摘要
本文利用纳米操纵仪结合扫描电子显微镜系统对单壁碳纳米管进行在线操纵,在此基础上,通过外接的半导体参数测量系统,可以测量单壁碳纳米管的电学性能。此外,通过纳米操纵手对碳纳米管施加外电场,还可以改变二氧化硅表面单壁碳纳米管的扫描电子显微镜成像。
Manipulation of single walled carbon nanotubes（SWNTs） by a nano-manipulator attached to a scanning electron microscope（SEM） and in situ measurement of SWNT-based field effect transistor（FET） have been demonstrated.It was also observed that the imaging of SWNT on SiO2 substrate can be affected by the voltage applied on the substrate through the nano-manipulator.
出处
《材料科学与工程学报》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第5期789-792,共4页
Journal of Materials Science and Engineering
基金
国家自然科学基金资助项目(50772076)
作者简介
董幼青（1981-）,女，硕士，从事纳米材料研究。E-mail：yqdong@wzu．edu．cn。
通讯作者：黄少铭（1965-），男，E-mail：smhuang@wzu.edu.cn。
