摘要
本文利用EBSD技术研究涂层导体用的第二代高温超导镍钨合金基带的显微组织、平均晶粒尺寸、各织构组分含量、取向差分布和特殊晶界(CSL)等。并通过EBSD技术获得缓冲层的显微组织、旋转立方织构含量。
EBSD techniques have played an irreplaceable important role on the research of second generation（2G） superconductors.The EBSD technique was used to analyze the microstructure,average grain size,texture components content,misorientation distribution and grain boundaries（CSL） of nickel-tungsten substrates.In the meanwhile,the microstructure and rotate cube texture content information of buffer layer were measured by EBSD techniques.
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第4期403-407,共5页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
基金
中央高校基本科研业务费科研专项"研究生科技创新基金"资助项目(CDJXS10131156)
关键词
EBSD
涂层导体
镍钨基带
立方织构
EBSD
coated conductors
nickel-tungsten substrates
cube texture
作者简介
尚都（1984-），男（汉族），在读研究生.E-mail：xiaoshanlg208@163.com
通讯作者：陈兴品（1970-），男（汉族），副教授．E—mail：xpchen@cqu．edu．cn
