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BESⅢMuon鉴别器电子学系统的VME控制/扇出插件的设计和测试 被引量:2

The design and test of VME Control/Fanout module of Muon Counter Electronics System of BESIII
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摘要 本文介绍了BESIII Muon鉴别器读出电子学系统的VME控制/扇出插件的设计,其中包括插件的功能和结构,插件上FPGA逻辑的设计等。插件在制作和调试完成后,进行了相关功能和稳定性的测试。 This paper describes the design of the VME Control/Fanout module of Muon counter in ;BESⅢ, including the function and the structure of the module, the logic design of the FPGA on the module. After the making and debugging of the module, some tests have been made to check its function and stability.
出处 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第3期560-562,共3页 Nuclear Electronics & Detection Technology
关键词 BESⅢ MUON鉴别器 VME FPGA 控制/扇出插件 BESⅢ Muon counter VME FPGA Control/Fanout module
作者简介 程泽浩(1981-),男,中国科学技术大学近代物理系物理电子学专业博士研究生。
  • 相关文献

参考文献3

  • 1American National Standard for VME64. VMEbus International Trade Association.
  • 2Cyclone Device Handbook. Altera Corporation.
  • 3薛俊东.BESIIIμ子鉴别器前端数据读出技术研究[D],中国科学技术大学博士学位论文.

同被引文献5

引证文献2

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