摘要
采用高浓度硫酸对椰壳活性炭(AC)和杏壳活性炭(LAPC)进行液相氧化改性处理,分别得到ACN和LAPCN两样品。在质量浓度为30%的KOH电解液中,50mA/g电流密度下,氧化后的椰壳炭和杏壳炭的质量比电容与未氧化样品相比增幅均在35%以上。运用低温N2吸附、XPS表征表面性质。结果表明,高浓度H2SO4处理会降低材料比表面积和孔容,而对灰分含量和孔径分布的影响很小,且材料表面氧含量也提高了。因此,含氧官能团的增多,由其产生的赝电容随之增大,进而提高了材料的电容性能。
出处
《科技创新导报》
2009年第15期103-103,共1页
Science and Technology Innovation Herald
