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电力电子硅器件有机保护材料及界面特性的研究
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摘要
根据高压硅器件表面有机介质绝缘保护的特点,结合电镜分析手段,实验研究了高压硅pn结的有机SP硅漆-硅pn结界面,有机硅JUS-Si界面特性,并根据他们的分子结构式,反应类型,以及应用中交联度等几个方面区别,进行了分析讨论,同时也对材料的电气性能进行了试验比较。
作者
张峰
机构地区
上海交通大学
出处
《绝缘材料通讯》
1997年第3期24-26,共3页
关键词
高压硅
有机保护材料
PN结
半导体器件
试验
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
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绝缘材料通讯
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