期刊文献+

对数正态分布下基于MLE的红外LED的寿命预测 被引量:4

Life Prediction for Infrared LED Based on MLE under Lognormal Distribution
在线阅读 下载PDF
导出
摘要 为了获得红外LED的寿命信息,采用对数正态分布函数描述了红外LED的寿命分布,利用极大似然法(MLE)估计了对数均值和对数标准差,完成了恒定及步进应力实验数据的统计和分析,并自行开发了寿命预测软件。数值结果表明,红外LED的寿命服从对数正态分布,其加速模型符合逆幂定律。精确计算的加速参数使得快速估算红外LED寿命成为可能。 In order to acquire the life information of infrared LED,the lognormal distribution function was applied to describe the life distribution,the maximum likelihood estimation(MLE) was employed to estimate the mean value and the standard deviation of logarithm,and the statistics and analysis on constant stress and step stress test data were achieved.Furthermore,the predicted-life software was self-designed.The numerical results show that the infrared LED life is characterized by lognormal distribution,and the accelerated model meets the inverse power law.The acceleration parameters,which were accurately calculated,enable rapid estimation of infrared LED life.
出处 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2011年第1期68-72,共5页 Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays
基金 新型显示技术及应用集成教育部重点实验室(上海大学)资助项目(No.P201002) 上海市科委项目(No.10dz1140206) 上海市自然科学基金(No.09ZR1413000) 上海市教育委员会科研创新项目(No.11ZZ172 No.11ZZ171) 上海市教委重点学科(第五期)G51304 上海市教委第三期本科教育高地建设项目
关键词 红外LED 寿命预测 对数正态分布 MLE infrared LED life prediction lognormal distribution MLE
作者简介 Email:jpzhanglzu@163.com 张建平(1972-),男,江苏南京人,博士后,教授,主要从事机电产品的寿命可靠性与性能仿真、电磁除尘技术、新能源装置中关键部件的力学行为分析等方面的研究。
  • 相关文献

参考文献7

二级参考文献28

共引文献35

同被引文献25

  • 1张建平.基于LSM的红外LED加速寿命试验数据的统计分析[J].半导体光电,2005,26(2):92-96. 被引量:5
  • 2金玲.GaAs红外发光二极管加速寿命试验[J].半导体光电,1995,16(1):77-81. 被引量:15
  • 3闫冬.单片机系统硬件抗干扰常用方法[J].集成电路通讯,2006,24(4):20-22. 被引量:6
  • 4周跃平,郭霞,王海玲,高国,沈光地.GaN基发光二极管寿命测试及失效分析[J].半导体光电,2007,28(3):345-348. 被引量:8
  • 5Anon. Light curtain protects machinists[ J]. Institution of Me- chanical Engineers ,2006,14(6) :48-49.
  • 6Karotki A, Kruk M, Drobizhev M, et al. Efficient singlet oxygen generation upon two-photon excitation of new porphyrin with enhanced nonlinear absorption [ J ]. IEEE J. Selected Topics in Quantum Electron,2001 (7) :971-975.
  • 7Miller C C, Zong Yuqiu, Ohno Y. LED photometric calibrationsat the National Institute of Standards and Technology and fu- ture measurement needs of LEDs [ J ]. Proc. Of SP1E , 2004, 5530:69-79.
  • 8GB/2689.1-1981,恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则[S].
  • 9YAMAKOSHI S, HASEGAWA O, HAMAGUCHI H, et al. Degradation of high-radiance AIGaAs LED [ J ]. Applied Physics Letters, 1977, 31 (9) : 626 -628.
  • 10YAMAKOSHI S, ABE M, WADA O, et al. Reliability of high radiance InGaAsP/lnP LED in 1.2 - 1.3 μm wavelength [ J]. IEEE Journal of Quantum Electronics, 1981, 17 (2): 186-187.

引证文献4

二级引证文献12

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部