硕士，师承查钢强副教授，从事光电信息功能材料研究。
通讯作者：查钢强
