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基于ARM和FPGA的CCD低噪声测量系统的设计 被引量:4

Low-noise CCD measuring system design based on ARM and FPGA
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摘要 传统的电荷耦合器件(CCD)测量系统,在精度和噪声控制方面都无法满足现代测量的要求。讲述了用ARM为主要控制单元,以FPGA作为时序发生器,同时使用带相关双采样的AD和异步的先进先出(FIFO)存储器来组成一种新型测量系统。并且重点介绍FPGA配合ARM怎样完成高效、灵活的实时采集和传输。并通过单缝衍射实验来验证本系统的高精度和高稳定性。 The traditional charge-coupled device(CCD) measurement systems are unable to satisfy the requirements of modern measurement in the aspect of precision and noise control.This paper describes using ARM as the main control unit,utilize FPGA as a timing generator,while the use of AD with a correlated double sampling and asynchronous FIFO(FIFO)memory to form a new measurement system.And highlight how the FPGA with ARM to complete an efficient,flexible real-time acquisition and transmission.Through the single-slit diffraction experiment to verify the system's precision and high stability.
出处 《电子测量技术》 2010年第3期64-66,71,共4页 Electronic Measurement Technology
基金 重庆大学大学生科研训练计划资助项目
关键词 CCD ARM FPGA 单缝衍射 CCD ARM FPGA single-slit diffraction
作者简介 尹刚,男,1986年1月出生,工学硕士,硕士研究生,主要研究方向光学工程。E-mail:yg—gn@139.com
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