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低信膜比条件下金膜电极电位溶出分析法研究 被引量:2

Potentiometric Stripping Analysis with a Thin Film Gold Electrode under Small Ratios of Signal to Thickness Square
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摘要 推导并验证了信号与金膜厚度的比值较小(即低信膜比)时金膜电极电位溶出分析法的过渡时间方程式和电位时间方程式。实验确定的理论式的应用条件为τ/l2≤58×1010s/cm2,并发现当扩散路径约为扩散层厚度的3倍时,便可按半无限扩散条件处理扩散问题。从而解决了利用小信号进行金膜电极电位溶出基本问题,即信号与浓度的定量关系。 Transition time equation and potential_time equation describing the potentiometric stripping processes on a thin gold film electrode(TFGE)are presented. The equations were verified experimentally under the condition that the ratio of signal to the square of film thickness τ/l2≤58×10 s·cm-2. It was found that the diffusion process can be treated as semi_infinite, provided the diffusion path is approximately three times of the diffusion layer thickness. Thus, the basic problem of handling small signals with gold_film electrode stripping has been solved. In other words, a quantitative relationship between the signal and metal concentration has been established.
出处 《分析测试学报》 CAS CSCD 1998年第3期13-17,共5页 Journal of Instrumental Analysis
关键词 金膜电极 半无限扩散 扩散层厚度 电位溶出分析 Potentiometric stripping analysis, Gold film electrode, Diffusion layer thickness, Semi_infinite diffusion
  • 相关文献

参考文献6

二级参考文献6

  • 1《分析试验室》1987年总目录[J]分析试验室,1987(12).
  • 2方禹之,何品刚,金利通.间断多次扫描电位溶出分析方法的研究[J]化学学报,1987(06).
  • 3阮湘元.电位溶出分析法理论公式的改进处理方法[J]化学学报,1987(05).
  • 4张寿松,杨洁.用电位溶出法研究逐级络合物[J]分析化学,1983(08).
  • 5张祖训,周琦.电位溶出分析法的理论和验证[J]化学学报,1983(05).
  • 6阮湘元,周端赐.悬汞电极电位溶出分析法研究[J].高等学校化学学报,1987,8(7):592-594. 被引量:2

共引文献5

同被引文献94

引证文献2

二级引证文献18

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