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基于MCU和LabVIEW的深低温温度循环系统

Cryogenic Thermal Cycle System Based on MCU and LabVIEW
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摘要 采用控制和测试分离的方式对中科院上海技术物理研究所研制的深低温温度循环设备进行改进,由单片机(MCU)完成对步进电机和自动输液氮装置的控制,由NI数据采集卡和LabView编程来完成被测红外探测器的温度测试以及探测器各光敏元电阻的监测,这种设计方法不仅增加了对数十个光敏元电阻的自动监测功能,而且极大地了增强了深低温温度循环设备的稳定性。 In order to improve the thermal cycle equipment(TCE) developed by Shanghai Institute of Technical Physics of Chinese Academy of Science, a new scheme is put forward. In the scheme, the step motor and liquid nitrogen feed are controlled by MCU. Furthermore, the temperature of IR detectors and the resistance of photosensor are tested by NI DAQ and LabVIEW program. In this way, not only the resistance of dozens of photosensors can he monitored, but also the stability of TCE is enhanced.
出处 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2010年第1期140-143,147,共5页 Semiconductor Optoelectronics
基金 宁波大学王宽诚幸福基金资助项目
关键词 红外探测器 MCU 数据采集 深低温 温度循环 IR detector MCU DAQ cryogenic thermal cycle
作者简介 吴礼刚(1976-),男,湖北广水人,硕士毕业于华中科技大学光电系,博士毕业于中科院上海技术物理研究所,目前主要从事光电探测器和光机电一体化设备等方面的研究。E-mail:wg21c@sina.com
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